在電子設備的設計中,一直需要解決小型化、高效化、EMC(電磁兼容性)等課題,近年來,半導體元器件的熱對策已經越來越受到重視,半導體元器件的熱設計已成為新的課題。由于“熱”涉及到元器件和設備的性能、可靠性以及安全性,因此一直以來都是重要研究項目之一。近年來對電子設備的要求已經發生變化,因此有必要重新審視以往的方法。
在“電子設備中半導體元器件的熱設計”中,原則上,我們將以電子設備使用的IC和晶體管等半導體產品為前提來討論熱設計相關的話題。
什么是熱設計?
半導體元器件規定了封裝內部的芯片溫度,即結點(接合部)溫度的絕對最大額定值Tjmax。在設計時,需要對發熱和環境溫度進行研究,以確保產品的結溫不超過Tjmax。因此,會對所有要使用的半導體元器件進行熱計算,以確認是否超過了Tjmax。如果可能超過Tjmax,就要采取降低損耗或散熱措施,以使Tjmax保持在最大額定值范圍之內。簡而言之,這就是熱設計。
當然,在電子設備中不僅使用半導體產品,而且還使用電容器、電阻及電機等各種部件,并且每個部件都具有與溫度和功耗有關的絕對最大額定值,因此,在實際設計時,組成設備的所有部件都不能超過溫度相關的最大額定值。
在設計階段進行良好熱設計的必要性
如果在設計階段沒有認真地進行熱設計并采取相應的措施,可能會在產品試制階段甚至要投入量產時發現熱引起的問題。雖然問題不僅限于熱,但是越接近量產階段,采取對策所需的時間越多,成本也越高,甚至會出現產品交貨延遲,導致錯失商機的大問題。最壞的情況是在市場中才出現問題,從而導致召回和信用問題。
盡管我們不愿意去想象熱引發的問題,但熱處理不當非常有可能引發冒煙、起火、甚至火災等涉及人身安全的問題,所以,熱設計從根本上講是非常重要的。因此,從開始階段就必須切實地做好熱設計。
熱設計越來越重要
近年來,對于電子設備來說,小型化和高性能化的要求已變得理所當然,也因此促進了進一步集成化。具體來講表現為元器件數量更多,電路板上的安裝密度更高,外殼尺寸更小。結果是導致發熱密度顯著增加。
首先需要認識到的是,隨技術發展趨勢的變化,熱設計變得比以往任何時候都更加嚴苛。如前所述,設備不僅要求元器件日益“小型化”和“高性能化”,而且還要求出色的“設計靈活性”,因此熱對策(散熱措施)已經成為一個很大的課題。由于熱設計有助于提高設備的可靠性、安全性并降低總成本,因而變得越來越重要。
在熱設計主題中,預計會涉及熱設計的重要性、熱阻與散熱、Tj的估算示例、熱仿真等基礎內容。
關鍵要點:
?簡言之,半導體元器件的熱設計旨在將半導體元器件的Tjmax保持在最大額定值內。
?如果在設計階段沒有認真對待半導體元器件的熱設計,那么可能會在試制階段或投入量產之前出現問題。
?越接近量產,對策所需時間越多、成本也越高,甚至會出現產品交貨延遲,導致錯失商機的大問題。
?最壞的情況是投放到市場后才出現問題,從而導致召回和信用問題,因此半導體元器件的熱設計從根本上講非常重要。
責任編輯:lq6
-
半導體
+關注
關注
335文章
28909瀏覽量
237745 -
晶體管
+關注
關注
77文章
10019瀏覽量
141648 -
熱設計
+關注
關注
11文章
134瀏覽量
26999 -
熱仿真
+關注
關注
0文章
23瀏覽量
7323
發布評論請先 登錄
為什么紅外熱成像采用微測輻射熱計技術?

VirtualLab Fusion應用:熱透鏡引起焦點偏移的研究
基于RC熱阻SPICE模型的GaNPX?和PDFN封裝的熱特性建模

對齊熱測量與仿真

熱重分析儀測試熱分析溫度的方法

功率器件熱設計基礎知識
同步熱分析儀:探索物質熱特性的利器

功率器件熱設計基礎(七)——熱等效模型

功率器件熱設計基礎(六)——瞬態熱測量

功率器件熱設計基礎(三)——功率半導體殼溫和散熱器溫度定義和測試方法

功率器件的熱設計基礎(二)——熱阻的串聯和并聯

評論