隨著芯片進入汽車,云計算和工業物聯網的市場,IC的可靠性也成為開發人員關注的點,事實也證明,隨著時間推移,芯片想要達到目標的功能也會變得越來越難實現。
在過去那些專為手機和電腦設計的芯片可以在高性能下正常使用2年到四年,兩年到四年后,芯片功能開始下降。
但是隨著芯片投入到新的市場和過去不太成熟的電子產品市場,這將不再是個簡單的問題。
每個終端市場都具有獨特的需求,對于IC的使用方法和條件也不相同。而芯片的使用方法和條件對老化安全等問題,產生更大影響。影響芯片的質量因素相比之前更多。
芯片由始至終都在運行,IC內部的模塊也在一直加熱,這就導致了老化加速,或許這會帶來各種未知的問題。
所以芯片設計公司都會在芯片出廠前進行芯片加速老化測試(HAST)從而篩選測試更好的良片投放市場。
凱智通芯片HAST老化測試座的特點
1、采用開模Socket+探針的結構,精度高,測試穩定,同時大大降低設計、加工成本,降低了使用費用;
2、根據實際測試情況,選用不同探針,可以對IC進行有錫球無錫球不同測試;
3、外帶散熱片解決高功率元器件散熱問題;
4、安裝方便,無需焊接,有Open-top/翻蓋結構,適合手動/自動操作;
5、交期快,最快1天交貨,提高使用效率;
規格:
1、材料:PES/LCP/PPS
2、適用IC尺寸:≤ 36x36mm
3、適用間距: ≥ 0.35mm
4、結構:Open-top/翻蓋
5、接觸方式:探針
6、工作溫度:-55°C~+200°C
審核編輯 黃宇
-
IC
+關注
關注
36文章
6098瀏覽量
178452 -
老化測試
+關注
關注
2文章
43瀏覽量
13204
發布評論請先 登錄
PCS老化測試是否會產生磁場?
臭氧老化試驗箱:材料老化測試的關鍵設備

老化試驗箱:加速集成電路壽命評估的關鍵設備與技術全覽

艾德克斯IT2700在電源管理芯片老化測試中的應用

如何選擇適合的交流回饋老化測試負載
IC芯片老化測試以及方案詳解

耐久性測試:氙燈加速老化測試

LED如何做老化測試

TAS5805M有相關的老化測試報告嗎?需要在什么條件下做老化測試,有什么建議嗎?
交流充電樁智能老化測試架介紹

判斷一臺工業平板電腦是否合格的標準通常需要做哪些產品測試?
多通道老化電流測試解決方案

評論