美國Hinds Instruments研發基于PEM光彈調制原理的Exicor高精度應力雙折射測量系統、Microlmager應力測量顯微鏡、穆勒矩陣測量儀、偏振測量儀、各向異性測量儀、消光比測量儀、PEM光彈調制器、鎖相放大器等。

美國Hinds的雙折射測量技術已經被世界范圍內的行業領導者采用，以無與倫比的精度、分辨率和重復性測量表征材料中的應力雙折射。能夠在0．001nm分辨率下測量光阻，最低噪聲為0．005nm， 這些系統是強大的、動態的和可擴展的，可以滿足您的的應用需求。我們提供跨光譜（DUV， VIS和NIR）的測量系統， 并能夠測量幾乎所有的光學材料。

Hinds 儀器的Exicor雙折射測量系統型號150AT是Exicor＆reg；雙折射測量系統系列產品的工作平臺。該系統具有足夠的多功能性，在生產車間和研發實驗室環境中均可勝任。該模型廣泛用于研究和工業中測量組件； 如光掩膜和光刻膠、DVD空白、塑料薄膜、透鏡毛坯、激光晶體、手機顯示窗、注塑件等等。臺式設計和直觀的自動掃描軟件使該產品成為高價值精密光學元件和商品光學元件（高達150mm X 150mm）的日常評估的最佳選擇。

前沿靈敏度和重復性

使用Hinds儀器專利光彈性調制器技術，該系統提供最高水平雙折射靈敏度。此外，PEM提供高速操作，以50千赫的速率進行調制。前沿靈敏度和重復性很容易提供亞納米級的雙折射測量，對許多應用至關重要。

專為簡單、直接的操作而設計

一個大至6“x 6”（可選大尺寸）的光學樣品可以通過手動或自動映射和圖形顯示進行表征。一旦將樣本放置在翻譯階段，直觀的軟件就可以指導操作員完成步驟測量過程。用戶界面軟件計算延遲值和快軸角度，并以各種格式顯示它們。該軟件還提供文件管理和校準功能。

應用

質量控制計量
低水平雙折射測量的有

平滑玻璃

科學光學元件

激光晶體

DVDs

光刻組件的質量驗證，包括

光掩模

熔石英光學元件

氟化鈣鏡片毛坯和窗口

主要特點

在低水平雙折射測量中具有

同時測量雙折射幅度和角度

精確度可重復性

高速測量

光學系統中無移動部件

可變尺寸光學元件的自動映

光彈調制器技術

簡單、便于用戶使用的操作