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LED芯片發(fā)光均勻度測(cè)試引領(lǐng)芯片電極圖案設(shè)計(jì)

金鑒實(shí)驗(yàn)室 ? 2025-06-06 15:30 ? 次閱讀

芯片電極圖案設(shè)計(jì)的重要性

當(dāng)前,芯片廠在LED芯片電極圖案設(shè)計(jì)過(guò)程中,僅僅是針對(duì)芯片進(jìn)行相對(duì)簡(jiǎn)單的測(cè)量,獲得整體的亮度、波長(zhǎng)和電壓等參數(shù),并不能精確地描述芯片的光分布情況,這樣容易導(dǎo)致芯片的色度和亮度不均勻、光源整體效率低等問(wèn)題。而由于缺乏專業(yè)的測(cè)試設(shè)備和測(cè)試經(jīng)驗(yàn),LED芯片廠對(duì)芯片發(fā)光不均勻的現(xiàn)象束手無(wú)策,沒(méi)有直觀的數(shù)據(jù)支持,無(wú)法從根本上改進(jìn)芯片品質(zhì)。

通過(guò)LED芯片發(fā)光均勻度測(cè)試,可以從特定角度拍攝芯片影像,建立一個(gè)芯片亮度輸出的發(fā)光圖像,接收被測(cè)芯片的光信號(hào),提供芯片發(fā)光效果圖和光強(qiáng)數(shù)據(jù)。其中,芯片發(fā)光效果圖能直觀地體現(xiàn)出芯片發(fā)光的均勻程度,判斷電極圖案設(shè)計(jì)的優(yōu)劣,明確改進(jìn)方向,優(yōu)化電極圖案。

發(fā)光均勻度評(píng)判電極圖案設(shè)計(jì)的優(yōu)劣

芯片的電極圖案對(duì)芯片的整體亮度、發(fā)光效率、電壓大小影響較大。根據(jù)芯片的發(fā)光均勻度進(jìn)行電極圖案優(yōu)化后,可以改善電流擴(kuò)展分布能力,提高電流分布的均勻性,減小電流聚集效應(yīng),降低工作電壓,減小串聯(lián)電阻,減少焦耳熱的產(chǎn)生,減弱紅移現(xiàn)象,從而提升芯片的可靠性。

優(yōu)化電極圖案的過(guò)程中,要兼顧電流擴(kuò)展性和遮光面積。例如,對(duì)于電極圖案設(shè)計(jì),可增加低亮度區(qū)域金手指的長(zhǎng)度,來(lái)增加電流擴(kuò)展性,提升低亮度區(qū)域的亮度;同樣,也可以縮小高亮地區(qū)的金手指寬度,減少該區(qū)域的電流擴(kuò)展性,降低亮度,以達(dá)到提高芯片整體發(fā)光均勻度的目的。

又例如,對(duì)于低亮度區(qū)域還可以設(shè)置電流擴(kuò)展層或增加電流擴(kuò)展層厚度,以增加電流擴(kuò)展性;相反,對(duì)于高亮度就可以設(shè)置電流阻擋層來(lái)減小電流密度,以形成均勻分布的電流,同樣可以達(dá)到提高芯片整體發(fā)光均勻度的目的。一般,在發(fā)光均勻度滿足要求的情況下,要盡量減少遮光面積,提升發(fā)光效率。

LED芯片電極圖案設(shè)計(jì)與發(fā)光均勻度優(yōu)化是一個(gè)復(fù)雜而關(guān)鍵的環(huán)節(jié),它直接關(guān)系到芯片的性能和品質(zhì)。通過(guò)專業(yè)的發(fā)光均勻度測(cè)試,可以直觀地了解芯片的發(fā)光情況,為電極圖案的優(yōu)化提供科學(xué)依據(jù)。

因此,芯片廠應(yīng)高度重視電極圖案設(shè)計(jì)與發(fā)光均勻度優(yōu)化工作,積極引入專業(yè)的測(cè)試設(shè)備和技術(shù),不斷提升芯片的設(shè)計(jì)水平和制造工藝,以滿足市場(chǎng)對(duì)高性能LED芯片的需求。

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