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• 發(fā)布了文章 2025-03-07 15:35

  AEC-Q102：汽車電子分立光電半導(dǎo)體元器件的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

  

  AEC-Q102是汽車電子領(lǐng)域針對(duì)分立光電半導(dǎo)體元器件的應(yīng)力測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，由汽車電子委員會(huì)（AEC）制定。該標(biāo)準(zhǔn)于2017年3月首次發(fā)布，隨后在2020年4月更新為AEC-Q102REVA版本，成為目前車用光電半導(dǎo)體元器件進(jìn)入市場(chǎng)的核心標(biāo)準(zhǔn)。AEC-Q102的核心內(nèi)容AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)主要針對(duì)汽車內(nèi)外使用的分立光電半導(dǎo)體元器件，包括但不限于LED、激光器件、光

  AEC 元器件 半導(dǎo)體 汽車電子

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• 發(fā)布了文章 2025-03-07 15:34

  集成電路可靠性試驗(yàn)項(xiàng)目匯總

  

  在現(xiàn)代電子產(chǎn)品的研發(fā)與生產(chǎn)過(guò)程中，可靠性測(cè)試是確保產(chǎn)品質(zhì)量和性能的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。可靠性測(cè)試可靠性（Reliability）是衡量產(chǎn)品耐久力的重要指標(biāo)，它反映了產(chǎn)品在規(guī)定條件下和規(guī)定時(shí)間內(nèi)完成規(guī)定功能的能力。對(duì)于集成電路（IC）等電子元器件，其失效過(guò)程可以通過(guò)“浴缸曲線”（BathtubCurve）來(lái)形象地描述。該曲線將產(chǎn)品生命周期分為三個(gè)階段：1.早夭期（Inf

  可靠性試驗(yàn) 測(cè)試 集成電路

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• 發(fā)布了文章 2025-03-07 15:33

  什么是無(wú)鹵 PCB？

  

  無(wú)鹵PCB的定義無(wú)鹵PCB是一種新型的環(huán)保型印刷電路板，其核心特征在于嚴(yán)格限制電路板中鹵素的含量。根據(jù)日本電子電路工業(yè)會(huì)（JPCA）發(fā)布的JPCA-ES-01-2003標(biāo)準(zhǔn)，無(wú)鹵PCB要求覆銅板中的氯（Cl）和溴（Br）元素含量分別小于0.09％重量比（Wt），并且氯與溴的總量不得超過(guò)0.15％（1500PPM）。禁鹵的必要性鹵素是指化學(xué)元素周期表中的鹵族元

  pcb PCB 印刷電路板

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• 發(fā)布了文章 2025-03-06 17:21

  氬離子拋光：大面積電鏡樣品制樣的最佳選擇

  

  氬離子切割與拋光技術(shù)是現(xiàn)代材料科學(xué)研究中不可或缺的樣品表面制備手段。其核心原理是利用寬離子束（約1毫米）對(duì)樣品進(jìn)行精確加工，通過(guò)離子束的物理作用去除樣品表面的損傷層或多余部分，從而為后續(xù)的微觀結(jié)構(gòu)分析提供高質(zhì)量的樣品表面。氬離子切割技術(shù)氬離子切割技術(shù)主要用于制備寬闊且精確的電子顯微分析區(qū)域。通過(guò)一個(gè)堅(jiān)固的擋板遮擋樣品的非目標(biāo)區(qū)域，有效遮蔽離子束的下半部分，從

  電鏡 離子束 鋰電

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• 發(fā)布了文章 2025-03-06 17:20

  驗(yàn)證產(chǎn)品抗沖擊性能之機(jī)械沖擊試驗(yàn)

  

  什么是機(jī)械沖擊試驗(yàn)機(jī)械沖擊試驗(yàn)是一種模擬產(chǎn)品在實(shí)際使用、運(yùn)輸和存儲(chǔ)過(guò)程中可能遭受的沖擊環(huán)境的實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)方法。其核心在于通過(guò)模擬突發(fā)、急劇且非周期性的沖擊，評(píng)估產(chǎn)品在極端條件下的功能表現(xiàn)和性能失效情況。機(jī)械沖擊試驗(yàn)的主要目的機(jī)械沖擊試驗(yàn)是評(píng)估產(chǎn)品在沖擊環(huán)境下的物理性能，包括抗沖擊強(qiáng)度和結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性。通過(guò)試驗(yàn)，可以確定產(chǎn)品在運(yùn)輸和使用過(guò)程中遇到?jīng)_擊時(shí)的安全性和可靠

  沖擊試驗(yàn) 機(jī)械 檢測(cè)

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• 發(fā)布了文章 2025-03-06 17:18

  什么是透射電鏡？

  

  透射電子顯微鏡（TEM，TransmissionElectronMicroscope），簡(jiǎn)稱透射電鏡，是一種以波長(zhǎng)極短的電子束作為照明源的高分辨率、高放大倍數(shù)的電子光學(xué)儀器。透射電子顯微鏡的工作原理是通過(guò)電子槍發(fā)射電子束，經(jīng)加速和聚焦后照射在樣品上。電子束與樣品相互作用后，強(qiáng)度和方向均發(fā)生改變，由于樣品各部位材料結(jié)構(gòu)不同，投放到熒光屏上的各點(diǎn)強(qiáng)度也會(huì)不同，從

  顯微鏡 透射 透射電鏡

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• 發(fā)布了文章 2025-03-06 17:17

  一文了解AEC-Q車規(guī)認(rèn)證

  

  AECQ認(rèn)證是汽車零部件領(lǐng)域的一項(xiàng)重要車規(guī)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)，它為汽車電子零部件的可靠性和質(zhì)量提供了明確的規(guī)范和測(cè)試要求。金鑒實(shí)驗(yàn)室作為專業(yè)的測(cè)試機(jī)構(gòu)，能夠提供符合AEC-Q標(biāo)準(zhǔn)的全面測(cè)試服務(wù)，確保汽車電子組件的可靠性與質(zhì)量，以滿足汽車行業(yè)對(duì)于安全性、持久性和穩(wěn)定性的嚴(yán)苛要求。AEC（AutomotiveElectronicsCouncil，汽車電子委員會(huì)）是由克萊斯勒

  AEC 汽車電子 車規(guī)芯片

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• 發(fā)布了文章 2025-03-05 12:48

  聚焦離子束（FIB）技術(shù)：微納加工的利器

  

  聚焦離子束（FocusedIonBeam,FIB）技術(shù)是微納加工領(lǐng)域中不可或缺的關(guān)鍵技術(shù)。它憑借高精度、高靈活性和多功能性，成為眾多微納加工技術(shù)中的佼佼者。通過(guò)精確控制電場(chǎng)和磁場(chǎng)，F(xiàn)IB技術(shù)能夠?qū)㈦x子束聚焦到亞微米甚至納米級(jí)別，實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品的直接加工和實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)。FIB技術(shù)的核心組成1.離子源：技術(shù)的核心離子源是FIB技術(shù)的核心部件。通常采用液態(tài)金屬離子源（如鎵

  fib 離子束 聚焦

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• 發(fā)布了文章 2025-03-05 12:44

  氬離子截面技術(shù)與SEM在陶瓷電阻分析中的應(yīng)用

  

  SEM技術(shù)及其在陶瓷電阻分析中的作用掃描電子顯微鏡（SEM）是一種強(qiáng)大的微觀分析工具，能夠提供高分辨率的表面形貌圖像。通過(guò)SEM測(cè)試，可以清晰地觀察到陶瓷電阻表面的微觀結(jié)構(gòu)和形態(tài)特征，從而評(píng)估其質(zhì)量。例如，可以判斷陶瓷電阻表面是否存在缺陷、裂紋或污染等問(wèn)題。這些表面特征對(duì)陶瓷電阻的性能有著直接的影響，因此SEM在陶瓷電阻的質(zhì)量控制和性能優(yōu)化中發(fā)揮著重要作用。

  SEM 顯微鏡 陶瓷電阻

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• 發(fā)布了文章 2025-03-05 12:43

  機(jī)械碰撞防護(hù)等級(jí)測(cè)試

  

  一機(jī)械碰撞防護(hù)等級(jí)（IK01~IK10）IK是指設(shè)備外殼的防沖擊防護(hù)等級(jí)，IK類似于IP防護(hù)等級(jí)，對(duì)于室外電子設(shè)備，無(wú)論是架空，地埋還是普通室外放置，都需要有相應(yīng)的IP、IK要求。IK等級(jí)是焦耳為單位的擺錘自由落體撞擊來(lái)決定的，標(biāo)識(shí)電器設(shè)備外殼對(duì)外界機(jī)械碰撞的防護(hù)等級(jí)(IK代碼)。IK代碼的特征數(shù)字組合為01到10，即：IK01，IK02，IK03，IK04

  機(jī)械 測(cè)試 防護(hù)等級(jí)

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