太陽能作為應用廣、無排放、無噪聲的環(huán)保能源，在近些年迎來快速發(fā)展，而在各類型的太陽能電池及太陽能充電系統(tǒng)中，多會鍍一層透明的ITO導電薄膜，其鍍膜厚度對電池片的導電性能有著非常重要的影響，因而需要對鍍膜厚度進行檢測與管控。

由于ITO膜具有一定的透光性，而硅基板具有較強的反射率，會對依賴反射光信號進行圖像重建的光學輪廓儀造成信號干擾導致ITO膜厚圖像重建失真，因此考慮采用接觸式輪廓儀對ITO膜厚進行測量，由于其厚度范圍從十幾納米到幾百納米，考慮到測量的同時不損傷樣件本身，因而采用具有超微力可調和亞納米級分辨率的臺階儀最為合適。

中圖儀器CP系列臺階儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測量儀，其采用LVDC電容傳感器，具有的亞埃級分辨率和超微測力等特點使得其在ITO導電薄膜厚度的測量上具有極強的優(yōu)勢。視頻中展示了中圖儀器CP200臺階儀測量ITO導電薄膜的全過程，針對該應用場景，CP200臺階儀提供如下便捷功能：1）結合了360°旋轉臺的全電動載物臺，能夠快速定位到測量標志位；2）對于批量樣件，提供自定義多區(qū)域測量功能，實現(xiàn)一鍵多點位測量；3）提供SPC統(tǒng)計分析功能，直觀分析測量數(shù)值變化趨勢。中圖儀器，以雄厚的技術實力，為產品性能優(yōu)越性提供支撐；以卓越的產品性能，為測量數(shù)據(jù)準確性保駕護航；以專業(yè)化的產品和服務，為客戶提供最優(yōu)的解決方案。