近期受晶圓廠委托， 季豐在執(zhí)行完SRAM芯片在中子輻射下SER測試后， 通過對SRAM芯片的深入研究，對測試失效數(shù)據(jù)的分析，將邏輯失效地址成功轉換為物理坐標地址，最終在圖像上顯示失效位置，幫助客戶直觀地看到失效點分布位置。 通過多個失效芯片圖像的疊加，客戶可以看到多個芯片失效積累效果。

單個芯片失效分布區(qū)域圖

12個芯片失效分布區(qū)域疊加圖

01傳統(tǒng)測試的三大痛點，你中招了嗎?

1數(shù)據(jù)整合難：

多電壓(High/Low/Normal)測試數(shù)據(jù)分散在Excel，手動整合耗時易錯

2錯誤定位模糊：

MCU、SBU、SEU缺陷類型混雜，肉眼難分辨

3報告不直觀：

表格堆砌數(shù)據(jù)，故障分布全靠“猜”

現(xiàn)在，用季豐工具一鍵解決：

勾選缺陷類型

導入數(shù)據(jù)

生成高清熱力圖

缺陷位置、類型一目了然!

02技術突破：

從“模糊區(qū)域”到“物理地址”

智能標記，精準到“像素級”

1顏色+圖形雙重區(qū)分：

? MCU錯誤：藍色圓形標記(邏輯單元故障)

? SBU錯誤：紅色五角星(存儲單元異常)

? SEU錯誤：藍色圓形標記+紅色五角星(單粒子效應問題)

2無損高清導出：

PNG圖片放大至1000%仍清晰，細節(jié)不丟失

3無縫對接：

原生支持Excel/CSV測試數(shù)據(jù)導入，支持導入多個數(shù)據(jù)，保留原始數(shù)據(jù)完整性

03適用場景

1適用場景：

? 研發(fā)調試：快速驗證不同電壓下的芯片穩(wěn)定性

? 測試數(shù)據(jù)：精準定位芯片錯誤地址，評估芯片性能

? 質檢團隊：批量生成報告，追溯工藝缺陷

? 故障復盤：定位高頻錯誤區(qū)域，優(yōu)化設計或測試方案

2實測數(shù)據(jù)：

? 效率提升：處理測試數(shù)據(jù)時間從2小時縮短至10分鐘

? 錯誤檢出率：人工漏檢率從12%降至0.5%

季豐電子

季豐電子成立于2008年，是一家聚焦半導體領域，深耕集成電路檢測相關的軟硬件研發(fā)及技術服務的賦能型平臺科技公司。公司業(yè)務分為四大板塊，分別為基礎實驗室、軟硬件開發(fā)、測試封裝和儀器設備，可為芯片設計、晶圓制造、封裝測試、材料裝備等半導體產業(yè)鏈和新能源領域公司提供一站式的檢測分析解決方案。

季豐電子通過國家級專精特新“小巨人”、國家高新技術企業(yè)、上海市“科技小巨人”、上海市企業(yè)技術中心、研發(fā)機構、公共服務平臺等企業(yè)資質認定，通過了ISO9001、 ISO/IEC17025、CMA、CNAS、IATF16949、ISO/IEC27001、ISO14001、ISO45001、ANSI/ESD S20.20等認證。公司員工超1000人，總部位于上海，在浙江、北京、深圳、成都等地設有子公司。