3d光學輪廓儀是干什么用的？
以白光干涉技術為原理的3d光學輪廓儀主要用于測量表面形貌或測量表面輪廓，是一款非接觸測量樣品表面形貌的光學測量儀器。它能夠以優于納米級的分辨率，測試各類表面并自動聚焦測量工件獲取2D，3D表面粗糙度、輪廓等一百余項參數，廣泛應用于光學，半導體，材料，精密機械等等領域。
結果組成
1、三維表面結構：粗糙度，波紋度，表面結構，缺陷分析，晶粒分析等；
2、二維圖像分析：距離，半徑，斜坡，格子圖，輪廓線等；
3、表界面測量：透明表面形貌，薄膜厚度，透明薄膜下的表面；
4、薄膜和厚膜的臺階高度測量；
5、劃痕形貌，摩擦磨損深度、寬度和體積定量測量；
6、微電子表面分析和MEMS表征。
薄膜粗糙度測量
晶圓IC的輪廓檢測
晶圓IC減薄后的粗糙度檢測中圖儀器3d光學輪廓儀結合結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統軟件對器件表面3D圖像進行數據處理與分析，除測量表面形貌或測量表面輪廓外，具有的測量晶圓翹曲度功能，非常適合晶圓，太陽能電池和玻璃面板的翹曲度測量，應變測量以及表面形貌測量。
對wafer減薄后無圖晶圓粗糙度測量
封裝制程中對Wafer的切割
對Die的輪廓分析及蝕刻深度測量
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