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開關(guān)損耗

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開關(guān)損耗技術(shù)

MOS管的開關(guān)損耗計(jì)算

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CCM 模式與 DCM 模式的開關(guān)損耗有所不同。先講解復(fù)雜 CCM 模式,DCM 模式很簡單了。

2023-07-17 標(biāo)簽:開關(guān)電源MOS管DCM 1.6萬 0

幾種典型的軟開關(guān)電路分享

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目前電力電子設(shè)備的發(fā)展趨勢都是小型化,同時(shí)對(duì)裝置的效率和電磁兼容性有著很高的要求。 設(shè)備向著高頻化的方向發(fā)展,這樣可以減小濾波器、變壓器等器件的體積和重...

2023-04-11 標(biāo)簽:變壓器開關(guān)電路濾波器 1.4萬 0

開關(guān)電源調(diào)試一般設(shè)計(jì)要求與要求

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1.變壓器飽和變壓器飽和現(xiàn)象在高壓或低壓輸入下開機(jī)(包含輕載,重載,容性負(fù)載),輸出短路,動(dòng)態(tài)負(fù)載,高溫等情

2017-09-24 標(biāo)簽:變壓器電源管理開關(guān)損耗 1.1萬 0

入了解SiC MOSFET實(shí)現(xiàn)建議和解決方案示例

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對(duì)于電網(wǎng)轉(zhuǎn)換、電動(dòng)汽車或家用電器等高功率應(yīng)用,碳化硅 (SiC) MOSFET 與同等的硅 IGBT 相比具有許多優(yōu)勢,包括更快的開關(guān)速度、更高的電流密...

2018-07-04 標(biāo)簽:MOSFETSiC開關(guān)損耗 9818 0

基于CMM下開關(guān)損耗和反激開關(guān)損耗分析以及公式計(jì)算

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1、CCM 模式開關(guān)損耗 CCM 模式與 DCM 模式的開關(guān)損耗有所不同。先講解復(fù)雜 CCM 模式,DCM 模式很簡單了。

2018-01-13 標(biāo)簽:cmm開關(guān)損耗 9812 0

通過AI嵌入實(shí)現(xiàn)EV范圍提高多達(dá)12%

通過AI嵌入實(shí)現(xiàn)EV范圍提高多達(dá)12%

Pre-Switch通過將AI嵌入到FPGA中來解決這一挑戰(zhàn),該FPGA用于精確控制輔助諧振晶體管的時(shí)序,如圖1所示為S1和S2。

2021-03-16 標(biāo)簽:fpgaAI開關(guān)損耗 9703 0

MOSFET開關(guān)損耗的計(jì)算方法

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MOS管在電源應(yīng)用中作為開關(guān)用時(shí)將會(huì)導(dǎo)致一些不可避免的損耗,這些損耗可以分為兩類。

2023-03-26 標(biāo)簽:電源MOSFET電容 9519 0

全橋LLC電路移相發(fā)波原理詳解

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在調(diào)寬狀態(tài)當(dāng)占空比較小的時(shí)候,由圖 2可知調(diào)寬橋臂MOS管Sa和Sb的驅(qū)動(dòng)信號(hào)有很長一段時(shí)間處于低電平,諧振電流只能流過MOS管的體二極管。一旦諧振電流...

2023-03-30 標(biāo)簽:MOS管LLC功率電路 9320 0

開關(guān)損耗測試在電源調(diào)試中重要作用

MOSFET/IGBT的開關(guān)損耗測試是電源調(diào)試中非常關(guān)鍵的環(huán)節(jié),但很多工程師對(duì)開關(guān)損耗的測量還停留在人工計(jì)算的感性認(rèn)知上,PFC MOSFET的開關(guān)損耗...

2017-11-10 標(biāo)簽:開關(guān)電源電源管理開關(guān)損耗 6783 0

開關(guān)損耗的準(zhǔn)確測量

開關(guān)損耗的準(zhǔn)確測量

一個(gè)高質(zhì)量的開關(guān)電源效率高達(dá)95%,而開關(guān)電源的損耗大部分來自開關(guān)器件(MOSFET和二極管),所以正確的測量開關(guān)器件的損耗,對(duì)于效率分析是非常關(guān)鍵的。

2019-07-31 標(biāo)簽:開關(guān)電源開關(guān)損耗 6461 0

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開關(guān)損耗資訊

理解MOSFET開關(guān)損耗和主導(dǎo)參數(shù)

理解MOSFET開關(guān)損耗和主導(dǎo)參數(shù)

為了使MOSFET整個(gè)開關(guān)周期都工作于ZVS,必須利用外部的條件和電路特性,實(shí)現(xiàn)其在開通過程的ZVS。如同步BUCK電路下側(cè)續(xù)流管,由于其寄生的二極管或...

2012-04-12 標(biāo)簽:MOSFET開關(guān)損耗 6.3萬 1

深度剖析半導(dǎo)體熱阻數(shù)據(jù)

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半導(dǎo)體器件并不完美——所有二極管和晶體管都因開關(guān)和導(dǎo)通而產(chǎn)生功率損耗。開關(guān)損耗發(fā)生在結(jié)的通斷狀態(tài)之間的間隔期間,此時(shí)器件端子上既有電壓又有電流流過。傳導(dǎo)...

2022-04-21 標(biāo)簽:電子設(shè)備半導(dǎo)體器件開關(guān)損耗 3909 0

利用示波器探頭進(jìn)行開關(guān)損耗測試

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如今的開關(guān)電源技術(shù)很大程度上依托于電源半導(dǎo)體開關(guān)器件,如MOSFET和IGBT。這些器件提供了快速開關(guān)速度,能夠耐受沒有規(guī)律的電壓峰值。同時(shí)在On或Of...

2022-06-20 標(biāo)簽:MOSFET示波器探頭 2301 0

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Avnet Design Service電源實(shí)驗(yàn)室開發(fā)出薄板電視SPS電源解決方案。滿負(fù)荷工作條件下,電源模塊輸出總功率達(dá)175 W。解決方案提供多種組...

2012-08-01 標(biāo)簽:電源安富利電源模塊 1956 0

怎樣準(zhǔn)確測量開關(guān)損耗

一個(gè)高質(zhì)量的開關(guān)電源效率高達(dá)95%,而開關(guān)電源的損耗大部分來自開關(guān)器件(MOSFET和二極管),所以正確的測量開關(guān)器件的損耗,對(duì)于效率分析是非常關(guān)鍵的。...

2019-06-26 標(biāo)簽:開關(guān)損耗 980 0

開關(guān)損耗測量中的注意事項(xiàng)及影響因素解析

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功率損耗是開關(guān)器件性能評(píng)估的重要環(huán)節(jié),也是工程師在選配時(shí)重點(diǎn)關(guān)注的一項(xiàng)高級(jí)功能。雖然很多實(shí)驗(yàn)室配備了功率損耗測量環(huán)境,對(duì)設(shè)備和探頭也投入不菲,但如果工程...

2021-12-15 標(biāo)簽:示波器探頭開關(guān)損耗 879 0

SiC MOSFET的設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)——如何平衡性能與可靠性

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碳化硅(SiC)的性能潛力是毋庸置疑的,但設(shè)計(jì)者必須掌握一個(gè)關(guān)鍵的挑戰(zhàn):確定哪種設(shè)計(jì)方法能夠在其應(yīng)用中取得最大的成功。

2023-05-04 標(biāo)簽:MOSFETSiC開關(guān)損耗 756 0

差分探頭在測量開關(guān)損耗中的應(yīng)用

差分探頭在測量開關(guān)損耗中的應(yīng)用

開關(guān)損耗是電力電子設(shè)備中的一個(gè)重要性能指標(biāo),它直接影響到設(shè)備的效率和熱管理。差分探頭作為一種高精度的測量工具,在開關(guān)損耗的測量中發(fā)揮著關(guān)鍵作用。本文將介...

2024-08-09 標(biāo)簽:差分探頭開關(guān)損耗 485 0

芯干線GaN/SiC功率器件如何優(yōu)化開關(guān)損耗

在功率器件的世界里,開關(guān)損耗是一個(gè)繞不開的關(guān)鍵話題。

2025-05-07 標(biāo)簽:功率器件SiCGaN 149 0

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開關(guān)損耗數(shù)據(jù)手冊(cè)

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伺服電機(jī) SVPWM 光伏發(fā)電 UPS AR 智能電網(wǎng) 國民技術(shù) Microchip
瑞薩 沁恒股份 全志 國民技術(shù) 瑞芯微 兆易創(chuàng)新 芯海科技 Altium
德州儀器 Vishay Micron Skyworks AMS TAIYOYUDEN 納芯微 HARTING
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安森美 DIODES Nidec Intel EPSON 樂鑫 Realtek ERNI電子
TE Connectivity Toshiba OMRON Sensirion Broadcom Semtech 旺宏 英飛凌
Nexperia Lattice KEMET 順絡(luò)電子 霍尼韋爾 pulse ISSI NXP
Xilinx 廣瀨電機(jī) 金升陽 君耀電子 聚洵 Liteon 新潔能 Maxim
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Coilcraft LRC trinamic
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語音識(shí)別 萬用表 CPLD 耦合 電路仿真 電容濾波 保護(hù)電路 看門狗
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