應(yīng)用
磁特性實驗在國際強磁場實驗設(shè)施中占據(jù)著至關(guān)重要的地位,而磁化測量則是其最基礎(chǔ)的實驗技術(shù)之一。
在脈沖磁場的作用下,樣品的磁化強度會隨著磁場的變化而在pick-up線圈中誘導(dǎo)出電壓信號。
這一信號在經(jīng)過信號補償和放大后,被高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)捕獲,最終通過數(shù)據(jù)處理得出樣品的磁化率和磁化強度。
除了磁化測量,磁特性實驗站還可以進行電極化、磁致伸縮、磁扭矩等磁學(xué)參數(shù)的測量。
解決方案
簡儀科技提供了高效的解決方案,借助PXI系統(tǒng)來完成磁特性實驗過程中的高速數(shù)據(jù)采集。
使用的簡儀產(chǎn)品
PCIe-PXIe-68638/2M套件:PCI Express 轉(zhuǎn) PXI Express 遠程控制器套件。它充分利用了高帶寬的PCI Express技術(shù),用于控制安裝在PXI Express機箱中的PXI Express模塊。
此套件使用第二代PCIe x8信號,提供高達4GB/s的帶寬。由于硬件和軟件的完全透明性和標準化,因此擴展套件能夠快速識別系統(tǒng)中安裝的PXI板卡,無需額外安裝驅(qū)動程序或軟件。
PXIe-62301:3U 6槽PXI Express全混合機箱,帶有交流電源,支持最高8GB/s的系統(tǒng)帶寬。
PXIe-69834:4通道16位80MS/s PXI Express數(shù)字化儀,用于高速數(shù)據(jù)采集。
審核編輯:劉清
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原文標題:脈沖強磁場中心數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)
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