北京清微智能科技有限公司發(fā)布IC驗證新方法，實現(xiàn)雙DUT驗證
清微智能在本周宣布新型專利“一種IC驗證中實現(xiàn)雙DUT驗證的方法”已于今年3月獲批。該項專利內(nèi)容由該集團獨立研究，申請日期優(yōu)先于2024年3月26日。
據(jù)了解，這項發(fā)明將使IC驗證環(huán)境更加精簡及高效，受益方面包括IP驗證速度提升以及驗證流程簡化等。
值得指出的是，盡管現(xiàn)有方法通過配置MONITOR進行驗證，但這些過程耗費大量時間。然而，相較之下，清微新發(fā)明僅需運用新增DUT中的CPU讀取數(shù)據(jù)，便能實現(xiàn)更快速和便捷的驗證方式。
同時，如若待驗證IP發(fā)生改變，無需重新建立驗證環(huán)境乃至更新 CASE，大大減少了項目間驗證環(huán)境的傳承難度。
另外，這種驗證方式簡化了對MONITOR采集方案或UVM驗證環(huán)境的關注，有助于防止數(shù)據(jù)錯誤，提高設計人員協(xié)助調(diào)試時的便利性。
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