inTEST ThermoStream 已全面取代 Temptronic 和Thermonics
Temptronic 創(chuàng)立于 1970 年,在 2000 年被 inTEST 收購(gòu),成為在美國(guó)設(shè)立的超高速溫度環(huán)境測(cè)試機(jī)的首家制造商。而 Thermonics 創(chuàng)立于1976年,在 2012 年被 inTEST 收購(gòu),使 inTEST 更強(qiáng)化高低溫循環(huán)測(cè)試以及溫度沖擊測(cè)試領(lǐng)域的實(shí)力。在 2013 年 inTEST Thermal Solutions 用嶄新的研發(fā)技術(shù)發(fā)展出獨(dú)創(chuàng)的溫度環(huán)境測(cè)試機(jī),將 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合進(jìn)化成 inTEST ThermoStream ATS 超高速溫度環(huán)境測(cè)試系列產(chǎn)品。上海伯東作為 inTEST 中國(guó)總代理,全權(quán)負(fù)責(zé) inTEST 新品銷售和售后維修服務(wù)。
inTEST ATS-500 系列高速溫度循環(huán)測(cè)試機(jī):從小型臺(tái)式的 -20℃ 到 -80℃ 的大型機(jī)型,適用于實(shí)驗(yàn)室或工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境中、傳統(tǒng)的半導(dǎo)體和小裝配溫度測(cè)試。
inTEST 型號(hào) | 溫度范圍 °C | 氣體流量 scfm | Temptronic 型號(hào) | Thermonics 型號(hào) |
ATS-505 | -20 至 +225 | 低溫4 高溫 10 | TP04100 | T-2610BV |
ATS-515 | -45 至 +225 | 10 | TP04500 | T-2600BV |
ATS-525 | -60 至 +225 | 低溫4 高溫 10 | N/A | T-2650BV |
ATS-535 | -60 至 +225 | 5 | N/A | N/A |
ATS-545 | -80至 +225 | 12,最大 18 | TP04310 | T-2820 |
inTEST ATS-700 系列高速溫度循環(huán)測(cè)試機(jī): 由幾種高容量的 THERMOSTREAM? 系統(tǒng)組成,此設(shè)計(jì)是為了快速和精確控制您的組件和模塊到達(dá)所需要的溫度,極限溫控功能 -100°C 至 +300°C,不僅可以經(jīng)由加速到達(dá)設(shè)定溫度的時(shí)間來提高產(chǎn)能,還可以讓高功率組件和大熱容量基材以美國(guó)標(biāo)準(zhǔn) (MIL-STD) 測(cè)試條件下,24 小時(shí) 7天的連續(xù)測(cè)試。無論是單獨(dú)直接測(cè)試還是用在外接的腔體,強(qiáng)大靈活的 ATS-700 系列溫度測(cè)試機(jī)都適用。
型號(hào) | 高低溫氣流沖擊范圍 °C | 氣體流量 scfm | Temptronic | Thermonics |
ATS-710 | -80°C to +225°C | 12,最大 18 | TP04300 | T-2500E/BE/EA |
ATS-730 | -90°C to +225°C 高容量 | 18 | TP04390 | T-2500SE/SEA T-2500HFE/HFB |
ATS-750 | -90°C to +300°C 高溫度、高容量 | 18 | N/A | T-2500E/300 |
ATS-770 | -100°C to +225°C 超低溫度 | 8,最大 12 | N/A | T-2500IX |
* 以上系統(tǒng)擁有共通的操作工作接口
與傳統(tǒng)高低溫測(cè)試箱對(duì)比, inTEST ThermoStream 高低溫測(cè)試機(jī)主要優(yōu)勢(shì)
1. 變溫速率更快
2. 溫控精度: ±1℃
3. 實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)待測(cè)元件真實(shí)溫度, 可隨時(shí)調(diào)整沖擊氣流溫度
4. 針對(duì) PCB 電路板上眾多元器件中的某一單個(gè) IC(模塊), 可單獨(dú)進(jìn)行高低溫沖擊, 而不影響周邊其它器件
5. 對(duì)測(cè)試機(jī)平臺(tái) load board上的 IC進(jìn)行溫度循環(huán) / 沖擊; 傳統(tǒng)高低溫箱無法針對(duì)此類測(cè)試
6. 對(duì)整塊集成電路板提供精確且快速的環(huán)境溫度.
上海伯東版權(quán)所有, 翻拷必究!
若您需要進(jìn)一步的了解詳細(xì)信息或討論, 請(qǐng)聯(lián)絡(luò)上海伯東葉女士
現(xiàn)部分品牌誠(chéng)招合作代理商, 有意向者歡迎聯(lián)絡(luò)上海伯東 葉女士
上海伯東版權(quán)所有, 翻拷必究!
發(fā)布評(píng)論請(qǐng)先 登錄
元器件測(cè)試用熱流儀:熱流罩定義優(yōu)勢(shì)與選購(gòu)指南

國(guó)產(chǎn)SiC碳化硅功率模塊全面取代進(jìn)口IGBT模塊的必然性



inTEST ThermoStream高低溫沖擊熱流儀的特點(diǎn)
儲(chǔ)能變流器PCS中碳化硅功率模塊全面取代IGBT模塊
導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀:探索熱傳導(dǎo)奧秘的利器

Simcenter Flomaster熱流體仿真軟件

DSC差示掃描量熱儀測(cè)塑料熔點(diǎn)的方法

美國(guó) inTEST 高低溫沖擊熱流儀助力半導(dǎo)體芯片研發(fā)

inTEST ATS-545 熱流儀顯示行業(yè)光學(xué)檢測(cè)高低溫試驗(yàn)方案
熱流型和功率補(bǔ)償型差示掃描量熱儀有什么區(qū)別?

高熱流密度器件要怎么散熱?你了解嗎

評(píng)論