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中圖儀器

深圳市中圖儀器股份有限公司是一家高新技術(shù)企業(yè),致力于全尺寸鏈精密測(cè)量?jī)x器及設(shè)備的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售。

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光柵測(cè)長(zhǎng)機(jī)設(shè)備

型號(hào): SJ5100系列
品牌: 中圖儀器(中圖儀器)

--- 產(chǎn)品參數(shù) ---

  • 注釋 更多詳細(xì)產(chǎn)品信息,請(qǐng)聯(lián)系我們獲取

--- 產(chǎn)品詳情 ---

光柵測(cè)長(zhǎng)機(jī)是一種高精度的測(cè)量設(shè)備,常用于工業(yè)生產(chǎn)中對(duì)物體長(zhǎng)度、角度和位置等參數(shù)的精確測(cè)量。其原理是利用光柵的干涉作用,通過光電檢測(cè)器將光信號(hào)轉(zhuǎn)化為電信號(hào),并經(jīng)過計(jì)算得出被測(cè)物體的尺寸。具有高精度、高速度、非接觸式測(cè)量等優(yōu)點(diǎn),廣泛應(yīng)用于機(jī)械加工、電子制造、半導(dǎo)體生產(chǎn)等領(lǐng)域。其測(cè)量精度通常可達(dá)到亞微米級(jí)別,可以滿足大多數(shù)工業(yè)生產(chǎn)對(duì)尺寸精度的要求。

 

SJ5100光柵測(cè)長(zhǎng)機(jī)設(shè)備主要構(gòu)成部分包括光柵、光源、光電探測(cè)器、信號(hào)處理器等。其中,光柵是關(guān)鍵組件之一,其特殊的結(jié)構(gòu)可以使被測(cè)物體的尺寸與光柵之間形成相位差,從而實(shí)現(xiàn)測(cè)量。

未標(biāo)題-2.jpg

產(chǎn)品描述

SJ5100光柵測(cè)長(zhǎng)機(jī)設(shè)備采用進(jìn)口高精度光柵測(cè)量系統(tǒng)、高精密研磨直線導(dǎo)軌、高精度溫度補(bǔ)償系統(tǒng)、雙向恒測(cè)力系統(tǒng)、高性能計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)技術(shù),實(shí)現(xiàn)各種長(zhǎng)度參數(shù)的高精度測(cè)量。通過高精密研磨導(dǎo)軌保證測(cè)量頭座移動(dòng)的高穩(wěn)定性及超高直線度,采用進(jìn)口高精度光柵測(cè)量系統(tǒng)記錄長(zhǎng)度方向坐標(biāo),由計(jì)算機(jī)將光柵數(shù)據(jù)與測(cè)力裝置、溫度傳感器的反饋數(shù)據(jù)及阿貝誤差數(shù)據(jù)修正后進(jìn)行數(shù)據(jù)合成(由于導(dǎo)軌較高的直線度,因此阿貝修正造成的儀器誤差小)。按被測(cè)件參數(shù)的相關(guān)定義及公式進(jìn)行分析,計(jì)算獲得相關(guān)長(zhǎng)度參數(shù)。

 

儀器主要功能

1、標(biāo)配功能:

檢測(cè)量塊&塊規(guī):(0.1~300mm);

光滑環(huán)規(guī):φ5~φ200mm(壁厚≤50 mm,高度≤50mm)、光滑塞規(guī):φ1~φ220mm;

螺紋環(huán)規(guī):M5~M200(螺距0.8~4mm)

螺紋塞規(guī):M1~M220(螺距0.25~5.5mm);

光滑卡規(guī):內(nèi)卡5~200mm,外卡1~300mm

千分尺校對(duì)桿:25~300mm;

塞尺:0.02~1mm

針規(guī):φ0.1~φ10mm

三針:0.118~6.585mm;

兩點(diǎn)內(nèi)徑千分尺:25~300mm;

2、可選配功能:

小型光滑環(huán)規(guī):φ0.8~φ5mm;

螺紋環(huán)規(guī):規(guī)格M3~M4(螺距0.5~0.7mm);

光滑錐度環(huán)規(guī):φ5~φ200mm(厚度≤50mm);

光滑錐度塞規(guī):φ5~φ60mm(長(zhǎng)度10~100mm);φ60~φ200mm(長(zhǎng)度≤50mm);

螺紋錐度環(huán)規(guī):M5~M200mm(厚度≤50mm);

螺紋錐度塞規(guī):M5~M60mm(長(zhǎng)度10~100mm);M60~M200mm(長(zhǎng)度≤50mm);

鋸齒螺紋、梯形螺紋:M3~M400(螺距0.5~6mm);

花鍵環(huán)塞規(guī)/花鍵及標(biāo)準(zhǔn)齒輪(跨棒距測(cè)量):內(nèi)φ10~φ200mm,外φ5~φ200mm,模數(shù)0.8~6mm;

外徑千分尺示值誤差手動(dòng)校準(zhǔn):25~300mm;

數(shù)顯及游標(biāo)卡尺示值誤差手動(dòng)校準(zhǔn):75~300mm;

深度千分尺示值誤差手動(dòng)校準(zhǔn):0~25、25~50、50~75mm;

三爪內(nèi)徑千分尺手動(dòng)校準(zhǔn):φ6~φ200mm;

表類(百分表、千分表、杠桿表手動(dòng)校準(zhǔn));

數(shù)顯半徑規(guī)手動(dòng)校準(zhǔn):R5~R700mm;

軸承內(nèi)外圈錐度、溝槽底徑內(nèi)外徑及溝槽寬度、精密零部件的長(zhǎng)度尺寸,內(nèi)外徑尺寸測(cè)量;

SJ51系列應(yīng)用案例2.jpg

 

SJ5100光柵測(cè)長(zhǎng)機(jī)設(shè)備智能化管理與檢測(cè)軟件系統(tǒng):

1)儀器操作界面友好,操作者很容易基本掌握儀器操作,使用十分簡(jiǎn)便;

2)十多年積累的實(shí)用軟件設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn),向客戶提供簡(jiǎn)潔、實(shí)用、便捷的操作體驗(yàn);

3)集成眾多長(zhǎng)度標(biāo)準(zhǔn)、規(guī)程,功能強(qiáng)大、自動(dòng)處理數(shù)據(jù)、打印各種格式的檢測(cè)報(bào)告,自動(dòng)顯示、打印、保存、查詢檢測(cè)記錄;

4)測(cè)量范圍廣,可滿足絕大多數(shù)類型的量規(guī)、量塊等長(zhǎng)度參數(shù)測(cè)量;

5)軟件配備快速找拐點(diǎn)指示功能,方便客戶快速便攜地找到被測(cè)件的拐點(diǎn);

6)純中文操作軟件系統(tǒng),更好的為國(guó)內(nèi)用戶服務(wù);

7)打印格式正規(guī)、美觀。檢定數(shù)據(jù)可存檔,或集中打印,不占用檢測(cè)操作時(shí)間;

8)本儀器采用計(jì)算機(jī)大容量數(shù)據(jù)庫(kù)儲(chǔ)存,可自動(dòng)記錄保存所有檢測(cè)結(jié)果。

兩點(diǎn)內(nèi)徑千分尺校準(zhǔn).jpg

方便快捷的儀器操作體驗(yàn):

1)測(cè)帽無需調(diào)節(jié),高精度測(cè)帽加工保障測(cè)量精度,直接安裝即可使用;

2)螺紋塞規(guī)測(cè)量三針帶支板,配合儀器測(cè)帽可快速的進(jìn)行螺紋塞規(guī)的中徑測(cè)量;

3)支持客戶使用模糊搜索量規(guī)標(biāo)準(zhǔn),并支持用戶特殊規(guī)格量規(guī)自動(dòng)計(jì)算公差帶。

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    SuperViewW1白光干涉儀結(jié)合數(shù)字圖像處理技術(shù)和三維重建算法來提高測(cè)量的精度和效率,揭秘并測(cè)量坑的形貌,為科學(xué)研究和工程實(shí)踐提供更有力的支持。
  • 納米級(jí)測(cè)量?jī)x器:窺探微觀世界的利器2023-10-11 13:49

    納米級(jí)測(cè)量?jī)x器在納米科技研究領(lǐng)域中扮演著重要的角色。通過共聚焦顯微鏡、光學(xué)輪廓儀等的運(yùn)用,科研人員們能夠更加深入地了解納米世界的奧秘。
  • 微納共聚焦顯微鏡:檢測(cè)摩擦學(xué)研究的重難點(diǎn)2023-09-22 09:13

    針對(duì)磨損區(qū)域較大、坡度也較為陡峭的生物摩擦和流體摩擦領(lǐng)域,采用中圖VT6000系列共聚焦顯微鏡更加匹配,其遠(yuǎn)勝于光學(xué)3D表面輪廓儀的大角度測(cè)量能力和超景深觀察功能,能夠輕松勝任磨損較為嚴(yán)重的表面形貌檢測(cè),從而幫助研究人員更加精準(zhǔn)的掌握磨損量評(píng)價(jià)數(shù)據(jù)。
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  • 先進(jìn)封裝廠關(guān)于Bump尺寸的管控2023-09-06 14:26

    BumpMetrologysystem—BOKI_1000在半導(dǎo)體行業(yè)中,Bump、RDL、TSV、Wafer合稱先進(jìn)封裝的四要素,其中Bump起著界面互聯(lián)和應(yīng)力緩沖的作用。Bump是一種金屬凸點(diǎn),從倒裝焊FlipChip出現(xiàn)就開始普遍應(yīng)用,Bump的形狀有多種,常見的為球狀和柱狀,也有塊狀等其他形狀,下圖所示為各種類型的Bump。Bump起著界面之間的電氣互聯(lián)和應(yīng)力緩沖的作用,從Bondwire