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后摩爾時代,半導(dǎo)體測試的挑戰(zhàn)與良策

漢通達 ? 2022-04-09 10:38 ? 次閱讀

驅(qū)動半導(dǎo)體工業(yè)發(fā)展的動力是什么?是人們對自然學(xué)習(xí)語言、人工智能自動駕駛視頻監(jiān)控、增強/虛擬現(xiàn)實、5G通信、個人醫(yī)療、可再生能源以及智能電網(wǎng)的需求。表面上看,這些需求五花八門,但透過現(xiàn)象看本質(zhì)后,我們可以驚奇地發(fā)現(xiàn)他們存在許多共同點,比如數(shù)以億計的計算能力、無線網(wǎng)絡(luò)的擴展能力、高效的能源管理能力,以及多維感知的能力。而實現(xiàn)這些系統(tǒng)級能力的基礎(chǔ)是關(guān)鍵器件的性能升級,比如處理器的堆核升頻,網(wǎng)絡(luò)的異質(zhì)互聯(lián),以及感知層的提精降耗等等。

后摩爾時代,半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)面臨變革

根據(jù)Omdia發(fā)布的數(shù)據(jù)顯示,目前半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)內(nèi)增長最快速的三個應(yīng)用領(lǐng)域分別為汽車處理、數(shù)據(jù)中心服務(wù)器處理和高級移動半導(dǎo)體領(lǐng)域,預(yù)計未來5年的增長率分別為16%、12%和7%。受高速、高算力和高帶寬需求的影響,這些應(yīng)用領(lǐng)域的處理器工藝制程已經(jīng)邁向新節(jié)點,達到了市場上最先進的5-7nm級別,預(yù)計到本世紀末將達到1nm的范疇。c3d61612-b760-11ec-82f6-dac502259ad0.jpg圖 | Fab 數(shù)字制程節(jié)點快逼近1nm工藝節(jié)點的提高不僅意味著產(chǎn)品面世周期的延長,成本的指數(shù)型增長,還面臨隨著單芯片集成度不斷提高、算力越來越密集、晶圓面積不斷增大后,良率和產(chǎn)量開始走下坡的挑戰(zhàn)。有數(shù)據(jù)表明,當(dāng)單芯片晶圓面積只有10 mm2時,良率可達70%以上,而當(dāng)單芯片晶圓面積增長到360 mm2時,良率已經(jīng)降至15%左右。所以業(yè)界開始尋求降本增產(chǎn),加速產(chǎn)品上市的方法。而以chiplet構(gòu)成的系統(tǒng)可以說是一個“超級”異構(gòu)系統(tǒng),給傳統(tǒng)的異構(gòu)SoC增加了新的維度。業(yè)內(nèi)專家稱,采用經(jīng)過充分測試和驗證的chiplet可以大大縮短產(chǎn)品的上市時間,降低芯片的研發(fā)成本。這樣做的好處是可以根據(jù)需要利用不同的制程節(jié)點來優(yōu)化目標(biāo)設(shè)計。根據(jù)統(tǒng)計數(shù)據(jù)顯示,單芯片面積同為360 mm2時,采用4顆小芯片的方案良率可從上述的15%提升至37%左右。c3edccf8-b760-11ec-82f6-dac502259ad0.png圖 | 與單片芯片相比,晶粒chiplet技術(shù)可實現(xiàn)更高的產(chǎn)量不過有一點是無論如何都避免不了的,那就是先進工藝節(jié)點下多樣的低核心電壓,以及功能堆疊下的峰值電流的增加,因此從處理器到應(yīng)用系統(tǒng),所需的電源管理系統(tǒng)也變得愈加復(fù)雜。總結(jié)下來就是,更強大的數(shù)據(jù)處理能力將拉動更高復(fù)雜性、更高性能的電源管理市場的發(fā)展。談到電源管理,我們不得不說一說當(dāng)前火熱的汽車電子市場。隨著汽車智能網(wǎng)聯(lián)、電動化趨勢的不斷發(fā)展,汽車電子成本占比將達到整車成本的50%,包括AI芯片、MCU傳感器、通信模塊、電池管理DC/DC電壓轉(zhuǎn)換器、牽引電機逆變器、車載充電器,以及其他系統(tǒng)的電氣化設(shè)備等,同時需求總量正呈現(xiàn)指數(shù)型攀升趨勢。此外,隨著汽車電動化和智能化的普及,新能源汽車的持續(xù)快速放量,電動汽車中的核心部件——功率半導(dǎo)體的需求量新增巨大。然而Si材料在經(jīng)歷了70年的開發(fā)后,到達了它的材料極限,傳統(tǒng)的IGBT和HVMOS在效率和功率密度上都存在不足。此時,擁有更快切換速度、溫漂損失小、功率密度更高、集成度更高的第三代半導(dǎo)體材料制成的SiC和GaN FET被搬上了汽車電子的舞臺,并將逐漸占領(lǐng)市場。

驅(qū)動半導(dǎo)體工業(yè)發(fā)展的動力,

正讓測試面臨挑戰(zhàn)

無論是云服務(wù)器、5G通信、人工智能還是汽車電動化智能化的發(fā)展,都會對半導(dǎo)體測試帶來挑戰(zhàn)。圖 | SoC測試示意圖比如SoC工作在多樣的低核心電壓(<1V)下,但整個系統(tǒng)的峰值電流又很高(10-100A),于是為了滿足這個趨勢的需求,業(yè)界開發(fā)出了低噪聲、高效率,被稱為負載電裝置的功率調(diào)節(jié)器。而這些器件在出廠前需要經(jīng)過更高水平的負載和過流測試,更低且更精確的導(dǎo)通電阻RDS(on)的測量。再比如電動汽車的BMS,通常單節(jié)電池的電壓范圍是3.6V-4.7V,所以其輸出和測量精度就要求在0.1mV左右。同時,在25個單元電池的監(jiān)控中,其浮地共模電壓要達到120V,以適應(yīng)在最高單元上運行高達120V的現(xiàn)代BMS設(shè)計,所以這是一種高共模電壓下的高精度電壓測量。值得一提的是,針對這些高電壓、大電流、高精度的測試,聯(lián)合儀器的源測量單元板卡UI-X6320是非常完善的。c41541ac-b760-11ec-82f6-dac502259ad0.png

UI-X6320是標(biāo)準(zhǔn)的3U PXI板卡,具有高精度V/I 源測功能,4個通道。所有通道都具有高精度的可編程電壓電流功能,電壓電流可以從–24V到+24V@1000mA。所有通道可以直接連到外部DUT上,連接器是25pin的D-Sub標(biāo)準(zhǔn)接口,包括4個force通道,4個sense通道和地。

UI-X6320可以用來構(gòu)建自動測試系統(tǒng),測試效率高,可以縮減硬件測試時間,軟件集成化高, 開發(fā)容易快.基于PXI架構(gòu), UI-X6320可以和其他板卡配合使用,比如 數(shù)字化儀, RF射頻模塊,頻譜分析儀模塊,數(shù)字功能模塊等搭建混合功能測試系統(tǒng),這種搭配使用采用的多核效率高,同時響應(yīng)快。另外Additionally, 這種模塊化,集成化多通道的功能,可以對多個器件進行并性測試,從而提高測試產(chǎn)量。

UI-X6320單張板卡,集成有電源功能,高精度源灌功能,以及讀寫快速響應(yīng)功能。這個高精度模塊可以實現(xiàn)高電壓同時電流測試,而且,在保持高精度的同時還具有高響應(yīng)速率和高采樣率,能快 速發(fā)送和快速測量,甚至可以通過波形 的方式表現(xiàn). 同時,板卡配置了繼電器,隔離效果好,有被測器件與測試板卡之間的隔離保護功能, 板卡具有remote sense功能,能夠進行測試中的校準(zhǔn)補 償,保護小信號完整性同時,減少漏電 流的產(chǎn)生,準(zhǔn)確度更高. 這些強大功能 能使得UI-X6320應(yīng)用到寬電壓需求應(yīng)用,例如研發(fā)測試,參數(shù)測試,功能測試, 量產(chǎn)測試,可以搭配測試RF,混合IC, ATE, 數(shù)據(jù)采集, 及控制系統(tǒng)等。

c43f96dc-b760-11ec-82f6-dac502259ad0.jpg

產(chǎn)品特點:

標(biāo)準(zhǔn)PXI總線產(chǎn)品

4通道,高精度V/Isource和measurement

支持電流源灌(四個象限)

FV/MI,FI/MV,FV/MU,FI,MI

+24V/-24V電壓量

6個可選測流量程,從5uA到1000mA

16位加壓加流精度

18位測壓測流精度

可編程鉗位電流功能

同步采集功能

繼電器關(guān)閉狀態(tài),測試板和DUT間隔離性能好

可選外部供電

目標(biāo)應(yīng)用:

半導(dǎo)體測試

ASICstestin

ATE數(shù)字測試

LED/ 激光二極管

寫在最后

我們生活在一個有趣的時代,半導(dǎo)體技術(shù)的未來及其在我們共同的未來中將扮演的角色從未如此令人興奮。今天的半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)正在經(jīng)歷轉(zhuǎn)型,業(yè)務(wù)增長不再由數(shù)量或單位數(shù)量驅(qū)動,而開始關(guān)聯(lián)更多的復(fù)雜性和終端市場層面的多種技術(shù)集成。這些新興因素對未來的設(shè)計和制造設(shè)備提出了一系列新的挑戰(zhàn),比如云、AI處理器、邊緣處理器、有線電源轉(zhuǎn)換和電信基礎(chǔ)設(shè)施的新生和變化,而正是這些變化讓我們保持在陡峭的學(xué)習(xí)曲線上。漢通達團隊希望與您一同踏上這段有趣的成長旅程,當(dāng)您遇到測試挑戰(zhàn)時,歡迎聯(lián)系漢通達,在合作中實現(xiàn)共贏。

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