女人自慰AV免费观看内涵网,日韩国产剧情在线观看网址,神马电影网特片网,最新一级电影欧美,在线观看亚洲欧美日韩,黄色视频在线播放免费观看,ABO涨奶期羡澄,第一导航fulione,美女主播操b

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

電源的9大可靠性測試

電源研發(fā)精英圈 ? 來源:電源研發(fā)精英圈 ? 作者:電源研發(fā)精英圈 ? 2022-04-02 10:45 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

010反復(fù)短路測試

測試說明:

在各種輸入和輸出狀態(tài)下將模塊輸出短路,模塊應(yīng)能實現(xiàn)保護(hù)或回縮,反復(fù)多次短路,故障排除后,模塊應(yīng)該能自動恢復(fù)正常運行。

測試方法:

a、空載到短路:在輸入電壓全范圍內(nèi),將模塊從空載到短路,模塊應(yīng)能正常實現(xiàn)輸出限流或回縮,短路排除后,模塊應(yīng)能恢復(fù)正常工作。讓模塊反復(fù)從空載到短路不斷的工作,短路時間為1s,放開時間為1s,持續(xù)時間為2小時。這以后,短路放開,判斷模塊是否能夠正常工作;

b、滿載到短路:在輸入電壓全范圍內(nèi),將模塊從滿載到短路,模塊應(yīng)能正常實現(xiàn)輸出限流或回縮,短路排除后,模塊應(yīng)能恢復(fù)正常工作。讓模塊從滿載到短路然后保持短路狀態(tài)2小時。然后短路放開,判斷模塊是否能夠正常工作;

c、短路開機(jī):將模塊的輸出先短路,再上市電,再模塊的輸入電壓范圍內(nèi)上電,模塊應(yīng)能實現(xiàn)正常的限流或回縮,短路故障排除后,模塊應(yīng)能恢復(fù)正常工作,重復(fù)上述試驗10次后,讓短路放開,判斷模塊是否能夠正常工作。

判定標(biāo)準(zhǔn):

上述試驗后,電源模塊開機(jī)能正常工作;開機(jī)殼檢查,電路板及其他部分無異?,F(xiàn)象(如輸入繼電器在短路的過程中觸電是否粘住了等),合格;否則不合格。

020反復(fù)開關(guān)機(jī)測試

測試說明:

電源模塊輸出帶最大負(fù)載情況下,輸入電壓分別為220v,(輸入過壓點-5v)和(輸入欠壓點+5v)條件下,輸入反復(fù)開關(guān),測試電源模塊反復(fù)開關(guān)機(jī)的性能。

測試方法:

a、輸入電壓為220v,電源模塊快帶最大負(fù)載,用接觸器控制電壓輸入,合15s,斷開5s(或者可以用ac source進(jìn)行模擬),連續(xù)運行2小時,電源模塊應(yīng)能正常工作;

b、輸入電壓為過壓點-5v,電源模塊帶最大負(fù)載,用接觸器控制電壓輸入,合15s,斷開5s(或者可以用ac source進(jìn)行模擬),連續(xù)運行2小時,電源模塊應(yīng)能正常工作;

c、輸入電壓為欠壓點-5v,電源模塊帶最大負(fù)載,用接觸器控制電壓輸入,合15s,斷開5s(或者可以用ac source進(jìn)行模擬),連續(xù)運行2小時,電源模塊應(yīng)能正常工作。

判斷標(biāo)準(zhǔn):

以上試驗中,電源模塊工作正常,試驗后電源模塊能正常工作,性能無明顯變化,合格;否則不合格。

030輸入低壓點循環(huán)測試

測試說明:

一次電源模塊的輸入欠壓點保護(hù)的設(shè)置回差,往往發(fā)生以下情況:輸入電壓較低,接近一次電源模塊欠壓點關(guān)斷,帶載時欠壓,斷后,由于電源內(nèi)阻原因,負(fù)載卸掉后電壓將上升,可能造成一次電源模塊處于在低壓時反復(fù)開發(fā)的狀態(tài)。

測試方法:

電源模塊帶滿載運行,輸入電壓從(輸入欠壓點-3v)到(輸入欠壓點+3v)緩慢變化,時間設(shè)置為5~8分鐘,反復(fù)循環(huán)運行,電源模塊應(yīng)能正常穩(wěn)定工作,連續(xù)運行最少0.5小時,電源模塊性能無明顯變化。

判定標(biāo)準(zhǔn):

一次電源模塊正常連續(xù)運行,最少0.5小時后性能無明顯變化,合格;否則不合格。

040輸入瞬態(tài)高壓測試

測試說明:

pfc電路采用平均值電路進(jìn)行過欠壓保護(hù),因此在輸入瞬態(tài)高壓時,pfc電路可能會很快實現(xiàn)保護(hù),從而造成損壞,測試一次電源模塊在瞬態(tài)情況下的穩(wěn)定運行能力以評估可靠性。

測試方法:

a、額定電壓輸入,用雙蹤示波器測試輸入電壓波形合過壓保護(hù)信號,輸入電壓從限功率點加5v跳變?yōu)?00v,從示波器上讀出過壓保護(hù)前300v的周期數(shù)n,作為以下試驗的依據(jù);

b、額定輸入電壓,電源模塊帶滿載運行,在輸入上疊加300v的電壓跳變,疊加的周期數(shù)為(n-1),疊加頻率為1次/30s,共運行3小時。

判定標(biāo)準(zhǔn):

一次電源模塊在上述條件下能夠穩(wěn)定運行,不出現(xiàn)損壞或其他不正?,F(xiàn)象,合格;否則不合格。

050輸入電壓跌落及輸出動態(tài)負(fù)載

測試說明:

一次模塊在實際使用過程中,當(dāng)輸入電壓跌落時,電源模塊突加負(fù)載的極限情況是可能發(fā)生的,此時功率器件、磁性元件工作在最大瞬態(tài)電流狀態(tài),試驗可以檢驗控制時序、限流保護(hù)等電路及軟件設(shè)計的合理性。

測試方法:

a、將輸入電壓調(diào)整為在欠壓點+5v(持續(xù)時間為5s)、過壓點-5v(持續(xù)時間為5s)之間跳變,輸出調(diào)整在最大負(fù)載(最大額定容量,持續(xù)時間為500ms)、空載(持續(xù)時間為500ms)之間跳變,運行1小時;

b、將輸入電壓調(diào)整為欠壓點+5v(持續(xù)時間為5s)、過壓點-5v(持續(xù)時間為5s)之間跳變,輸出調(diào)整在最大負(fù)載(最大額定容量,持續(xù)時間為1s)、空載(持續(xù)時間為500ms)之間跳變,運行1小時。

判定標(biāo)準(zhǔn):

在上述條件下,應(yīng)能穩(wěn)定運行,不出現(xiàn)損壞或其他不正?,F(xiàn)象,合格;否則不合格。若出現(xiàn)損壞情況,記錄故障問題,以提供分析損壞原因的依據(jù)。

060高壓空載,低壓限流態(tài)運行實驗

測試說明:

高壓空載運行是測試模塊的損耗情況,尤其是帶軟開關(guān)技術(shù)的模塊,在空載情況下,軟開關(guān)變?yōu)橛查_關(guān),模塊的損耗相應(yīng)增大。低壓滿載運行是測試模塊在最大輸入電流時,模塊的損耗情況,通常狀態(tài)下,模塊在低壓輸入、滿載輸出時,效率最低,此時模塊的發(fā)熱最為嚴(yán)重。

測試方法:

a、將模塊的輸入電壓調(diào)整為輸入過壓保護(hù)點-3v,模塊的輸出為最低輸出電壓,空載運行,此時,模塊的占空比為最小,連續(xù)運行2小時,模塊不應(yīng)損壞;

b、將模塊的輸入電壓調(diào)整為欠壓點+3v,模塊的輸出為最高輸出電壓的拐點狀態(tài),此時模塊的占空比為最大,連續(xù)運行2小時,模塊不應(yīng)出現(xiàn)損壞;

c、將模塊的輸入電壓調(diào)整為效率最低點時的輸入電壓,模塊輸出為最高輸出電壓的拐點狀態(tài),連續(xù)運行2小時,模塊不應(yīng)損壞;

d、將模塊的輸入電壓調(diào)整為過壓點-3v,模塊的輸出為最高輸出電壓的拐點狀態(tài),此時模塊的占空比為最大,連續(xù)運行2小時,模塊不應(yīng)出現(xiàn)損壞;

e、將模塊的輸入電壓調(diào)整為效率最低點時的輸入電壓,模塊輸出為最高輸出電壓的拐點狀態(tài),連續(xù)運行2小時,模塊不應(yīng)損壞。

注意:上述的測試,必須在規(guī)格書規(guī)定的最高工作溫度下進(jìn)行。

判定標(biāo)準(zhǔn):

在上述條件下工作,模塊沒有出現(xiàn)損壞,合格;否則不合格。

070電源特殊波形試驗

測試說明:

檢驗電源模塊在電網(wǎng)波形畸變可能形成的尖鋒、毛刺和諧波情形下穩(wěn)定運行能力。以下幾種波形必須輸入進(jìn)行試驗:

(1)毛刺輸入測試波形

電網(wǎng)的毛刺是電網(wǎng)中最常見的波形,毛刺的大小和幅值并沒有限值,一般情況下,通過振蕩波輸入測試和振鈴輸入波形,基本上可以模擬電網(wǎng)中的毛刺輸入,但還需做以下毛刺輸入試驗。

特點:電網(wǎng)尖鋒有過沖并會跌落到0v,過沖和跌落脈寬很窄,一般不會大于100ms,過沖幅度一般不超過100v。跌落的相位并不僅只限于峰值點,在任何相位都有可能發(fā)生。這種波形在實際電網(wǎng)中很常見,開通任何開關(guān)都會造成該現(xiàn)象。

(2)電壓削波波形輸入

這種波形也是電網(wǎng)中很常見的,特點是:電網(wǎng)從不定的相位突然跌落到0v,然后直到下個半波開始才恢復(fù)。在iec1004-4-11中對于波形的跌落是從大于半個周期開始的,但實際電網(wǎng)中還是存在很多類似的跌落時間小于半個周期的波形。測試時要求,輸入電壓波形從90度開始跌落,跌落1/4個周期,長時間工作2小時。

(3)電網(wǎng)的半個波頭陡升至倍電壓,這個波形主要是用來模擬實際電網(wǎng)中會突然出現(xiàn)的諧振過電壓,而且在這種情況下,模塊的輸入過電壓保護(hù)線路不起作用,這種沖擊對于有pfc的電路是存在危險的。測試內(nèi)容:a、在輸入電壓為180v,輸出滿載的情況下,用ac source模擬該波形,要求180v工作3分鐘,然后電壓突然增加到380v,持續(xù)100ms,然后恢復(fù)到180v,讓模塊在這種情況下長時間工作1小時,不應(yīng)損壞;b、設(shè)置ac source使得輸入電壓為0v,持續(xù)5分鐘,然后電壓突然增加到380v,持續(xù)100ms,然后恢復(fù)到0v,讓模塊在這種情況下長時間工作1小時,不應(yīng)損壞。

測試方法:

利用ac source對模塊供電,模塊滿載輸出;用ac source模擬尖鋒、毛刺和諧波電壓輸入,每種特殊的電壓輸入工作2小時,測量輸入電流和輸出電壓。模塊應(yīng)能穩(wěn)定運行,試驗中注意x電容,輔助電源,軟啟動電阻等其他可能出現(xiàn)問題的地方。

判定方法:

在實際中可能出現(xiàn)尖鋒、毛刺、諧波電壓情形下能穩(wěn)定運行,不損壞,合格;否則不合格。

體;

080有源pfc性能測試

測試說明:

帶有源pfc的電源模塊,對電網(wǎng)尖鋒、毛刺合和諧波比較敏感,應(yīng)進(jìn)行全面仔細(xì)的測試。

測試方法:

利用ac source交流源作為輸入電壓源,輸出分別帶半載、滿載,測試輸入電流波形和電壓波形,同時監(jiān)測pfc后的電壓;測試電網(wǎng)在尖鋒、毛刺、諧波情況下輸入電壓、電流的相位及幅值關(guān)系;測量pfc開關(guān)管的電流和電壓,驗證在全電壓范圍和毛刺、尖鋒、諧波等情況下開關(guān)管和其他功率器件的安全性及電流跟蹤電壓變化的能力。

判定標(biāo)準(zhǔn):

pfc測試可以作為可靠性參考,出現(xiàn)嚴(yán)重問題時,應(yīng)及時解決。

090操作電壓測試

測試說明:

電網(wǎng)中存在多種操作過電壓,其中最常見的時空載線路合閘過電壓,這種過電壓對模塊的威脅也較大,本項測試在于驗證模塊抗操作過電壓的能力。

測試方法:

過電壓線路的模擬十分簡單,原理如下:

其中電感的參數(shù)為10mh(供參考:ees的模塊測試方法中,沒有接地電容,輸入電阻與電感串聯(lián),電阻值為0歐、電感為8mh和電阻為79歐、電感為10mh兩種情況的測試),電容為16.7uf,測試波形如下(未畫出)。

將被測試的設(shè)備連接在電容兩端,在k合閘瞬間,在電容兩端會產(chǎn)生過電壓,用來模擬在上電過程中,過電壓對設(shè)備的損害程度。作為極限測試項目,輸入接l、n線,將被測試的設(shè)備接在電容兩端,頻繁開關(guān)機(jī),重復(fù)頻率為1次/5分鐘,連續(xù)測試5小時。對于三相輸入設(shè)備,輸入接在l、l線上,被測試設(shè)備接在電容兩端,重復(fù)頻率為1次/5分鐘,連續(xù)測試2小時。

判定標(biāo)準(zhǔn):

在測試過程中出現(xiàn)短時功能下降或性能劣化,但能自動恢復(fù)的,合格;但出現(xiàn)性能永久性劣化或需要人工干預(yù)才能恢復(fù)的,不合格。

審核編輯 :李倩

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
  • 電源
    +關(guān)注

    關(guān)注

    185

    文章

    18373

    瀏覽量

    256406
  • 模塊
    +關(guān)注

    關(guān)注

    7

    文章

    2788

    瀏覽量

    50440
  • 電壓
    +關(guān)注

    關(guān)注

    45

    文章

    5710

    瀏覽量

    118012

原文標(biāo)題:電源的9大可靠性測試,你確定都知道嗎?

文章出處:【微信號:dianyuankaifa,微信公眾號:電源研發(fā)精英圈】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評論

    相關(guān)推薦
    熱點推薦

    PCB的十大可靠性測試

    PCB板的可靠性測試流程為了確保PCB板的可靠性,必須經(jīng)過一系列嚴(yán)格的測試。以下是一些常見的測試方法和標(biāo)準(zhǔn):一、離子污染
    的頭像 發(fā)表于 06-20 23:08 ?291次閱讀
    PCB的十<b class='flag-5'>大可靠性</b><b class='flag-5'>測試</b>

    AR 眼鏡硬件可靠性測試方法

    AR 眼鏡作為集成了光學(xué)、電子、傳感器等復(fù)雜硬件的智能設(shè)備,其硬件可靠性直接影響產(chǎn)品使用壽命和用戶體驗。硬件可靠性測試需針對 AR 眼鏡特殊結(jié)構(gòu)和使用場景,從機(jī)械強(qiáng)度、環(huán)境適應(yīng)、電池性能、傳感器精度等方面展開系統(tǒng)
    的頭像 發(fā)表于 06-19 10:27 ?286次閱讀
    AR 眼鏡硬件<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測試</b>方法

    關(guān)于LED燈具的9可靠性測試方案

    LED燈具的可靠性試驗,與傳統(tǒng)燈具有顯著區(qū)別。作為新一代光源,LED燈具正在逐漸取代傳統(tǒng)節(jié)能燈的市場,因此無法簡單地沿用傳統(tǒng)燈具的測試方法。那么,LED燈具需要進(jìn)行哪些可靠性試驗?zāi)???biāo)準(zhǔn)名稱:LED
    的頭像 發(fā)表于 06-18 14:48 ?229次閱讀
    關(guān)于LED燈具的<b class='flag-5'>9</b>種<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測試</b>方案

    可靠性測試包括哪些測試和設(shè)備?

    在當(dāng)今競爭激烈的市場環(huán)境中,產(chǎn)品質(zhì)量的可靠性成為了企業(yè)立足的根本。無論是電子產(chǎn)品、汽車零部件,還是智能家居設(shè)備,都需要經(jīng)過嚴(yán)格的可靠性測試,以確保在各種復(fù)雜環(huán)境下都能穩(wěn)定運行,為用戶提供可靠
    的頭像 發(fā)表于 06-03 10:52 ?350次閱讀
    <b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測試</b>包括哪些<b class='flag-5'>測試</b>和設(shè)備?

    半導(dǎo)體測試可靠性測試設(shè)備

    在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中,可靠性測試設(shè)備如同產(chǎn)品質(zhì)量的 “守門員”,通過模擬各類嚴(yán)苛環(huán)境,對半導(dǎo)體器件的長期穩(wěn)定性和可靠性進(jìn)行評估,確保其在實際使用中能穩(wěn)定運行。以下為你詳細(xì)介紹常見的半導(dǎo)體測試
    的頭像 發(fā)表于 05-15 09:43 ?268次閱讀
    半導(dǎo)體<b class='flag-5'>測試</b><b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測試</b>設(shè)備

    提供半導(dǎo)體工藝可靠性測試-WLR晶圓可靠性測試

    隨著半導(dǎo)體工藝復(fù)雜度提升,可靠性要求與測試成本及時間之間的矛盾日益凸顯。晶圓級可靠性(Wafer Level Reliability, WLR)技術(shù)通過直接在未封裝晶圓上施加加速應(yīng)力,實現(xiàn)快速
    發(fā)表于 05-07 20:34

    芯片可靠性測試:性能的關(guān)鍵

    在芯片行業(yè),可靠性測試是確保產(chǎn)品性能的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。金鑒實驗室作為專業(yè)的檢測機(jī)構(gòu),提供全面的芯片可靠性測試服務(wù),幫助企業(yè)在激烈的市場競爭中保持領(lǐng)先。預(yù)處理(Preconditioning,
    的頭像 發(fā)表于 03-04 11:50 ?503次閱讀
    芯片<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測試</b>:性能的關(guān)鍵

    半導(dǎo)體集成電路的可靠性評價

    半導(dǎo)體集成電路的可靠性評價是一個綜合的過程,涉及多個關(guān)鍵技術(shù)和層面,本文分述如下:可靠性評價技術(shù)概述、可靠性評價的技術(shù)特點、可靠性評價的
    的頭像 發(fā)表于 03-04 09:17 ?548次閱讀
    半導(dǎo)體集成電路的<b class='flag-5'>可靠性</b>評價

    吉事勵電源模塊ATE自動測試系統(tǒng):提升效率與可靠性

    )自動測試系統(tǒng)。這一系統(tǒng)不僅提高了測試效率,還保證了測試的準(zhǔn)確可靠性,成為電源模塊生產(chǎn)線上不
    的頭像 發(fā)表于 02-26 17:52 ?434次閱讀
    吉事勵<b class='flag-5'>電源</b>模塊ATE自動<b class='flag-5'>測試</b>系統(tǒng):提升效率與<b class='flag-5'>可靠性</b>

    厚聲貼片電阻的可靠性測試與壽命

    厚聲貼片電阻的可靠性測試與壽命評估是確保其在實際應(yīng)用中穩(wěn)定工作的重要環(huán)節(jié)。以下是對這兩個方面的詳細(xì)分析: 一、可靠性測試 厚聲貼片電阻的可靠性
    的頭像 發(fā)表于 02-25 14:50 ?426次閱讀
    厚聲貼片電阻的<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測試</b>與壽命

    厚聲貼片電感的可靠性測試:振動與沖擊

    厚聲貼片電感作為一種關(guān)鍵的電子元件,其可靠性對于整個電路系統(tǒng)的穩(wěn)定性和性能至關(guān)重要。在可靠性測試中,振動與沖擊測試是評估貼片電感在實際應(yīng)用環(huán)境中承受機(jī)械應(yīng)力能力的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。以下是對厚聲
    的頭像 發(fā)表于 02-17 14:19 ?423次閱讀
    厚聲貼片電感的<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測試</b>:振動與沖擊

    霍爾元件的可靠性測試步驟

    霍爾元件是一種利用霍爾效應(yīng)來測量磁場的傳感器,廣泛應(yīng)用于電機(jī)控制、位置檢測、速度測量以及電流監(jiān)測、變頻控制測試、交直流電源、電源逆變器和電子開關(guān)等領(lǐng)域。為了確?;魻栐男阅芎?b class='flag-5'>可靠性
    的頭像 發(fā)表于 02-11 15:41 ?570次閱讀

    如何測試光耦的性能與可靠性

    光耦作為電氣隔離的關(guān)鍵組件,其性能和可靠性直接影響到整個系統(tǒng)的穩(wěn)定性和安全。因此,對光耦進(jìn)行嚴(yán)格的性能測試可靠性評估是必不可少的。 光耦性能測試
    的頭像 發(fā)表于 01-14 16:13 ?1347次閱讀

    半導(dǎo)體封裝的可靠性測試及標(biāo)準(zhǔn)

    的第三方檢測與分析機(jī)構(gòu),提供全面的可靠性測試服務(wù),幫助客戶確保產(chǎn)品在各種條件下的穩(wěn)定性與性能。產(chǎn)品可靠性的重要產(chǎn)品可靠性直接關(guān)聯(lián)到產(chǎn)品能否
    的頭像 發(fā)表于 11-21 14:36 ?817次閱讀
    半導(dǎo)體封裝的<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測試</b>及標(biāo)準(zhǔn)

    AEC-Q100-012智能電源開關(guān)短路可靠性測試結(jié)果

    電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《AEC-Q100-012智能電源開關(guān)短路可靠性測試結(jié)果.pdf》資料免費下載
    發(fā)表于 10-08 09:59 ?3次下載
    AEC-Q100-012智能<b class='flag-5'>電源</b>開關(guān)短路<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測試</b>結(jié)果