這種簡(jiǎn)單的電路測(cè)試儀可用于檢測(cè)組裝電路板或PCB內(nèi)的短路，異常電阻條件，連續(xù)性斷裂等。指示將通過可聽見的蜂鳴器聲音或 LED照明。所描述的設(shè)計(jì)都非常安全，即使與可能具有高度敏感或易受攻擊的電子元件的 PCB 一起使用也是如此。

電子電路PCB的被動(dòng)測(cè)試似乎是一項(xiàng)簡(jiǎn)單的工作。您只需要一個(gè)歐姆表。然而，使用歐姆表檢查帶有半導(dǎo)體的電路板通常可能不是一個(gè)明智的決定。儀表的輸出電流可能會(huì)損壞半導(dǎo)體結(jié)。

下面介紹的第一個(gè)電路是基于晶體管的測(cè)試儀，非常容易開發(fā)，并且具有良好的安全優(yōu)勢(shì)，因?yàn)樗奶筋^對(duì)被測(cè)電路產(chǎn)生的電流不超過50μA。

因此，它可以安全地用于對(duì)大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)IC和半導(dǎo)體（如MOS元件）進(jìn)行故障排除。

測(cè)試結(jié)果“指示器”實(shí)際上是一個(gè)小揚(yáng)聲器的形式，以確保在測(cè)試時(shí)，不必一直將視線轉(zhuǎn)移到測(cè)試設(shè)備而不是電路板上。

晶體管T1和T2的工作方式類似于基本的壓控低頻振蕩器，其以揚(yáng)聲器作為負(fù)載。振蕩器頻率取決于C1、R1、R4和被測(cè)探頭上外部電阻負(fù)載的電阻值。電阻R3成為T2的集電極電阻;C2的作用類似于R3的低頻去耦。

如前所述，測(cè)試儀永遠(yuǎn)不會(huì)損壞被測(cè)電路;然而，相反，包括二極管D1和D2可能很重要，以確保被測(cè)電路的電位不會(huì)對(duì)測(cè)試單元造成損害。

鑒于測(cè)試探針之間沒有任何功率關(guān)聯(lián)，電路不會(huì)拉動(dòng)任何電流。因此，電池壽命可能幾乎與其保質(zhì)期相當(dāng)

使用運(yùn)算放大器

以下段落介紹了另一種高精度和安全的電路板測(cè)試儀和故障跟蹤器。它基于運(yùn)算放大器的設(shè)計(jì)，使操作比以前的晶體管版本更加精確。

如前所述，在使用標(biāo)準(zhǔn)歐姆表測(cè)試電路連接連續(xù)性時(shí)，通常存在電阻器、半導(dǎo)體等的風(fēng)險(xiǎn)。從事測(cè)試，可能會(huì)導(dǎo)致給出錯(cuò)誤的讀數(shù)。此外，來自儀表的電流或電壓有時(shí)會(huì)導(dǎo)致電路部件損壞。

使用這種基于運(yùn)算放大器的電路測(cè)試儀概念如上所示，可以安全地消除所有這些缺點(diǎn)。

每當(dāng)探頭碰巧在電路板上互連兩點(diǎn)時(shí)，測(cè)試儀在其探頭上產(chǎn)生不超過 1 歐姆的電阻。

此外，由于測(cè)試器使用的電壓幾乎不是2

mV，這意味著在測(cè)試過程中沒有二極管，IC或任何此類脆弱組件參與結(jié)果。被測(cè)電路板上測(cè)試探針上可能出現(xiàn)的最大電流幅度為200

pA，這看起來太小了，不會(huì)對(duì)被測(cè)PCB造成任何問題。測(cè)試結(jié)果指示通過 LED 顯示。

如果該裝置被構(gòu)建為適合像筆一樣的外殼，那么它可以變得非常方便，并且整個(gè)裝置可以用作其中一個(gè)探頭，而其他探頭則夾在板上的其他地方。

一個(gè)缺點(diǎn)是需要兩個(gè)9V電池作為設(shè)備的電源。

所示預(yù)設(shè)用于調(diào)整運(yùn)算放大器的輸出失調(diào)。用戶必須調(diào)整預(yù)設(shè)的P1，使LED在探頭末端短路時(shí)亮起。相反，當(dāng)探頭打開時(shí)，LED

必須立即關(guān)閉。這將設(shè)置電路，僅當(dāng)探頭在被測(cè)PB上遇到幾乎短路的情況時(shí)，才會(huì)點(diǎn)亮LED。

為這個(gè)微小的PCB測(cè)試儀設(shè)計(jì)了一個(gè)非常緊湊和光滑的PCB， 可以通過下圖進(jìn)行研究。