負性阻抗-R也稱為發振余裕度，用于評價晶振在發振回路上的發振能力。發振余裕度不足時，會導致振蕩電路振蕩不穩定甚至啟動失效等問題。負性阻抗-R需滿足-R>(3～5)Rr，晶振電路才能穩定發振。晶振電路負性阻抗-R的測試電路原理。

圖中RQ為可調電阻。具體測試方法：通過不斷增大RQ阻值，直到晶振停止振蕩，記錄此時的RQ阻值，根據測得的RQ值，可按如下公式計算負性阻抗：|-R|=RQ+RL

式中：RL為加載后的諧振電阻；Rr為等效串聯電阻。文中設計的晶振電路經過測量計算得到的負性阻抗-R為430 Ω，大于諧振電阻的3倍，符合要求。