隨著高速光通信發展，光器件種類多、迭代快，對測量儀要求更高。而在新興平面光波導和硅光芯片領域，其對儀表測量的精確性、穩定性和操作便利性等各方面提出了前所未有的挑戰，由此昊衡科技，發布了國產多功能光矢量分析儀（OCI-V）。近年昊衡科技不斷吸納市場反饋意見，專注設備創新升級，優化設備性能，致力于給客戶提供更優質的產品。

昊衡科技作為國產光矢量分析儀制造商，現推出損耗80dB高動態范圍測試選項。

圖1.60dB動態范圍

圖2.80dB動態范圍

OCI-V是一款快速檢測光學器件損耗、色散和偏振等相關參數的光矢量分析系統。其原理是采用線性掃頻光源對待測器件進行掃描，并結合相干檢測技術獲取待測器件的瓊斯矩陣，進而獲得器件插損、色散、偏振相關損耗、偏振模色散等光學參數。該系統采用獨特光路設計以及先進算法，實現智能校準，操作簡單，極大節省測試時間。

產品應用

平面波導器件、硅光器件、光纖器件、波長可調器件、放大器、濾波器

你可能想了解

偏振相關損耗PDL、偏振模色散PMD、插損IL、群延時GD、色散CD、瓊斯矩陣參數、光學相位