過去幾年來,碳化硅(SiC)型功率半導(dǎo)體解決方案的使用情形大幅成長,成為各界仰賴的革命性發(fā)展。SiC這項(xiàng)全新的寬帶隙技術(shù),不僅是向前邁進(jìn)的革命性發(fā)展(例如過去幾年來每一代新型的硅功率裝置),也具有真正改變局勢的能力。
過去幾年來,碳化硅(SiC)型功率半導(dǎo)體解決方案的使用情形大幅成長,成為各界仰賴的革命性發(fā)展。推動此項(xiàng)市場發(fā)展的力量包括下列趨勢:節(jié)能、縮減體積、系統(tǒng)整合及提升可靠性。
IGBT搭配SiC二極管 寬帶隙技術(shù)改變局勢
SiC裝置定位能夠充分因應(yīng)上述市場挑戰(zhàn)。這項(xiàng)全新的寬帶隙技術(shù),不僅是向前邁進(jìn)的革命性發(fā)展(例如過去幾年來每一代新型的硅功率裝置),也具有真正改變局勢的能力。碳化硅型系統(tǒng)的革命性能力在于大幅提升效能,對于關(guān)注創(chuàng)新及劃時(shí)代解決方案的設(shè)計(jì)人員而言,相當(dāng)具有吸引力。IGBT或超接面MOSFET結(jié)合SiC二極管,已經(jīng)成為多種應(yīng)用的標(biāo)準(zhǔn)配備,例如太陽能、充電器或電源供應(yīng)。
這類組合是以快速的硅基開關(guān)搭配SiC二極管,通常稱為「混合式」解決方案。
近年來英飛凌已經(jīng)制造數(shù)百萬個(gè)混合式模塊,安裝于各種不同的客戶產(chǎn)品。
全球第一個(gè)混合式模塊是在十多年前開發(fā),以英飛凌EconoPACK封裝平臺為基礎(chǔ)(圖1)。特定應(yīng)用部門是英飛凌任何新技術(shù)的初期采用者。視實(shí)際系統(tǒng)價(jià)值而定,如果新技術(shù)成本/效能的吸引力,足以改用更高技術(shù)的新型解決方案,其他應(yīng)用就會跟進(jìn)。英飛凌將深獲肯定的SiC二極管設(shè)計(jì),應(yīng)用于高階電源供應(yīng)器之后,發(fā)現(xiàn)太陽能變頻器及升壓電路是其中最可能受益于此項(xiàng)新技術(shù)的部分。
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圖1 全球第一個(gè)混合式模塊解決方案,自2006年起生產(chǎn)。
除此之外,不斷電系統(tǒng)(UPS)及充電器等領(lǐng)域也可能跟進(jìn)。像是馬達(dá)驅(qū)動器、牽引設(shè)備,以及長期展望的汽車應(yīng)用等傳統(tǒng)部門,預(yù)計(jì)都將非常有興趣大規(guī)模改采新型半導(dǎo)體技術(shù)。
以往,能源效率是設(shè)計(jì)及營銷的關(guān)鍵,也使太陽能變頻器邁向成功。例如升壓電路使用的SiC二極管,是達(dá)到98%以上效率的最佳解決方案。
目前太陽能設(shè)計(jì)的主要趨勢,是基于減少切換損耗的方式來提升功率密度,實(shí)現(xiàn)體積更小的散熱器,此外也允許使用更高的作業(yè)頻率,藉以縮小磁鐵尺寸。 SiC二極管在現(xiàn)代太陽能變頻器及微變頻器應(yīng)用方面,正逐漸成為主要組件。最近英飛凌SiC二極管技術(shù)邁入第五代。SiC二極管則更進(jìn)一步采用縮小晶粒的方式,達(dá)到更具吸引力的成本定位。
此外,新技術(shù)功能實(shí)作之后,將較前代技術(shù)提供更多的客戶利益,例如降低正向電壓降,使導(dǎo)通損耗減少,以及提升突波電流功能,并改善崩潰行為。混合式解決方案是現(xiàn)今全球太陽能變頻器的標(biāo)準(zhǔn)作法。英飛凌已經(jīng)提供此類技術(shù)15年以上,以深獲肯定的紀(jì)錄及可靠的大量生產(chǎn),成為此項(xiàng)技術(shù)值得信賴的合作伙伴。
英飛凌采用整合式的制造概念,SiC芯片的生產(chǎn)線與大量的硅功率芯片相同,藉此保證達(dá)到與硅產(chǎn)品同等的可靠性及制程穩(wěn)定性。此外,這項(xiàng)整合式概念也在產(chǎn)能方面也有所彈性,這項(xiàng)關(guān)鍵因素有助于在快速變遷的市場上推動新興技術(shù)普及。
依據(jù)對系統(tǒng)的深入了解,并明確著重在提升成本效能,可在硅半導(dǎo)體及碳化硅半導(dǎo)體之間形成最佳組合,成功定義產(chǎn)品。
磁鐵組件尺寸大幅縮減 SiC成功在望
這項(xiàng)作法不再以純半導(dǎo)體技術(shù)推動產(chǎn)品定義,而是針對目標(biāo)系統(tǒng)量身打造的解決方案,此一發(fā)展方向是SiC成功在望的關(guān)鍵要素。從二極管技術(shù)的經(jīng)驗(yàn)看來,SiC晶體管未來幾年將以類似方式推出。這是重要的下一步,讓SiC更能與主流技術(shù)并駕齊驅(qū)。如上所述,關(guān)鍵要素為:
.深獲肯定的堅(jiān)固程度
.具吸引力的成本/效能,實(shí)現(xiàn)可評測的系統(tǒng)優(yōu)點(diǎn)
.大量生產(chǎn)能力
.依據(jù)對系統(tǒng)的了解來推動產(chǎn)品定義
多年來進(jìn)行豐富深入的研究,主要是為了了解SiC的系統(tǒng)利益。使用單極SiC晶體管的轉(zhuǎn)換器提升切換頻率,可大幅縮減磁鐵組件的體積和重量。依據(jù)英飛凌的分析,建構(gòu)于SiC裝置的轉(zhuǎn)換器相較于現(xiàn)有的硅基參考解決方案,尺寸僅為三分之一,重量則只有25%。由于體積及重量大幅縮減,系統(tǒng)成本也可降低20%以上。
未來幾年碳化硅解決方案將擴(kuò)展進(jìn)入其他應(yīng)用領(lǐng)域,例如工業(yè)或牽引裝置。這是因?yàn)槭袌隽α看偈箵p耗降低,不僅為了提升效率,也是為了縮小封裝體積(由減少散熱器需求所促成)。如圖2所示,SiC已經(jīng)用于各種高階及利基解決方案。現(xiàn)今的設(shè)計(jì)也發(fā)揮上述效益,在特定應(yīng)用領(lǐng)域降低系統(tǒng)成本。
圖2 SiC的優(yōu)點(diǎn)取決于使用場所及相關(guān)應(yīng)用
未來實(shí)作碳化硅解決方案后,會有更多應(yīng)用受益于整體的損耗降低。在此方面,下一項(xiàng)重要步驟就是采用SiC開關(guān)。
崩潰場強(qiáng)度超出10倍 碳化硅多項(xiàng)特性勝出
為了了解硅和碳化硅解決方案之間的差異,必須明確指出:碳化硅裝置屬于所謂的寬帶隙半導(dǎo)體。硅與SiC材料特性比較如圖3所示。快速以及單極的肖特基二極管與場效式碳化硅開關(guān)(MOSFET、JFET)的電壓范圍,可延伸超過1000V,原因是SiC材料本身的特性:
圖3 硅與碳化硅的材料特性比較
.高電壓肖特基二極管達(dá)成低漏電流的原因,是金屬半導(dǎo)體阻障比硅肖特基二極管高兩倍。
.相較于硅,單極晶體顯得極有吸引力,其具有特定導(dǎo)通電阻,原因是崩潰場強(qiáng)度超出約10倍。
圖4顯示不同半導(dǎo)體的最低特定導(dǎo)通電阻,與所需阻斷電壓的比較(這里僅使用漂移區(qū),基板對電阻的任何影響均忽略不計(jì))。每條線的端點(diǎn)象征特定半導(dǎo)體在單極組態(tài)的可用電壓范圍,不含超接面MOSFET。
圖4 比較碳化硅與硅的導(dǎo)通電組及阻斷電壓
SiC晶體管將成為吸引人的替代方案,取代工業(yè)功率電子領(lǐng)域現(xiàn)有的IGBT技術(shù)。
SiC獨(dú)有的材料特性,可設(shè)計(jì)無少數(shù)載子的單極裝置,取代高阻斷電壓的電荷調(diào)變IGBT裝置。這項(xiàng)效能主要基于寬帶隙提供的高臨界場。
IGBT的損耗限制,由少數(shù)載子的動力所造成。而這類少數(shù)載子將在MOSFET之中遭到消除。例如SiC MOSFET已測得100kV/μs以上的超高dv/dt斜率。一開始時(shí),相較于1,200V以上的IGBT,SiC晶體的出色動態(tài)效能是最重要的優(yōu)勢。不過,最近結(jié)果顯示IGBT技術(shù)具有龐大潛能,如英飛凌TRENCHSTOP 5技術(shù)所示。
若以長遠(yuǎn)來看,IGBT和單極SiC開關(guān)之間的基礎(chǔ)差異,將日益受到矚目。其中主要的兩大差異為:一是線性無閾值的輸出特性I-V曲線,二是整合本體二極管與同步整流選項(xiàng)的能力。依據(jù)以上特性,裝置可在同步整流模式提供無閾值的導(dǎo)通行為。此外,必要組件的數(shù)量可減少一半。這樣可以大幅縮減所需的功率模塊體積。
就系統(tǒng)層級而言,無閾值導(dǎo)通行為特性可望大幅降低損耗。許多系統(tǒng)在大半壽命期間皆于部分負(fù)載的狀況下運(yùn)作,導(dǎo)通損耗遠(yuǎn)低于競爭的標(biāo)準(zhǔn)IGBT技術(shù)。即使是在5kHz以下的極低頻率及未變更dv/dt斜率的情況下,仍然可以發(fā)現(xiàn)無閾值開關(guān)搭配整合式本體二極管(同步整流模式),相較于目前市面上的商用IGBT解決方案,共有可能降低50%的損耗。損耗比較請參閱圖5。
圖5 即使在類似IGBT的dv/dt,并于5kHz的運(yùn)作情況下,仍可減少50%的損耗。
顯然在沒有dv/dt限制以及更高切換頻率的應(yīng)用中,可以減少更多損耗。這常見于DC-DC升壓或升/降壓拓?fù)洌商峁└ ⒏p及更低成本的磁鐵組件。各種研究已經(jīng)證實(shí),雖然使用更昂貴的功率開關(guān),仍可在廣泛的應(yīng)用之中減少物料清單。就中期而言,由于預(yù)期SiC組件成本將隨時(shí)間下降,應(yīng)用數(shù)量將會增加。
達(dá)成最低導(dǎo)通電組目標(biāo) 溝槽型結(jié)構(gòu)成一大助力
SiC晶體設(shè)計(jì)的目標(biāo),是讓大部分零件達(dá)成最低的區(qū)域特定導(dǎo)通電阻。這是相當(dāng)合理的想法,因?yàn)榇隧?xiàng)參數(shù)界定成本,同時(shí)也間接影響芯片電容值造成的剩余動態(tài)損耗。在特定電阻情況下,晶粒體積越小,電容值就越低。高瑕疵密度反應(yīng)在SiC MOS裝置的各種風(fēng)格或特性之中。其中一個(gè)例子,就是跨導(dǎo)能力不如硅功率MOSFET,閾值電壓也低。
另一項(xiàng)效應(yīng)則是導(dǎo)通電阻的非物理溫度行為。物理學(xué)證實(shí)Ron一般會在更高溫度時(shí)增加。目前市面上的組件有時(shí)會顯示零或甚至負(fù)值的溫度相依性。這是因?yàn)?瑕疵相關(guān)電阻具有負(fù)的溫度系數(shù),所以會出現(xiàn)不同的溫度行為。Ron隨溫度增加的程度越少,信道瑕疵對裝置效能的影響就越高。只有增加在導(dǎo)通氧化層應(yīng)用的場值,使其超越硅MOS功率裝置經(jīng)常使用的數(shù)值,才能有效降低瑕疵相關(guān)電阻。由于導(dǎo)通氧化層的高場值,可能會加速損耗阻斷能力,長此以往,可靠性恐將隨之降低。
整體目標(biāo)是結(jié)合SiC的低Ron潛能,以及提供運(yùn)作模式,讓零件維持在經(jīng)過充分研究且安全的場氧化層條件下。若要在導(dǎo)通情況下達(dá)成此目標(biāo),可采取離開高瑕疵密度平面表面的作法,朝向其他更有利的表面方向發(fā)展。在所謂SiC表面的MOS通道,可提供至少低上10倍的瑕疵密度系數(shù)。因此其中一種可能方法,就是使用溝槽(TRENCH)型結(jié)構(gòu),類似于許多現(xiàn)代的硅功率裝置。
除了低信道電阻以外,該結(jié)構(gòu)的電池密度一般高于平面結(jié)構(gòu),能夠更有效地利用材料。此外,這種作法也可以降低區(qū)域特定導(dǎo)通電組。不過在溝槽型組件中,溝槽角落氧化層的電場應(yīng)力是關(guān)鍵問題,特別是在SiC領(lǐng)域,可能成為阻礙發(fā)展的爭議。此半導(dǎo)體芯片預(yù)定使用的電場,是硅解決方案的10倍。目前有多種可能作法,可以有效屏蔽臨界區(qū)域,例如深pn組件。相對于DMOS在導(dǎo)通方面的兩難困境,斷態(tài)方面的挑戰(zhàn)可藉由精巧設(shè)計(jì)加以解決。
強(qiáng)大的SiC開關(guān),可提供深獲肯定的堅(jiān)固程度(類似于硅組件),即使新技術(shù)往往伴隨著新挑戰(zhàn),在功率電子應(yīng)用的前景仍然一片光明,一開始必須付出更多努力,以最理想及最有效的方式善用技術(shù)。相關(guān)挑戰(zhàn)包括加速切換產(chǎn)生的EMI問題,或是大幅提升功率密度的冷卻問題。其中后者尤其難以避免,再加上芯片縮小,無法由預(yù)期的降低損耗加以抵消。
為了更快速深入掌握SiC晶體技術(shù),化解上述的合理疑慮,才是有利作法。因此必須與客戶合作,盡量簡化新技術(shù)必要的任何設(shè)計(jì)及實(shí)作程序。
取代硅組件還早 寬帶隙與硅方案共存之道
新半導(dǎo)體技術(shù)在原則上將成為滿足需求益增的關(guān)鍵要素;以功率半導(dǎo)體為基礎(chǔ)的應(yīng)用,也將因此提升功率密度及效率。不過,未來幾年的重點(diǎn)并不是取代硅組件。寬帶隙技術(shù)與硅解決方案可相互搭配,特別是在可以開創(chuàng)新應(yīng)用利基,且無法由現(xiàn)有技術(shù)解決的情況下。SiC在此成為工業(yè)功率應(yīng)用的主要創(chuàng)新成果,目標(biāo)為阻斷電壓100 V以上,且功率額定值達(dá)到數(shù)百千瓦的組件,如圖6所示。在市場成功導(dǎo)入SiC二極管技術(shù)后,SiC晶體將成為下一個(gè)重大步驟。目前寬帶隙材料預(yù)期可大幅提升效能。為了讓市場快速接受,堅(jiān)固程度及系統(tǒng)導(dǎo)向產(chǎn)品功能將是關(guān)鍵要素。
圖6 SiC開關(guān)市場1kW-500kW于10kHz-MHz頻段
(本文作者任職于英飛凌)
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