以白光干涉測量技術為基礎的三維光學輪廓儀對產(chǎn)品進行高品質(zhì)監(jiān)控時不需要取下產(chǎn)品或停止生產(chǎn)，而且采用的是非接觸式光學測量，在獲得實時數(shù)據(jù)的同時，不會對產(chǎn)品造成任何損傷，從而有效節(jié)約了生產(chǎn)成本，提高了生產(chǎn)效率，并且在線檢測，沒有滯后性，從而減少不合格品，對表面缺陷檢測亦如此。

輪廓分析步驟介紹：
1.將樣品放置在載物臺鏡頭下方；
2.檢查電機連接和環(huán)境噪聲，確認儀器狀態(tài)；
3.使用操縱桿調(diào)節(jié)Z軸，找到樣品表面干涉條紋；
4.微調(diào)XY軸，找到待測區(qū)域，并重新找到干涉條紋；
5.完成掃描設置和命名等操作；
6.點擊開始測量（進入3D視圖窗口旋轉調(diào)整觀察一會）；
7.臺階樣品分析第一步：校平；
8.進入數(shù)據(jù)處理界面，點擊“校平”圖標，和平面樣品不同，臺階樣品需手動選取基準區(qū)域，選好基準區(qū)域后，先“全部排除”再“包括”；
9.若樣品表面有好幾處區(qū)域均為平面且高度一致，可多選擇幾個區(qū)域作為基準面進行校平；
10.臺階高度測量：線臺階高度測量
11.進入分析工具界面，點擊“臺階高度”圖標，即可直接獲取自動檢測狀態(tài)下的面臺階高度相關數(shù)據(jù)；
12.在右側點擊“手動檢測”，根據(jù)需求選擇合適的形狀作為平面1和平面2的測量區(qū)域，數(shù)據(jù)欄可直接讀取兩個區(qū)域的面臺階高度數(shù)值；
13.臺階高度測量：線臺階高度測量
14.進入數(shù)據(jù)處理界面，點擊“提取剖面”圖標，使用合適方向的剖面線，提取目標位置的剖面輪廓曲線；
15.進入分析工具界面，點擊“臺階高度”圖標，由于所測為中間凹槽到兩側平面高度，因此點擊右側工具欄，測量條對數(shù)選擇“2”，將紅色基準線對放置到凹槽平面中間，兩對測量線對分別放置在兩側平面，即可在數(shù)據(jù)纜讀取臺階高度數(shù)據(jù)。

粗糙度分析操作步驟：
1.將樣品放置在夾具上，確保樣品狀態(tài)穩(wěn)定；
2.將夾具放置在載物臺上；
3.檢查電機連接和環(huán)境噪聲，確認儀器狀態(tài)；
4.使用操縱桿調(diào)節(jié)三軸位置，將樣品移到鏡頭下方并找到樣品表面干涉條紋；
5.完成掃描設置和命名等操作；
6.點擊開始測量（進入3D視圖窗口旋轉調(diào)整觀察一會）；
7.進入數(shù)據(jù)處理界面，點擊“去除外形”，采用默認參數(shù)，點擊應用獲取樣品表面粗糙度輪廓；
8.進入分析工具模塊，點擊參數(shù)分析，直接獲取面粗糙度數(shù)據(jù)，點擊右側參數(shù)標準可更換參數(shù)標準，增刪參數(shù)類型；
9.如果想獲取線粗糙度數(shù)據(jù)，則需提取剖面線；
10.進入數(shù)據(jù)處理界面，點擊“提取剖面”圖標，選擇合適方向剖面線進行剖面輪廓提?。?br />11.進入分析工具界面，點擊“參數(shù)分析”圖標，點擊右側參數(shù)標準，勾選所需線粗糙度相關參數(shù)，即可獲取線粗糙度Ra數(shù)據(jù)。