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BW-3010B 晶體管光耦參數(shù)測(cè)試儀(雙功能版)

博微電通科技 ? 來(lái)源:jf_25720899 ? 作者:jf_25720899 ? 2024-06-19 15:39 ? 次閱讀
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BW-3010B

晶體管光耦參數(shù)測(cè)試儀(雙功能版)


品牌: 博微電通

名稱:晶體管光耦參數(shù)測(cè)試儀(光耦&光電傳感器雙功能版)

型號(hào): BW-3010B

用途: BW-3010B型光藕參數(shù)測(cè)試儀是專為各種4腳三極管型的光電耦合器的功能和參數(shù)測(cè)試及參數(shù)”合格/不合格”(OK/NO)判斷測(cè)試。

BW-3010B型光藕參數(shù)測(cè)試儀是專為各種4腳三極管型的光電耦合器和光電傳感器的功能和參數(shù)測(cè)試及參數(shù)”合格/不合格”(OK/NO)判斷測(cè)試,BW-3010B為各種三極管型4腳光藕提供了輸入正向壓降(VF)和輸出反向耐(ICEO)、耐壓BVCEO、傳輸比(CTR)等 。中文軟件界面友好,簡(jiǎn)化了系統(tǒng)的操作和編程,提供了快速的一次測(cè)試條件和測(cè)試參數(shù)的設(shè)定,測(cè)試條件及數(shù)據(jù)同步存入EEPROM中,測(cè)試條件可以任意設(shè)置,測(cè)試正向壓降和輸出電流可達(dá)1A,操作簡(jiǎn)便,實(shí)用性強(qiáng)。廣泛應(yīng)用與半導(dǎo)體電子行業(yè)、新能源行業(yè)、封裝測(cè)試、家電行業(yè)、科研教育等領(lǐng)域來(lái)料檢驗(yàn)、產(chǎn)品選型等重要檢測(cè)設(shè)備之一。

產(chǎn)品電氣參數(shù):

產(chǎn)品信息

產(chǎn)品型號(hào):BW-3022A

產(chǎn)品名稱:晶體管光耦參數(shù)測(cè)試儀;

物理規(guī)格

主機(jī)尺寸:深 305*寬 280*高 120(mm)

主機(jī)重量:<4.5Kg

主機(jī)顏色:白色系

電氣環(huán)境

主機(jī)功耗:<75W

環(huán)境要求:-20℃~60℃(儲(chǔ)存)、5℃~50℃(工作);

相對(duì)濕度:≯85%;

大氣壓力:86Kpa~106Kpa;

防護(hù)條件:無(wú)較大灰塵,腐蝕或爆炸性氣體,導(dǎo)電粉塵等;

電網(wǎng)要求:AC220V、±10%、50Hz±1Hz;

工作時(shí)間:連續(xù);


服務(wù)領(lǐng)域:

image.png

應(yīng)用場(chǎng)景:

?選型配對(duì)(在器件焊接至電路板之前進(jìn)行全部測(cè)試,將測(cè)試數(shù)據(jù)比較一致的器件進(jìn)行分類配對(duì))

?檢驗(yàn)篩選(研究所及電子廠的質(zhì)量部(IQC)對(duì)入廠器件進(jìn)行抽檢/全檢,把控器件的良品率)

產(chǎn)品特點(diǎn):

?大屏幕液晶,中文操作界面,顯示直觀簡(jiǎn)潔,操作方面簡(jiǎn)單

?大容量EEPROM存儲(chǔ)器,儲(chǔ)存量可多達(dá)1000種設(shè)置型號(hào)數(shù).

?全部可編程的DUT恒流源和電壓源.

?內(nèi)置繼電器矩陣自動(dòng)連接所需的測(cè)試電路,電壓/電流源和測(cè)試回路.

?高壓測(cè)試電流分辨率1uA,測(cè)試電壓可達(dá)1500V;

?重復(fù)”回路”式測(cè)試解決了元件發(fā)熱和間歇的問題;

?軟件自校準(zhǔn)功能;

?自動(dòng)測(cè)試測(cè)DUT短路、開路或誤接現(xiàn)象,如果發(fā)現(xiàn),就立即停止測(cè)試;

?DUT的功能檢測(cè)通過LCD顯示出被測(cè)器件/DUT的類型,顯示測(cè)試結(jié)果是否合格,并有聲光提示;

?兩種工作模式:手動(dòng)、自動(dòng)測(cè)試模式。

BW-3010B主機(jī)和DUT的管腳對(duì)應(yīng)關(guān)系

型號(hào)類型

P1

T1

P2

T2

P3

T3

P4

T4

光藕PC817

A

A測(cè)試端

K

K測(cè)試端

E

E測(cè)試端

C

C測(cè)試端

BW-3010B測(cè)試技術(shù)指標(biāo):

1、光電傳感器指標(biāo):

輸入正向壓降(VF)

測(cè)試范圍

分辨率

精度

測(cè)試條件

0-2V

2mV

<1%+2RD

0-1000MA



反向電流(Ir)

測(cè)試范圍

分辨率

精度

測(cè)試條件

0-200UA

0.2UA

<2%+2RD

VR:0-20V



集電極電流(Ic)

測(cè)試范圍

分辨率

精度

測(cè)試條件

0-40mA

0.2MA

<1%+2RD

VCE:0-20V IF:0-40MA

輸出導(dǎo)通壓降(VCE(sat))

測(cè)試范圍

分辨率

精度

測(cè)試條件

0-2.000V

2mV

1% +5RD

IC:0-40mA

IF:0-40mA

輸出漏電流(Iceo)

測(cè)試范圍

分辨率

精度

測(cè)試條件

0-2.000mA

2UA

<2%+2RD

VR:0-20V

2、光電耦合器:

耐壓(VCEO)測(cè)試指標(biāo)

測(cè)試范圍

分辨率

精度

測(cè)試條件

0-1400V

1V

<2%+2RD

0-2mA

輸入正向壓降(VF)

測(cè)試范圍

分辨率

精度

測(cè)試條件

0-2V

2mV

<1%+2RD

0-1000MA

反向漏電流(ICEO)

測(cè)試范圍

分辨率

精度

測(cè)試條件

0-2000uA

1UA

<5% +5RD

BVCE=25V

反向漏電流(IR)

測(cè)試范圍

分辨率

精度

測(cè)試條件

0-2000uA

1UA

<5% +5RD

VR=0-20V

電流傳輸比(CTR)

測(cè)試范圍

分辨率

精度

測(cè)試條件

0-9999

1%

1% +5RD

BVCE:0-20V

IF:0-100MA

輸出導(dǎo)通壓降(VCE(sat))

測(cè)試范圍

分辨率

精度

測(cè)試條件

0-2.000V

2mV

1% +5RD

IC:0-1.000A

IF:0-1.000A

可分檔位總數(shù):10檔

BW-3010B測(cè)試定義與規(guī)范:

AKEC:表示引腳自左向右排列分別為 光耦的,A K E C極.

VF:IF: 表示測(cè)試光耦輸入正向VF壓降時(shí)的測(cè)試電流.

Vce:Bv:表示測(cè)試光耦輸出端耐壓BVCE時(shí)輸入的測(cè)試電壓.

Vce:Ir: 表示測(cè)試光耦輸出端耐壓BVCE時(shí)輸入的測(cè)試電流.

CTR:IF:表示測(cè)試光耦傳輸比時(shí)輸入端的測(cè)試電流。

CTR:Vce:表示測(cè)試光耦傳輸比時(shí)輸出端的測(cè)試電壓。

Vsat:IF:表示測(cè)試光耦輸出導(dǎo)通壓降時(shí)輸入端的測(cè)試電流。

Vsat:Ic:表示測(cè)試光耦輸出導(dǎo)通壓降時(shí)輸出端的測(cè)試電流。

審核編輯 黃宇

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