Keysight E5071C 矢量網絡分析儀
1. 產品概述
Keysight E5071C 是安捷倫科技（現為是德科技）推出的一款高性能ENA系列矢量網絡分析儀(VNA)，專為射頻和微波元器件測試而設計。該儀器在9kHz至20GHz頻率范圍內提供卓越的測量性能和測試效率，廣泛應用于研發、生產和教育領域。

2. 主要技術參數
2.1 基本性能指標
頻率范圍：9kHz - 20GHz（可擴展至8.5GHz或14GHz經濟型配置）

動態范圍：

123dB（在10Hz中頻帶寬，1GHz）

110dB（在10Hz中頻帶寬，20GHz）

軌跡噪聲：

<0.004dBrms（在10Hz中頻帶寬）

測量速度：

5ms/點（201點掃描，全雙端口校準）

輸出功率范圍：-85dBm至+10dBm

2.2 S參數測試能力
測試端口：2端口或4端口配置可選

測量參數：全S參數(S11, S21, S12, S22)同時測量

方向性：>50dB（1GHz）

端口匹配：>46dB（1GHz）

3. 硬件架構與關鍵技術
3.1 接收機系統
E5071C采用四接收機架構，包含：

參考接收機(R)

測試接收機(A/B)

傳輸接收機(B/A)
該設計實現了真正的正向和反向同步測量，顯著提高了測試效率。

3.2 信號源系統
內置合成信號源，相位噪聲<-90dBc/Hz（10kHz偏移，1GHz）

采用小數N分頻合成技術，分辨率可達0.01Hz

內置步進衰減器，1dB步進，范圍0-60dB

3.3 混頻器與中頻處理
采用諧波混頻技術擴展頻率范圍

數字中頻帶寬：1Hz至5MHz（1-3-10序列）

128dB系統動態范圍（10Hz帶寬）

4. 軟件功能與測量應用
4.1 標準測量功能
全S參數幅度/相位測量

時域變換（低通模式和帶通模式）

阻抗變換與歸一化

端口阻抗自定義（5Ω至100Ω）

4.2 高級分析功能
自動夾具去除(AFE)：可補償測試夾具的影響

時域門控：用于隔離特定器件響應

混頻器測量：支持LO輸入和IF輸出測量

差分器件測試：支持混合模式S參數測量

4.3 專用測量套件
放大器測試套件（增益壓縮，IMD）

天線測試套件（輻射模式，效率）

材料測量套件（介電常數，磁導率）

5. 校準技術與誤差修正
E5071C支持完整的12項誤差模型修正：

校準類型：

全雙端口校準

響應校準

TRL校準

電子校準(eCal)

校準標準：

開路-短路-負載-直通(OSLT)

線路反射匹配(LRM)

線路反射線路(LRL)

6. 接口與自動化
標準接口：

GPIB(IEEE-488.2)

LAN(1000BASE-T)

USB 2.0

編程支持：

SCPI命令集兼容

COM/DCOM接口

IVI-COM驅動程序

數據格式：

Touchstone文件(S1P,S2P,S4P)

CSV, MATLAB格式

7. 典型應用領域
射頻元器件測試：

濾波器、雙工器、耦合器

天線與饋線系統

電纜與連接器

有源器件表征：

放大器增益與線性度

混頻器轉換損耗

振蕩器諧波特性

材料測量：

介電材料參數提取

PCB基板特性分析

吸波材料性能評估

8. 產品優勢與特點
測量精度：

采用第三代非線性傳輸線(NLTL)技術

時基穩定性<1ppm/年

測試效率：

并行測量架構縮短測試時間

快速掃描模式達5ms/201點

操作便利性：

10.4英寸觸摸屏顯示

直觀的GUI界面

內置幫助系統和操作指南

擴展能力：

可升級至更高頻率(40GHz)

支持多端口測試擴展

可集成開關矩陣實現多DUT測試

9. 技術演進與比較
相較于前代E5071B，E5071C主要改進包括：

測量速度提升30%

軌跡噪聲降低20%

增加USB接口和更大存儲

改進的時域分析算法

與同類產品相比，E5071C在動態范圍、測量速度和多端口測試能力方面具有明顯優勢。

10. 選型與配置建議
標準配置包括：

主機(E5071C-2B5：2端口，9kHz-4.5GHz)

測試端口電纜(3.5mm或N型)

校準套件

可選升級：

頻率擴展至8.5/14/20GHz

4端口測試配置

電子校準模塊

各種測試夾具和適配器

東莞精微創達儀器作為是德科技優秀合作伙伴，提供Keysight全系列儀器儀表銷
 

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