前言

問題由客戶提出，用戶發現在STM32F103器件上。用戶在產品中使能了IWDG，在使用過程中發現當MCU被復位后，有時程序跑不下去；跟蹤代碼發現程序死在輪詢PLL_RDY處。用戶反饋說用的就是ST庫中的范例代碼，懷疑STM32F103有設計問題 。

調研

排查硬件供電無問題，用示波器測量NRST發現復位信號正常，用STM32CubeMX生成最小系統代碼（時鐘配置+IWDG）反復驗證，未發現此問題，開始懷疑用戶代碼。

客戶聲稱開發是基于ST提供的SPL庫中自帶的demo，使用SPL中的范例代碼加上IWDG復位，確實可以復現此問題：通過調試器跟蹤代碼發現問題發生時HSE_RDY位被異常置位（用戶平臺無外掛高速時鐘源）。

通過分析代碼，發現SPL庫【標準外設固件庫】在配置時鐘時先會直接使能HSE，并對HSE_RDY位進行檢測。在復位MCU若干次后HSE_RDY可能位會被置位，從而導致時鐘配置程序按照基于HSE的狀態來進行接下來的配置。而SPL中的demo是跑在STM32F1評估板上，而評估板外帶高速時鐘源，故沒有此問題。

結論

在MCU復位后，HSE_ON雖默認無效，但反復對其進行使能操作會導致MCU內部的噪聲積累，造成時鐘檢測電路誤判，并從寄存器反映出來。

- 對STM32F103來說，一旦HSE_RDY被置位，只要不斷電，無論怎樣復位MCU,HSE_RDY都不會被清除（即使失能HSE_ON） 。

- 對STM32F030單片機進行類似操作，也會發現同樣問題。不同之處在于在HSE_RDY被置位后復位MCU，HSE_RDY位會被清除，但是一旦HSE_ON被置位，HSE_RDY同樣可能會出現被置位問題 。

處理

由于用戶不使用外部HSE,即并不需要對是否有外接高速晶振進行判斷，故修改用戶代碼不再使能HSE。反復測試后問題不復現 。

建議

1 、要了解HSE_RDY位是用來檢測是否有外部時鐘存在的必要條件，而非充分條件。

2、使用STM32時，盡量按照實際設計對軟件做出相應修改，切勿圖省事而帶來問題。