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電子組件的自動AXI射線檢測

aivs ? 來源:aivs ? 作者:aivs ? 2024-07-19 09:39 ? 次閱讀

檢查PCBA缺陷的AOI、3D AOI系統有一個局限性:即使是AOI也無法目視檢查人眼隱藏的東西。帶有平面端子的組件(如BGA、CSP、倒裝芯片或QFN)的焊點通常不可見,現在每三個焊點中就有一個是隱藏的。然而,電子組件的可靠性本質上與這些焊點的質量有關。X射線檢測可以查看組件內部,并可以顯著減少由于焊點故障而導致的故障。

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X 射線源位于 X 射線圖像探測器的對面并產生 X 射線。這些是像光一樣的電磁波。然而,由于波長短得多,它們能夠穿透物質。穿透物體時,部分 X 射線被吸收;物體穿過的面積越密集,被吸收的就越多。探測器拾取輻射,并根據強度以不同深淺的灰色顯示。在數字 X 射線圖像中,較致密或較厚的材料和區域通常看起來較暗,例如鐵或鉛。較薄和密度較低的區域看起來更亮,例如塑料、紙張或空氣等材料。這將創建眾所周知的 X 射線圖像,然后可以對其進行顯示、數字處理和評估。

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在電子組件或組件的自動在線3D AXI 射線檢測中,通過通常呈錐形的 X 射線束在輻射密封外殼中對試樣進行 X 射線檢測。放大的 X 射線圖像記錄在下面的探測器上。X射線檢測系統可用作生產線的一部分(在線AXI)或單獨安裝的檢測島(離線3D X-RAY)。在這兩種情況下,試樣都通過皮帶模塊進料,并在檢查后進一步運輸。全自動 在線 AXI射線處理的持續時間對生產線的周期時間具有決定性意義。在線工藝通常用于大批量生產。對于原型分析、小批量或取樣,X射線檢測系統也用作手動離線系統。在這里,機器是手工裝卸的,與生產線分離。

審核編輯 黃宇

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