分立器件測試晶體管圖示儀靜態/動態參數SC2010半導體測試系統
SC2010半導體分立器件測試系統
一、系統定位
作為STI5000系列測試機的國產化替代方案，SC2010系統實現了：
全自動I-V特性曲線生成
可編程功能測試模塊
實時數字化結果顯示
二、核心性能
測試效率
單點測試時間：6-20ms
百點曲線生成：＜5s
安全保障
門極過壓保護（OVP）
自診斷測試代碼系統
實時狀態監測
三、技術參數矩陣
指標項參數范圍分辨率測試電壓0-2000V1mV測試電流0-100A0.1nA測試精度0.2%+2LSB-脈沖寬度300μs-5ms-
四、應用場景
工業領域
封裝產線QC檢測
器件失效分析
組合器件測試
科研領域
高校實驗教學
研究所參數研究
新型器件開發
五、數據管理
輸出格式：Excel/Word雙格式
分析工具：ATE專業軟件
曲線精度：逐點校準技術
審核編輯 黃宇
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