可靠性測試對高品質(zhì)晶振至關(guān)重要，用于評估晶振在不同工作環(huán)境和極端條件下的性能，包括溫度變化、濕度、振動等。確保晶振在實際使用中的長期穩(wěn)定性和可靠性，以及在各種復雜環(huán)境下依然能夠提供準確、穩(wěn)定的時鐘信號。

今天凱擎小妹給大家講一下“可靠性”測試中的”冷熱沖擊”試驗：

試驗目的

評估晶振在極端溫度變化環(huán)境下的穩(wěn)定性和可靠性。模擬晶振在實際使用中可能會遇到的溫度變化情況，確保它能夠在不同的溫度極端條件下保持其性能。可參考標準：MIL-STD- 883E- 1011.9B。

試驗說明

低溫：-55±5°C

高溫：125±5°C

循環(huán)次數(shù)：100次

高低溫度保持時間：5 min

高低溫切換時間：5sec

實驗結(jié)束后24土 2 Hrs進行電性能測試。

本試驗對晶振的影響

晶體諧振器頻率降低2.5ppm左右(5max)，諧振阻抗增大3Ω左右(5max) or ±10%

晶體振蕩器頻率降低3ppm左右(5max)

KOAN 晶振

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審核編輯：黃飛