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半導體制造中的高溫氧化工藝介紹

中科院半導體所 ? 來源:半導體與物理 ? 2025-06-07 09:23 ? 次閱讀

文章來源:半導體與物理

原文作者:jjfly686

本文介紹了半導體制造中的一種高溫氧化工藝——原位水蒸汽生成。

一、ISSG是什么?

ISSG(In-Situ Steam Generation,原位水蒸汽生成)是半導體制造中的一種高溫氧化工藝,核心原理是利用氫氣(H?)與氧氣(O?)在反應腔內直接合成高活性水蒸氣,并解離生成原子氧(O*),實現對硅表面的精準氧化。與傳統爐管氧化不同,ISSG的特點在于:原位生成:水蒸氣直接在晶圓表面生成,避免外部引入污染;原子級修復:原子氧的強氧化性可修復硅/二氧化硅界面的懸掛鍵,降低界面態密度至101? cm?2以下(較傳統工藝降低10倍);低溫突破:近年發展的低溫ISSG可在600℃以下工作。

二、ISSG工藝流程

預處理與氣體注入

晶圓經清洗脫水后送入反應腔,通入H?與O?混合氣體(比例0.1%-99.9%),流量1-100slm/s。

氣壓調節至5.5-8Torr(低壓環境增強反應活性)。

高溫激活與原子氧生成

晶圓快速升溫至900-1100℃,氣體在熱催化下反應:

2H? + O? → 2H?O → 2H? + O + e?

生成高活性原子氧。

氧化層生長與厚度控制

原子氧與硅襯底反應:Si + 2O* → SiO?,形成0.5-2nm超薄氧化層。

壓力動態調節技術:通過5段壓力循環(如6.5Torr→5.5Torr→6.5Torr交替)補償邊緣與中心氣壓差,解決薄膜“M型”厚度分布問題)。

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三、ISSG在芯片制造中的關鍵應用

1. 柵極界面層

在High-k金屬柵(HKMG)工藝中,ISSG生長0.5-1.2nm SiO?界面層,優化HfO?與硅襯底的界面態。

作用:降低柵極漏電流(90nm節點漏電流減少50%),提升電子遷移率。

8850f612-412c-11f0-b715-92fbcf53809c.png

2. GAA納米結構圓角化

在GAA(全環繞柵極)晶體管中,納米片釋放后邊緣存在尖銳角,引發電場集中。低溫ISSG(<600℃) 通過選擇性氧化將尖角修飾為圓角。

效果:擊穿電壓提升30%,避免柵極提前失效。

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原文標題:芯片制造:ISSG工藝

文章出處:【微信號:bdtdsj,微信公眾號:中科院半導體所】歡迎添加關注!文章轉載請注明出處。

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