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AND GATE的clock gating check簡(jiǎn)析

冬至子 ? 來(lái)源:數(shù)字成長(zhǎng)之路 ? 作者:Alice ? 2023-06-29 15:28 ? 次閱讀

Gating Cell

一個(gè)cell的一個(gè)輸入為clock信號(hào),另一個(gè)輸入為gating信號(hào),并且輸出作為clock使用,這樣的cell為gating cell。圖1中的and gate為gating cell。

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圖1 gating cell

其中這個(gè)clock信號(hào)需要穿過(guò)gating cell,并且gating cell的fanout需要滿足以下任意一點(diǎn):1. 連接到register的ck pin;2. 連接到output pin或inout pin;3. 作為generated clock的master clock。gating信號(hào)不能是clock,或者是一個(gè)clock,但是不能穿過(guò)gating cell。圖2中CLKA與CLKB均為clock,但是and gate的輸出端定義了generated clock,master clock是CLKA,CLKB不會(huì)穿過(guò)and gate,這種情況下,PT工具會(huì)對(duì)and gate進(jìn)行clock gating check。

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圖2 兩個(gè)clock輸入的gating cell

AND GATE的clock gating check

在and gate與nand gate上,PT工具會(huì)進(jìn)行active-high clock gating check, gating信號(hào)為高時(shí),clock能通過(guò)gating cell;同時(shí)gating信號(hào)的變化需要在clock信號(hào)為低時(shí)進(jìn)行,否則將會(huì)產(chǎn)生glitch。下面將會(huì)對(duì)and gate作為gating cell的timing關(guān)系進(jìn)行分析。

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圖3 gating cell為and gate

由圖4可以看出,UAND0的gating信號(hào)需要在CLKB為低時(shí)變化。即UAND/A的信號(hào)的變化窗口為5-10ns, clock gating setup check時(shí)需要UAND0/A在CLKB上升沿之前變,clock gating hold check時(shí)需要UAND0/A在CLKB下降沿之后變。PT工具在進(jìn)行setup/hold gating check時(shí),如果library中沒有定義gating cell的setup和hold time,工具會(huì)將setup與hold設(shè)置為0。我們也可以使用set_clock_gating_check指令設(shè)置setup與hold值。圖5與圖6分別是clock gating check setup與hold的timing報(bào)告。由于UAND0/A變得太快,在CLKB為高時(shí)變化,hold gating check有violation。

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圖4 上升沿產(chǎn)生gating信號(hào)時(shí)序圖

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圖5 上升沿產(chǎn)生gating信號(hào)setup check report

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圖6 上升沿產(chǎn)生gating信號(hào)hold check report

如果UDFF0采用下降沿觸發(fā),如圖7~圖10,setup與hold gating checks都能滿足要求。

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圖7 gating 信號(hào)下降沿產(chǎn)生

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圖8 下降沿產(chǎn)生gating信號(hào)時(shí)序圖

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圖9 下升沿產(chǎn)生gating信號(hào)setup check report

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圖10 下升沿產(chǎn)生gating信號(hào)hold check report

OR GATE的clock gating check

or gate與nor gate上PT工具會(huì)進(jìn)行active-low clock gating check, gating信號(hào)為低時(shí),clock能通過(guò)gating cell;同時(shí)gating信號(hào)的變化需要在clock信號(hào)為高時(shí)進(jìn)行,否則將會(huì)產(chǎn)生glitch。下面將會(huì)對(duì)or gate作為gating cell的timing關(guān)系進(jìn)行分析。如圖11~圖14,UDFF0是上升沿觸發(fā)寄存器,使用or gate作為gating cell, setup與hold gating check均滿足timing要求。

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圖11 gating cell為or gate

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圖12 gating cell為or gate時(shí)序圖

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圖13 or gate setup gating check report

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圖14 or gate hold gating check report

Clock Gating with a MUX

PT工具識(shí)別到and gate與or gate這種簡(jiǎn)單功能的cell為gating cell時(shí),會(huì)自動(dòng)進(jìn)行clock gating check。但是像mux或者xor這種復(fù)雜功能的cell,PT工具會(huì)給出一個(gè)warning, no clock gating check inferred。除非我們?cè)O(shè)置set_clock_gating_check指令。如果設(shè)置了指令, cell不符合gating cell的功能,PT工具也會(huì)給出一個(gè)warning。

圖15中,CLKA與CLKB是周期為10,duty cycle為50%的時(shí)鐘,當(dāng)UMUX0/S變化時(shí),需要保證CLKC已經(jīng)關(guān)上了,CLKB處于低。類似active-high clockgating check。我們不關(guān)心的pin,UMUX0/I1,可以將clock gating check關(guān)掉。圖17~圖18為mux setup/hold gating check report。

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圖15 mux做gating cell

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圖16 mux切換時(shí)序

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圖17 mux setup gating check report

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圖18 mux hold gating check report

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