基本半導體碳化硅 MOSFET 的 Eoff 特性及其在電力電子領域的應用
一、引言
在電力電子技術飛速發展的今天,碳化硅(SiC)MOSFET 憑借其卓越的性能,成為推動高效能電力轉換的關鍵器件。其中,關斷損耗(Eoff)作為衡量器件開關性能的重要指標,直接影響著系統的效率、發熱和可靠性。本文將聚焦于基本半導體碳化硅 MOSFET 的 Eoff 特性,深入探討其技術優勢及在電力電子領域的廣泛應用。
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二、碳化硅 MOSFET 的 Eoff 特性解析
(一)Eoff 的定義與影響因素
關斷損耗(Eoff)是指 MOSFET 在關斷過程中,由于電壓和電流的交疊而產生的能量損耗。其大小主要與以下因素相關:
器件物理結構:SiC MOSFET 的平面柵或溝槽柵結構會影響載流子的復合速度和電場分布,進而改變關斷過程的能量釋放路徑。例如,基本半導體的 B3M 系列采用優化的平面柵工藝,相比溝槽柵器件,在高溫下能更穩定地控制 Eoff 增長幅度。
寄生參數:器件的寄生電容(如 Coss、Crss)和引線電感會延長關斷瞬態過程,導致 Eoff 增加?;景雽w通過改進封裝技術(如 TO-247-4、TOLT 封裝),有效降低了寄生電感,從而減少關斷損耗。
工作條件:母線電壓(VDS)、負載電流(ID)、結溫(Tj)以及驅動參數(如柵極電阻 Rg)均會對 Eoff 產生顯著影響。例如,在雙脈沖測試中,當 VDS=800V、ID=40A 時,基本半導體 B3M040120Z 的 Eoff 為 162μJ,優于國際品牌 C3M0040120K 的 231μJ。
(二)基本半導體SiC MOSFET 的 Eoff 技術優勢
低 Eoff 設計:通過優化芯片結構和外延層參數,基本半導體第三代 SiC MOSFET(如 B3M 系列)的 Eoff 較第二代產品降低約 18%。例如,B3M040065Z 在 6.6kW OBC 應用中,關斷損耗僅為 42μJ,顯著提升了系統效率。
高溫穩定性:6SiC 材料的寬禁帶特性使其在高溫下仍能保持低 Eoff 特性。測試數據顯示,當結溫從 25℃升至 125℃時,B3M040120Z 的 Eoff 僅增加約 17%,而溝槽柵結構的競品增幅可達 30% 以上。
米勒鉗位技術:搭配專用驅動芯片(如 BTD5350MCWR)的米勒鉗位功能,可有效抑制關斷過程中的電壓振蕩,進一步降低 Eoff。實驗表明,啟用米勒鉗位后,下管門極電壓波動從 7.3V 降至 2V,關斷損耗減少約 30%。
三、Eoff 特性在電力電子領域的應用場景
(一)車載充電電源(OBC)
在車載 OBC 系統中,高效的功率轉換是關鍵。基本半導體 SiC MOSFET 的低 Eoff 特性使其在單級 PFC+LLC 拓撲中表現優異。例如,6.6kW OBC 方案采用 B3M040065Z 作為 LLC 原邊器件,其 Eoff 僅為 6.62μJ,配合驅動芯片 BTD5350MCPR,系統效率可達 96% 以上。此外,在三相 PFC+CLLC1拓撲的 22kW OBC 中,AB2M040120Z 的 Eoff 特性助力實現了雙向能量流動的高效控制。
車載 DC-DC 轉換器需在有限空間內實現高功率密度和低發熱。基本半導體 SiC MOSFET 的低 Eoff 特性使其在 400V/800V 電池平臺的 LLC 轉換中優勢顯著。例如,800V 平臺下,B2M160120Z 作為 LLC 原邊器件,結合驅動芯片 BTD25350MMCWR,可將 DC-DC 功率損耗降低 20% 以上,滿足車載低壓系統的高效供電需求。
(三)壁掛式小直流樁
在壁掛式小直流樁中,高頻化設計是提升功率密度的關鍵?;景雽w SiC MOSFET 的低 Eoff 特性允許開關頻率提升至 65kHz 以上,同時保持低損耗。仿真數據顯示,采用 B3M040065Z 的無橋 PFC 拓撲在 264Vac 輸入下,總損耗僅為 20.97W,結溫控制在 128.71℃,確保了充電樁的長期穩定運行。
(四)工業與能源領域
在工業電源、光伏儲能等場景中,SiC MOSFET 的高溫穩定性和低 Eoff 特性尤為重要。例如,在光伏儲能的 BUCK-BOOST 電路中,B3M040120Z 在 125℃結溫下仍能保持低關斷損耗,支持系統在寬溫域環境下高效運行。此外,在焊機電源的全橋拓撲中,其低 Eoff 特性可減少焊接過程中的能量損耗,提升焊接效率和質量。
四、結論與展望
基本半導體碳化硅 MOSFET 憑借其優異的 Eoff 特性,在車載充電、新能源轉換等電力電子領域展現出顯著的技術優勢。隨著 SiC 工藝的不斷進步和驅動技術的完善,未來其 Eoff 特性將進一步優化,推動電力電子系統向更高效率、更高功率密度和更低成本的方向發展。對于工程師而言,深入理解并合理利用 SiC MOSFET 的 Eoff 特性,將為設計下一代高效能電力電子設備提供關鍵技術支撐。
審核編輯 黃宇
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