在集成電路研發中，傳統自然老化測試需耗時數年，無法匹配產品快速迭代需求。老化試驗箱通過模擬高溫、高濕、紫外輻照等極端環境，將數年老化過程壓縮至數百小時，成為加速芯片壽命評估的核心工具。例如，某AI芯片需在5年內保持99.99%可靠性，通過85℃/85% RH高溫高濕試驗箱加速測試1000小時，即可等效模擬5年使用損耗。

一、設備分類與技術特點：精準模擬多樣老化場景

根據測試需求，老化試驗箱可分為兩大主流類型：

1、高溫老化箱

1.1、核心技術：

? 恒溫控制：PID算法+多區加熱絲布局，溫度均勻性≤2.0℃(GB/T 2423.2標準)。

? 濕度控制：加濕+冷凝除濕雙系統，濕度波動≤±3% RH。

1.2、設備創新設計：

? 分層托盤結構，支持1000片芯片并行老化測試。

? 防靜電涂層內膽(表面電阻≤10?Ω)，避免敏感器件損傷。

2、紫外/臭氧老化箱

2.1、核心技術：

? 光源類型：UVA-340(模擬太陽光紫外波段)、UVB-313(加速材料脆化)。

? 輻照強度：0.5~1.5 W/m?可調，支持光照-冷凝-黑暗多模式循環。

2.2、設備創新技術：

? 臭氧濃度自動補償系統(0~500 ppm精準控制)。

? 石英燈管壽命≥5000小時(行業平均水平僅3000小時)。

二、核心參數：量化老化效能的四大維度

1、溫度與濕度范圍

? 高溫老化：RT+10℃~300℃(可定制500℃超高溫機型)，濕度20%~98% RH。

? 紫外老化：光照溫度50℃~90℃，冷凝溫度40℃~60℃。

2、循環能力與數據記錄

? 循環次數：連續運行≥5000小時無衰減，支持1000段程序編程。

? 數據記錄：實時記錄溫度、濕度、輻照強度等參數，生成PDF/Excel報告(符合ISO 17025標準)。

三、應用案例：從材料到器件的全鏈條驗證

1、封裝膠材耐候性測試

? 問題背景：有機硅封裝膠在濕熱環境下易發生水解反應，導致絕緣性能下降。

? 測試方案：85℃/85% RH條件下老化1000小時，每24小時測量體積電阻率(ASTM D257標準)。

2、芯片表面涂層抗UV老化驗證

? 問題背景：LED芯片表面熒光涂層在戶外紫外線照射下易發黃、光效衰減。

? 測試方案：UVB-313光源(1.0 W/m?)照射500小時，每100小時測試色坐標(CIE 1931標準)。

3、車載芯片高溫耐久性評估

? 測試標準：AEC-Q100 Grade 1(125℃/1000小時老化)。

? 測試方案：定制雙85試驗箱(溫度均勻性±0.3℃)，支持老化過程中實時通電測試。

四、維護策略：延長設備壽命的三大關鍵

1、燈管與傳感器維護

? 紫外燈管：每5000小時更換(輻照強度衰減至80%時強制更換)。

? 溫濕度傳感器：每12個月校準(依據JJF 1101-2019規范)。

2、系統清潔與耗材更換

? 加濕水箱：每周清洗防止水垢堵塞(推薦使用去離子水)。

? 空氣過濾器：每月更換(粉塵環境需縮短至2周)。

3、軟件與安全檢測

? 系統升級：每季度更新控制軟件，修復潛在BUG。

? 安全聯鎖：每月測試門禁開關、過溫保護功能。

廣東貝爾老化試驗箱憑借精準控溫、長壽命設計、智能化數據管理等核心優勢，已服務于多家企業，累計完成超50萬小時老化測試。無論是消費電子、汽車電子還是航空航天領域，我們致力于為客戶提供 從材料篩選到量產驗證的全流程老化解決方案。