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標(biāo)簽 > 白光干涉儀
干涉儀是一種對(duì)光在兩個(gè)不同表面反射后形成的干涉條紋進(jìn)行分析的儀器。其基本原理就是通過(guò)不同光學(xué)元件形成參考光路和檢測(cè)光路。
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以精密測(cè)量探索人類未來(lái),優(yōu)可測(cè)邀您共赴六月行業(yè)盛會(huì)
六月夏至,智測(cè)未來(lái)。優(yōu)可測(cè)將亮相多場(chǎng)行業(yè)盛會(huì)!誠(chéng)邀您共同探索精密測(cè)量&半導(dǎo)體檢測(cè)世界!
2025-05-29 標(biāo)簽:傳感器影像測(cè)量?jī)x白光干涉儀 131 0
光刻膠剝離液及其制備方法及白光干涉儀在光刻圖形的測(cè)量
引言 在半導(dǎo)體制造與微納加工領(lǐng)域,光刻膠剝離液是光刻膠剝離環(huán)節(jié)的核心材料,其性能優(yōu)劣直接影響光刻膠去除效果與基片質(zhì)量。同時(shí),精準(zhǔn)測(cè)量光刻圖形對(duì)把控工藝質(zhì)...
納米壓印制備硅基 OLED 微型顯示器的方法及白光干涉儀在光刻圖形的測(cè)量
引言 硅基 OLED 微型顯示器憑借高分辨率、高對(duì)比度等優(yōu)勢(shì),在虛擬現(xiàn)實(shí)、增強(qiáng)現(xiàn)實(shí)等領(lǐng)域應(yīng)用廣泛。納米壓印技術(shù)為其制備提供了新方向,而精確測(cè)量光刻圖形是...
玻璃基板精密檢測(cè),優(yōu)可測(cè)方案提升良率至90%
優(yōu)可測(cè)白光干涉儀(精度0.03nm)&超景深顯微鏡-高精度檢測(cè)方案,助力玻璃基板良率提升至90%,加速產(chǎn)業(yè)高端化進(jìn)程。
2025-05-12 標(biāo)簽:玻璃基板顯微鏡精密檢測(cè)儀器 175 0
白光干涉精析偏振串?dāng)_,OLI-P重新定義保偏光纖檢測(cè)新標(biāo)準(zhǔn)
在高速光通信與精密傳感領(lǐng)域,保偏光纖的偏振穩(wěn)定性是系統(tǒng)性能的“生命線”。然而,傳統(tǒng)檢測(cè)手段受限于靈敏度低、無(wú)法實(shí)現(xiàn)分布式測(cè)量,難以捕捉微弱的偏振耦合信號(hào)...
優(yōu)可測(cè)白光干涉儀助力提升光模塊信息質(zhì)量
光通信模塊的頭部企業(yè),在制造過(guò)程中,會(huì)對(duì)產(chǎn)品做哪些維度的質(zhì)量把控與數(shù)據(jù)檢測(cè)。
納米級(jí)形貌快速測(cè)量,優(yōu)可測(cè)白光干涉儀助力摩擦磨損學(xué)科發(fā)展
研究摩擦學(xué),能帶來(lái)什么價(jià)值?從摩擦磨損到亞納米級(jí)精度,白光干涉儀如何參與摩擦學(xué)發(fā)展?
探索高精度測(cè)量世界,優(yōu)可測(cè)誠(chéng)邀您共赴四月行業(yè)盛會(huì)
四月芳菲,萬(wàn)物競(jìng)發(fā)。優(yōu)可測(cè)將亮相多場(chǎng)行業(yè)盛會(huì),誠(chéng)邀您蒞臨指導(dǎo),共探精密制造的無(wú)限可能。
2025-03-27 標(biāo)簽:白光干涉儀優(yōu)可測(cè)閃測(cè)儀 248 0
一鍵對(duì)焦+一鍵調(diào)平,測(cè)量效率提升7倍 | 優(yōu)可測(cè)全新旗艦白光干涉儀發(fā)布
測(cè)量精度小于1納米,性能進(jìn)入全球一梯隊(duì),優(yōu)可測(cè)旗艦白光干涉儀發(fā)布
重磅新品發(fā)布,優(yōu)可測(cè)與您相約慕尼黑上海光博會(huì) | 三月展會(huì)預(yù)告
欲知優(yōu)可測(cè)旗艦產(chǎn)品白光干涉儀新技術(shù),盡在慕尼黑上海光博會(huì)優(yōu)可測(cè)展位E7.7550!
2025-02-28 標(biāo)簽:顯微鏡白光干涉儀優(yōu)可測(cè) 247 0
入駐眾多科研機(jī)構(gòu),優(yōu)可測(cè)白光干涉儀助力前沿成果發(fā)布
近年來(lái),優(yōu)可測(cè)白光干涉儀在科研領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用,被多篇科研論文使用,在CFRP/Al鉆孔監(jiān)測(cè)、光纖微透鏡制造、超快3D打印等領(lǐng)域的研究成果,展示了其在高...
氧化鎵襯底表面粗糙度和三維形貌,優(yōu)可測(cè)白光干涉儀檢測(cè)時(shí)長(zhǎng)縮短至秒級(jí)!
傳統(tǒng)AFM檢測(cè)氧化鎵表面三維形貌和粗糙度需要20分鐘左右,優(yōu)可測(cè)白光干涉儀檢測(cè)方案僅需3秒,百倍提升檢測(cè)效率!
白光干涉儀測(cè)量原理及干涉測(cè)量技術(shù)的應(yīng)用
白光干涉儀利用干涉原理測(cè)光程差,測(cè)物理量,具高精度。應(yīng)用于半導(dǎo)體、光學(xué)加工、汽車零部件制造及科研等領(lǐng)域,雙重防撞保護(hù)保障測(cè)量安全。
優(yōu)可測(cè)白光干涉儀:助力手機(jī)玻璃蓋板品質(zhì)提升 | 行業(yè)應(yīng)用
手機(jī)蓋板材料從塑料、金屬到玻璃/陶瓷,再到納米紋理玻璃,不斷革新以滿足消費(fèi)者需求。其中,影響手機(jī)玻璃蓋板關(guān)鍵因素包括蝕刻深度、角度、粒子統(tǒng)計(jì)、粗糙度等。...
從“制造”到“智造”:中圖光學(xué)測(cè)量?jī)x器的進(jìn)階與應(yīng)用
在當(dāng)今全球化和科技快速發(fā)展的時(shí)代,制造業(yè)正經(jīng)歷著從傳統(tǒng)的“制造”模式向智能化的“智造”模式的深刻轉(zhuǎn)變。消費(fèi)者對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量和個(gè)性化的要求越來(lái)越高,產(chǎn)品的更新...
2024-10-12 標(biāo)簽:測(cè)量?jī)x器光學(xué)測(cè)量白光干涉儀 697 0
優(yōu)可測(cè)白光干涉儀:激光陀螺儀提升良率與精度的關(guān)鍵
激光陀螺儀廣泛應(yīng)用于航空航天、軍事防御、海洋勘探、自動(dòng)駕駛等領(lǐng)域,其高靈敏度、強(qiáng)抗干擾和可靠性源于精密制造技術(shù)。優(yōu)可測(cè)白光干涉儀助力激光陀螺儀鏡片精度提...
優(yōu)可測(cè)白光干涉儀助力紅外探測(cè)行業(yè)發(fā)展——晶圓襯底檢測(cè)
晶圓襯底的質(zhì)量對(duì)紅外探測(cè)器芯片性能至關(guān)重要,優(yōu)可測(cè)白光干涉儀可以高精度測(cè)量晶圓襯底的亞納米級(jí)粗糙度、納米級(jí)臺(tái)階、整體平面度、微觀三維形貌等。
文章介紹了白光干涉儀的Z軸垂直精度和XY橫向精度的相關(guān)概念,包括垂直分辨率、RMS重復(fù)性、臺(tái)階重復(fù)性等,以及影響精度的因素,并強(qiáng)調(diào)使用環(huán)境的穩(wěn)定性對(duì)精度...
2024-08-13 標(biāo)簽:測(cè)量?jī)x器精密儀器白光干涉儀 829 0
在精密測(cè)量領(lǐng)域,激光共聚焦顯微鏡和白光干涉儀是兩種不同的高精度光學(xué)測(cè)量?jī)x器。它們各自有著獨(dú)特的應(yīng)用優(yōu)勢(shì)和應(yīng)用場(chǎng)景。選擇哪種儀器更好,取決于具體的測(cè)量需求...
提高競(jìng)爭(zhēng)力!創(chuàng)新助力新質(zhì)生產(chǎn)力!中圖儀器補(bǔ)齊國(guó)產(chǎn)精密測(cè)量短板
新質(zhì)生產(chǎn)力是科技進(jìn)步和生產(chǎn)方式變革下的新型生產(chǎn)力形態(tài),強(qiáng)調(diào)智能化、靈活化、個(gè)性化和高質(zhì)量化。中圖儀器通過(guò)自主研發(fā)高精度測(cè)量?jī)x器和激光跟蹤儀,推動(dòng)制造業(yè)生...
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