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常規(guī)開關(guān)電源測試規(guī)范之負載調(diào)整率測試

納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 來源:納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 作者:納米軟件(系統(tǒng)集 ? 2023-10-20 15:32 ? 次閱讀

負載調(diào)整率是用來描述在額定電壓下負載電流從0變化到最大時,輸出電壓相應(yīng)的變化情況。它是衡量電源芯片好壞的重要指標,因此負載調(diào)整率測試是必不可少的環(huán)節(jié)。那么要如何測試電源芯片負載調(diào)整率呢?有哪些測試規(guī)范呢?

開關(guān)電源芯片測試規(guī)范

適用范圍:主要是基于PCB板焊接的電源芯片,如DC/DCLDO電源芯片等,也包括小功率DC/DC電源模塊

測試工具:可調(diào)電源、電子負載、示波器萬用表

測試環(huán)境:溫度(25±2℃);濕度(60%~70%);大氣壓強(86kPa~106kPa)

測試原理圖:

wKgZomUw1duAZ5lEAABozwGk3Ek357.png

電源芯片測試原理圖

如何測試開關(guān)電源芯片負載調(diào)整率?

1.輸入電壓為額定值,輸出電流取最小值,記錄最小負載量的輸出電壓U1;

2.調(diào)節(jié)負載為50%滿載,記錄對應(yīng)的輸出電壓U0;

3.調(diào)節(jié)負載為滿載,記錄對應(yīng)的輸出電壓U2;

4.負載調(diào)整率按以下公式計算:負載調(diào)整率={(U- U0)/U0}×100%,其中:U為U1 和U2中相對U0變化較大的值。

納米軟件電源模塊測試系統(tǒng)優(yōu)勢

1.58+測試項目:ATECLOUD-POWER電源模塊測試系統(tǒng)包含多種測試項目,除了負載調(diào)整率之外,還可以測試過壓保護、欠壓保護測試、穩(wěn)定性測試等各項常規(guī)指標。

2.多種測試場景:該系統(tǒng)可用于多種場景測試,如高溫、低溫、濕度等,以評估電源模塊在不同環(huán)境下的性能。

3.自動化測試:打破傳統(tǒng)測試方式,解決效率低下和手動測試的準確性問題。

4.測試數(shù)據(jù)診斷分析功能:數(shù)據(jù)洞察功能支持可視化數(shù)據(jù)看板,數(shù)據(jù)分析一目了然。而且也可以一鍵生成多樣化的數(shù)據(jù)報告,以便查看。

5.權(quán)限管理功能:支持層級管理,針對不同層級開啟數(shù)據(jù)權(quán)限,保障測試數(shù)據(jù)安全性。

審核編輯 黃宇

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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