目前安全隱私問題的解決方案主要從下面3個方面切人：

（1） 訪問機(jī)制

防止RFID標(biāo)簽內(nèi)容泄漏，保證僅授權(quán)實(shí)體才可以讀取和處理標(biāo)簽信息，必須建立相應(yīng)訪問控制機(jī)制。

（2） 標(biāo)簽認(rèn)證

防止標(biāo)簽偽造和內(nèi)容濫用，必須在通信前對標(biāo)簽身份進(jìn)行認(rèn)證。

（3） 加密機(jī)制

禁止采用以明文方式實(shí)現(xiàn)讀寫器與標(biāo)簽間的無線通信。

上面3點(diǎn)必須在充分考慮標(biāo)簽資源有限性的基礎(chǔ)上才有價值。

4.4 測試問題

RFID測試是應(yīng)用的技術(shù)保障。可分為技術(shù)測試和應(yīng)用測試。前者主要測試產(chǎn)品性能、可靠性等，包括硬件和軟件測試。后者主要是在具體環(huán)境中應(yīng)用所進(jìn)行的測試。

目前，國外RFID測試已有了實(shí)質(zhì)性進(jìn)展。如HP，IBM，SUN及Microsoft等公司已開始在世界各地建立測試實(shí)驗(yàn)室，開展相關(guān)研究和試驗(yàn)。IBM在歐洲成立了測試和互操作性實(shí)驗(yàn)室用來指導(dǎo)并提供RFID技術(shù)，該實(shí)驗(yàn)中心將測試RFID芯片、數(shù)據(jù)識別器和相關(guān)應(yīng)用軟件以驗(yàn)證他們之間的兼容情況；SUN公司在美國達(dá)拉斯設(shè)立了大型RFID測試中心，用于發(fā)現(xiàn)并解決諸如優(yōu)化標(biāo)簽和后臺數(shù)據(jù)整合之類的問題；韓國提出了“測試床建設(shè)計(jì)劃”（test-bed building plan），將于2007～2008年建成RFID／USN綜合測試中心。

我國RFID技術(shù)研究開發(fā)剛剛開始，但是對測試工作投入也很大，國家科技部“863計(jì)劃”已經(jīng)連續(xù)兩年支持RFID測試研究。

整體上看，RFID的測試標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范還不夠全面。UHF頻段下RFID標(biāo)簽和讀寫器物理特性、電氣特性測試方法標(biāo)準(zhǔn)；標(biāo)簽和讀寫器的兼容性測試方法標(biāo)準(zhǔn)；標(biāo)簽和讀寫器的安全技術(shù)測試方法標(biāo)準(zhǔn)；RFDI中間件測試標(biāo)準(zhǔn)以及面向應(yīng)用的RFID系統(tǒng)解決方案測試規(guī)范等，都有待于進(jìn)一步制定。

5 結(jié) 語

基于RFID基本原理及發(fā)展現(xiàn)狀，提出當(dāng)前RFID發(fā)展面臨的幾個關(guān)鍵問題：RFID系統(tǒng)實(shí)施，RIFD成本問題，安全隱私問題，測試問題的解決辦法。

編輯：jq