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在氮化鎵中利用光電化學(xué)蝕刻深層高縱橫比溝槽的進(jìn)展

kus1_iawbs2016 ? 來源:未知 ? 作者:李倩 ? 2018-09-05 16:12 ? 次閱讀

日本SCIOCS有限公司和法政大學(xué)曾報(bào)導(dǎo)了在氮化鎵(GaN)中利用光電化學(xué)(PEC)蝕刻深層高縱橫比溝槽的進(jìn)展[Fumimasa Horikiri et al, Appl. Phys. Express, vol11, p091001, 2018]。 該團(tuán)隊(duì)希望該技術(shù)能夠在高場中能夠利用GaN的高擊穿場和高電子遷移速度為電力電子技術(shù)開辟新的器件結(jié)構(gòu)。

具有p型和n型材料列的“超結(jié)”結(jié)構(gòu)是需要通過深度蝕刻技術(shù)來實(shí)現(xiàn)的。當(dāng)這種結(jié)構(gòu)結(jié)合到橫向場效應(yīng)晶體管中時,擊穿電壓能夠達(dá)到10kV以上。這種超結(jié)漂移區(qū)和其他深蝕刻結(jié)構(gòu)也會對垂直器件有益。對于激光二極管,晶片切割應(yīng)用和微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)的脊形制造,同樣需要高質(zhì)量的快速蝕刻速率工藝。目前, PEC已經(jīng)應(yīng)用于臺面,柵極凹陷和垂直腔面發(fā)射激光器(VCSEL)制造工藝上。

一般情況下,我們通過干等離子體蝕刻(如電感耦合等離子體反應(yīng)離子蝕刻(ICP-RIE))來實(shí)現(xiàn)材料表面的深度蝕刻。 但這將進(jìn)一步引起在GaN和掩模材料之間低干蝕刻選擇性的問題。高質(zhì)量的蝕刻技術(shù)往往很慢,從而縮小了深層結(jié)構(gòu)的范圍。

研究人員通過空隙輔助分離藍(lán)寶石中的n型氫化物氣相外延(HVPE)材料制備了2英寸自支撐GaN襯底(Mike Cooke, Semiconductor Today, p80, June/July 2018] - a technique developed by SCIOCS)。此時晶片的位錯密度在2×10 6cm-2至5×10 6cm-2的范圍內(nèi)。

通過金屬 - 有機(jī)氣相外延法使二極管層生長 ,形成5.8μmn-GaN肖特基勢壘二極管、2μmn+型GaN、10μmn-型GaN,500nm p-型GaN和20nm p + 型GaN p-n二極管。 將p-n二極管材料在850℃,氮?dú)夥諊型嘶?0分鐘以活化p型層中的鎂受體。 退火的效果是驅(qū)除鈍化受體的氫原子。

圖1:PEC蝕刻流程

用于PEC蝕刻的掩模材料(圖1)是鈦。 PEC蝕刻通過“光輔助陽極氧化”實(shí)現(xiàn)蝕刻GaN。 該工藝過程中,GaN釋放Ga3 +,其正電荷來自GaN /電解質(zhì)陽極界面處的紫外(UV)光產(chǎn)生的空穴。 通過在GaN晶片的背面上的歐姆接觸和作為陰極的鉑反電極之間建立的PEC的電路去除電子。 蝕刻電位為1V; 紫外線輻射由汞 - 氙燈提供,垂直入射9.0mW / cm2。 輻射和蝕刻電位以脈沖模式操作,電位為0.6占空比。

電解質(zhì)中的氫氧根離子,其與Ga3 +反應(yīng),形成Ga2O3。其中電解質(zhì)溶液中的0.01M氫氧化鈉和1%Triton X-100作為潤濕劑,以降低表面張力并有助于除泡。

這種PEC刻蝕工藝實(shí)現(xiàn)了24.9nm /分鐘的平滑表面速率,與無損傷干法蝕刻技術(shù)效果基本相同。如果將PEC速率提高到175.5nm /分鐘,則會導(dǎo)致表面粗糙,這類高速PEC可用于晶圓切割。

如果我們選擇用由90μm直徑圓點(diǎn)組成的50nm厚的鈦掩模,通過PEC蝕刻至20μm的深度,那么選擇性將大于400(20μm/ 50nm),側(cè)蝕小于1μm。

在溝槽蝕刻的實(shí)驗(yàn)中,達(dá)到的深度是由電流密度控制的,而不是沿GaN晶格的m軸或a軸的掩模取向。短寬度孔徑掩模的溝槽蝕刻速率在約30μm深度處減慢。研究人員認(rèn)為,這是由于紫外線輻射難以到達(dá)溝槽底部的蝕刻前沿。他們補(bǔ)充說,相干的紫外光源可能有助于深溝槽蝕刻。

圖2:PEC刻蝕深度與溝槽縱橫比之間的關(guān)系。

實(shí)線,虛線和虛線對應(yīng)于基于PEC與溝槽寬度的縱橫比的估計(jì),其包括在兩個壁中的0.7μm量級的側(cè)蝕。填充符號顯示實(shí)驗(yàn)結(jié)果。

由圖2可以看出實(shí)現(xiàn)的最大溝槽縱橫比為7.3(3.3μm寬度和24.3μm深度)。該團(tuán)隊(duì)說:“這種縱橫比和蝕刻深度與ICP-RIE制造的SiC溝槽的最佳結(jié)果相當(dāng),表明PEC刻蝕的優(yōu)勢不僅在于光學(xué)和電子器件的制造,而且在于制造GaN-MEMS,如晶圓,隔膜,微流體通道和光柵的通孔。”

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原文標(biāo)題:光電化學(xué)蝕刻可用于制造氮化鎵中高縱橫比深溝槽

文章出處:【微信號:iawbs2016,微信公眾號:寬禁帶半導(dǎo)體技術(shù)創(chuàng)新聯(lián)盟】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

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