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PCB高可靠性化要求與發(fā)展——PCB高可靠性的影響因素(上)

大研智造 ? 來源:jf_44781395 ? 作者:jf_44781395 ? 2024-10-11 11:20 ? 次閱讀

在電子工業(yè)的快速發(fā)展中,印刷電路板(PCB)的可靠性始終是設(shè)計(jì)和制造的核心考量。隨著集成電路(IC)的集成度不斷提升,PCB不僅需要實(shí)現(xiàn)更高的組裝密度,還要應(yīng)對(duì)高頻信號(hào)傳輸?shù)奶魬?zhàn)。這些趨勢(shì)對(duì)PCB的可靠性提出了更為嚴(yán)格的要求,特別是在焊接點(diǎn)的結(jié)合力、熱應(yīng)力管理以及焊接點(diǎn)數(shù)量的增加等方面。本文將探討影響PCB可靠性的關(guān)鍵因素,并分析當(dāng)前和未來提高PCB可靠性的制造技術(shù)發(fā)展趨勢(shì)。

1 PCB焊接點(diǎn)界面間結(jié)合力減小對(duì)可靠性的影響

在很大的程度上,PCB的可靠性是由PCB與元器件焊接點(diǎn)界面之間的結(jié)合力大小來確定的,而焊接點(diǎn)界面的結(jié)合力大小是由焊接點(diǎn)面積與焊接的結(jié)合強(qiáng)度之積來表達(dá)的。所以,PCB與元器件焊接點(diǎn)的界面結(jié)合力必須保證足夠大,使其結(jié)合力能夠抵抗各種產(chǎn)生“拉扯”內(nèi)應(yīng)力的“破壞”,才能保證可靠性。

1.1 PCB高密度化帶來焊接點(diǎn)面積減小。

PCB和元器件之間焊接點(diǎn)面積是隨著PCB高密度化的提高而減小的。大家知道,PCB由插裝技術(shù)(THT)走向表面安裝技術(shù)(SMT)、再走向芯片級(jí)封裝(CSP)的過程中,PCB的高密度化一直在提高著。目前,隨著IC集成度提高、組裝技術(shù)的進(jìn)步,要求PCB必須高密度化。目前,CSP組裝技術(shù)已經(jīng)走向或集中在0.5 mm的節(jié)距,其相應(yīng)的PCB線寬/間隔(L/S)要求為50 μm/50 μm,正在向0.3 mm節(jié)距發(fā)展,要求PCB線寬/間隔為30 μm/30 μm!安裝面積將縮小16倍之多!隨著焊接點(diǎn)面積的減少,會(huì)增加焊接難度而增加故障數(shù)量,從而加大故障率,即使故障率不變,也會(huì)增加故障數(shù)量,因?yàn)楹附狱c(diǎn)數(shù)增加了。PCB焊接點(diǎn)面積縮小的結(jié)果見表1所示。

wKgaoWcImW-AVZ6iAAA1UIogzFM024.jpg

表1 焊接盤直徑的減小而帶來焊接圓盤面積的下降(以0.80 mm盤徑為基準(zhǔn))

從表1中可看到,由于PCB高密度化而帶來焊接盤徑從0.80 mm減小到0.2 mm時(shí),焊接點(diǎn)的面積便減小到原來的1/16(6.25%)。

1.2 焊接點(diǎn)面積減小帶來的焊接結(jié)合力的減小。

高密度化的發(fā)展與進(jìn)步,不僅帶來線寬/間隔(L/S)、孔徑細(xì)小化,而且連接盤面積也隨著縮小,這意味著元組件與PCB之間的連接的結(jié)合力也減少了。因?yàn)椋M件與PCB之間焊接點(diǎn)的結(jié)合力(F 結(jié)合)的大小是由結(jié)合強(qiáng)度(f 強(qiáng)度)和連接點(diǎn)面積(S 面積)之積來決定的,一旦焊接材料和方法確定后,結(jié)合強(qiáng)度f 強(qiáng)度是不變的,主要是焊接面積來決定著結(jié)合力的大小。

F結(jié)合= f強(qiáng)度×S面積……………… (1)

從公式(1)中可看出:隨著PCB高密度化的發(fā)展,焊接點(diǎn)面積(S 面積)將減小,必然帶來焊接點(diǎn)結(jié)合力(F 結(jié)合)的減小。以方形焊接面積為例,其邊長(zhǎng)從0.8 mm減小到0.2 mm時(shí),則焊接面積將從0.64 mm2→0.04 mm2,假設(shè)結(jié)合強(qiáng)度f強(qiáng)度不變,則焊接點(diǎn)的結(jié)合力將下降到原來的6.25%。如表2所示。

wKgZoWcImXCAF1ZWAAA2nuGC9MA865.jpg

從表2可看出,當(dāng)焊接 方盤從0.8 mm下降到0.2 mm 時(shí)(結(jié)合強(qiáng)度保持不變),焊接盤的結(jié)合力僅為原來的1/16(6.25%),所以高密度化的發(fā)展結(jié)果必然帶來連接界面的結(jié)合力迅速的減少!

1.3 增加焊接點(diǎn)界面結(jié)合力的方法。

在PCB的密度不高時(shí),焊接點(diǎn)的形狀大都采用圓形的,有利于設(shè)計(jì)和加工制造。但是,當(dāng)PCB的密度越來越高時(shí),由于圓形面積最小,焊接點(diǎn)的結(jié)合力也最小!為了提高結(jié)合力,增加焊接點(diǎn)直徑受到導(dǎo)體間隔的限制,當(dāng)然可以直徑為邊長(zhǎng)的方形或長(zhǎng)方形而形成的焊接盤就可以提高焊接面積,從而提高焊接點(diǎn)的結(jié)合力,達(dá)到提高焊接點(diǎn)的可靠性(表3)。

wKgaoWcImXCAKB-DAABU09vaJRw641.jpg

從表3 中可看到,以圓形直徑為邊長(zhǎng)的方形焊盤的結(jié)合力比圓形的結(jié)合力將提高26%,而采用長(zhǎng)方形(1:2)的焊接盤可以一倍多(152%)地增加焊接點(diǎn)的結(jié)合力!這就是為什么在高密度化PCB中的焊接盤大多采用方形焊盤或長(zhǎng)方形焊盤的根本原因!

2 PCB焊接點(diǎn)界面間熱應(yīng)力增加對(duì)可靠性的影響

2.1 熱應(yīng)力的實(shí)質(zhì)是熱膨脹系數(shù)差別帶來的結(jié)果

任何物質(zhì)都存在著熱脹冷縮和“濕脹干縮”的物理現(xiàn)象。“濕脹干縮”的變化是個(gè)緩慢的過程,因而引起尺寸變化要慢得多、也小得多!而熱(溫度)變化是往往是在瞬間(如幾秒時(shí)間)就發(fā)生了尺寸的大變化,所以溫度(熱)膨脹系數(shù)(CTE)才是我們主要關(guān)注的課題。元器件和PCB(主要基板)的溫度膨脹系數(shù)和濕度膨脹系數(shù)的數(shù)據(jù)列于表4中。

wKgZoWcImXGAVKnbAACbBM-PKCw593.jpg

從表4中可看到,只有玻璃基板和陶瓷基板的CTE和元器件的CTE最接近,而PCB的CTE要比元器件的CTE要大得多,這就是元器件和PCB在焊接點(diǎn)界面處發(fā)生“拉扯”內(nèi)應(yīng)力的本質(zhì)所在!因?yàn)镻CB在應(yīng)用過程必然有引起溫升,由于PCB和元器件的CTE大小不同,在焊接點(diǎn)處由溫升發(fā)生尺寸變化也就不一樣,即元器件的CTE小、其尺寸伸長(zhǎng)小,而PCB的CTE大得多,其尺寸伸長(zhǎng)就大得多,因此,在焊接點(diǎn)界面處必然存在著尺寸變化大的“拉扯”著尺寸伸長(zhǎng)小的而形成“拉扯”(熱)應(yīng)力!如果溫升很高,這種“拉扯”內(nèi)應(yīng)力也就很大,一旦這種“拉扯”內(nèi)應(yīng)力接近或大于焊接點(diǎn)的結(jié)合力時(shí),就會(huì)引起焊接點(diǎn)界面發(fā)生斷裂而失效率!

2.2 熱應(yīng)力的本質(zhì)是PCB內(nèi)部溫升的結(jié)果

PCB和元器件焊接點(diǎn)界面處的熱應(yīng)力產(chǎn)生的實(shí)質(zhì)是由于兩者的CTE不同引起尺寸伸長(zhǎng)不一樣的結(jié)果,溫升才是形成熱應(yīng)力的必然結(jié)果!那么焊接點(diǎn)的溫升是怎樣發(fā)生呢?熱的來源主要有三個(gè)方面:

(1)PCB高密度化程度;(2)PCB內(nèi)信號(hào)傳輸高頻化程度;(3)PCB上負(fù)載(功率)大小(密度)。這三個(gè)方面將決定著內(nèi)部溫升的大小。

2.2.1 PCB高密度化引起的溫升

PCB高密度化的結(jié)果,不僅會(huì)帶來焊接點(diǎn)結(jié)合力的減小,而且PCB內(nèi)部負(fù)載的增加,而這種內(nèi)部負(fù)載增加是指在單位體積內(nèi)將有更多的“導(dǎo)電”通過(信號(hào)傳輸),這就必然帶來更多的導(dǎo)電損耗(αc)和介質(zhì)損耗(αd).

α=αc +αd …………………………式(2)

這就是PCB在使用過程中內(nèi)部產(chǎn)生(除了元器件發(fā)熱和傳導(dǎo)熱外)熱的根本原因,而PCB高密度化就意味著發(fā)生的熱更多了,也就意味著PCB內(nèi)部產(chǎn)生的溫升更多和加快。

2.2.2 PCB內(nèi)信號(hào)傳輸高頻化引起的溫升

PCB內(nèi)信號(hào)傳輸高頻化意味著在單位時(shí)間內(nèi)通過的信號(hào)傳輸次數(shù)增加了,在也意味著在單位時(shí)間內(nèi)發(fā)生導(dǎo)電損耗(αc)和介質(zhì)損耗(αd).等次數(shù)也增加了,這些導(dǎo)電損耗(αc)和介質(zhì)損耗(αd).等增加次數(shù)都會(huì)在PCB內(nèi)部增加溫升的速度和程度!

2.2.3 PCB上負(fù)載(功率)增加

PCB上的負(fù)載增加是只在PCB安裝的大功率元器件而通過的信號(hào)所帶來的更大的導(dǎo)電損耗(αc)和介質(zhì)損耗(αd)等,當(dāng)然會(huì)產(chǎn)生更大的溫升速度和程度!以上三方面的增加溫升速度和程度是組成PCB高溫度化的根本原因!由于PCB高溫化和PCB與元器件之間的CTE存在著大的差別值,因而它們之間的焊接點(diǎn)界面處會(huì)因溫、濕度變化而發(fā)生“拉扯”內(nèi)應(yīng)力。一旦這個(gè)“拉扯”內(nèi)應(yīng)力≥PCB焊接點(diǎn)之間的結(jié)合力,必然會(huì)引起焊接點(diǎn)界面處發(fā)生斷裂問題,這往往是造成焊接點(diǎn)失效而帶來故障的可靠性問題。

(未完,接下篇)

審核編輯 黃宇

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