(1)IGBT和柵極鉗位TVS二極管結(jié)構(gòu)
(2)雙脈沖開(kāi)關(guān)特性:
VGE1=15V(100us),VGE2=-5V(100us),LE1=LE2=0nH
VGE1=15V(5us),VGE2=-15V(3.5us),LE1=LE2=0nH
IGBT開(kāi)通和關(guān)斷過(guò)程描述:
圖1 IGBT開(kāi)通過(guò)程波形
開(kāi)通過(guò)程簡(jiǎn)述:
a)階段1(0—t1):在此階段,柵極電流開(kāi)始對(duì)柵電容CGE充電,但是VGE《Vth,溝道未開(kāi)啟。
b)階段2(tl—t2):在t1時(shí)刻,VGE》Vth,溝道開(kāi)啟,電子開(kāi)始通過(guò)溝道注入到基區(qū),同時(shí)背面的集電極開(kāi)始向基區(qū)內(nèi)注入空穴,集電極開(kāi)始產(chǎn)生電流IC,此時(shí)IC《IL,隨著溝道開(kāi)啟程度的增加,IC逐漸增大。
c)階段3(t2—t3):在t2時(shí)刻,IC=IL,流過(guò)續(xù)流二極管的電流降低至0,二極管內(nèi)部載流子開(kāi)始復(fù)合。
d)階段4(t3—t4):續(xù)流二極管內(nèi)部載流子已經(jīng)完成復(fù)合,續(xù)流二極管兩端電壓開(kāi)始上升,這導(dǎo)致IGBT兩端的電壓下降和柵極集電極電容CGC放電。此時(shí)IGBT電流Ic形成過(guò)沖,過(guò)沖的大小與CGC大小有密切關(guān)系,CGC越大,IC過(guò)沖越大。
e)階段5(t4—t5):在t4時(shí)刻,VGE將調(diào)整以適應(yīng)IC的過(guò)沖,在t5時(shí)刻,二極管反向恢復(fù)完成,VGE將會(huì)略微下降,使IGBT可以承受負(fù)載電流IL。在此階段,柵極發(fā)射極電壓VGE保持恒定,柵極電流流入至柵極集電極電容CGC,集電極發(fā)射極兩端電壓隨著CGC放電而下降。
f)階段6(t6—t7):在t6時(shí)刻,VCE下降到使IGBT進(jìn)入飽和狀態(tài),柵極反射極電壓增加以維持IL,當(dāng)VCE衰減穩(wěn)定后,穩(wěn)定值即為飽和導(dǎo)通壓降VCE(sat),到此開(kāi)通過(guò)程完全結(jié)束。
圖2 IGBT關(guān)斷過(guò)程波形
關(guān)斷過(guò)程簡(jiǎn)述:
a)階段1(0—t1),在t=0時(shí)刻,開(kāi)關(guān)S動(dòng)作,lGBT開(kāi)始關(guān)斷,柵極通過(guò)RG開(kāi)始放電,VGE下降。這導(dǎo)致通過(guò)溝道注入到基區(qū)的電子數(shù)量變少,但是由于感性負(fù)載的存在,通過(guò)抽取N基區(qū)中多余的電子和空穴來(lái)抑制IC的減小。
b)階段2(tl—t3)在t1時(shí)刻,基區(qū)內(nèi)剩余電荷降為0,耗盡區(qū)開(kāi)始形成。在VCE較小時(shí),柵壓維持在VGP(VGP的大小與柵極電阻RG成正比),當(dāng)VCE超過(guò)一定限度時(shí),柵壓開(kāi)始下降。
c)階段3(t3—t6)在t3時(shí)刻,VCE達(dá)到電路外加電壓VDC,耗盡區(qū)不再展寬,此時(shí)集電極電路IC迅速下降,由于IC的下降在負(fù)載電感上感生一個(gè)負(fù)電壓,此時(shí)VCE過(guò)沖到最大值,感生電壓使續(xù)流回路導(dǎo)通,負(fù)載電流轉(zhuǎn)移到續(xù)流回路。IGBT關(guān)斷完成。
在IGBT開(kāi)關(guān)過(guò)程中通常用開(kāi)通延遲td(on)、關(guān)斷延遲td(off)、上升時(shí)間tr和下降時(shí)間tf來(lái)進(jìn)行描述。圖5是IGBT整個(gè)開(kāi)關(guān)過(guò)程的波形。
圖3 IGBT整個(gè)開(kāi)關(guān)過(guò)程波形
責(zé)任編輯人:CC
-
脈沖
+關(guān)注
關(guān)注
20文章
901瀏覽量
96735 -
IGBT
+關(guān)注
關(guān)注
1277文章
4024瀏覽量
253354
發(fā)布評(píng)論請(qǐng)先 登錄
IGBT雙脈沖測(cè)試原理解析
討論一下IGBT的關(guān)斷過(guò)程
詳細(xì)IGBT的開(kāi)通過(guò)程(IGBT結(jié)構(gòu)及工作原理)

IGBT關(guān)斷過(guò)程的分析

詳細(xì)解讀IGBT開(kāi)關(guān)過(guò)程

關(guān)于對(duì)IGBT關(guān)斷過(guò)程的分析

IGBT雙脈沖測(cè)試的原理

IGBT的開(kāi)關(guān)時(shí)間說(shuō)明

說(shuō)說(shuō)IGBT的開(kāi)通過(guò)程

IGBT雙脈沖測(cè)試的意義和原理

IGBT開(kāi)關(guān)過(guò)程分析
IGBT關(guān)斷過(guò)程分析

功率MOSFET的開(kāi)通和關(guān)斷過(guò)程原理
IGBT雙脈沖實(shí)驗(yàn)說(shuō)明

評(píng)論