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上海伯東美國(guó) inTEST 熱流儀 MCU 芯片高低溫沖擊測(cè)試

伯東企業(yè)(上海)有限公司 ? 2022-06-13 11:35 ? 次閱讀

inTEST 熱流儀微控制器 MCU 芯片高低溫測(cè)試
微控制器 MCU 芯片廣泛應(yīng)用于消費(fèi)電子 (手機(jī), 打印機(jī)), 計(jì)算機(jī)網(wǎng)絡(luò), 工業(yè)控制, 醫(yī)療設(shè)備, 汽車電子以及智慧家庭等領(lǐng)域.其中, 汽車是 MCU 芯片最大的應(yīng)用市場(chǎng), 傳統(tǒng)汽車單車會(huì)平均用到 70個(gè)左右, 而新能源汽車則需要用到 300多個(gè), 應(yīng)用領(lǐng)域包括 ADAS, 車身, 底盤及安全, 信息娛樂(lè), 動(dòng)力系統(tǒng)等, 幾乎無(wú)處不在. 上海伯東美國(guó) inTEST 高低溫測(cè)試機(jī)可以快速提供需要的模擬環(huán)境溫度,解決了因?yàn)榄h(huán)境受限的 MCU 芯片高低溫測(cè)試難題.

MCU 市場(chǎng)



微控制器 MCU 芯片需要進(jìn)行溫度測(cè)試
以工作溫度為例, 車規(guī)級(jí)要求 MCU 可承受工作溫度范圍為 -40℃ 至 105℃ 或更高, 一般工業(yè)級(jí)為 -40℃ 至 85℃, 而消費(fèi)級(jí)只要保證 0℃ 至 70℃ 能正常工作即可過(guò)關(guān), 因此消費(fèi)級(jí)產(chǎn)品在常溫時(shí)工作狀態(tài)與工業(yè)級(jí) / 車規(guī)產(chǎn)品差異不大, 但在高低溫時(shí), 則容易出現(xiàn)問(wèn)題, 嚴(yán)重的可能會(huì)導(dǎo)致整個(gè)系統(tǒng)停機(jī). 因此工業(yè)級(jí)或車規(guī)級(jí) MCU 在出廠之前需要專門針對(duì)嚴(yán)苛應(yīng)用環(huán)境做針對(duì)性設(shè)計(jì)與篩查, 從而達(dá)到工業(yè)設(shè)備或汽車對(duì)于元器件高可靠與低缺陷的要求.

MCU 芯片高低溫沖擊測(cè)試案例
國(guó)內(nèi)某本土 MCU 廠商從成立之初就將工控和車載作為研發(fā)方向, 經(jīng)上海伯東推薦, 采用美國(guó)inTEST ECO-710E 對(duì)其 MCU 產(chǎn)品進(jìn)行高低溫沖擊測(cè)試, 并且滿足汽車電子協(xié)會(huì) Automotive Electronics Council 的通用標(biāo)準(zhǔn), 例如目前廣泛采用的集成電路失效機(jī)理的應(yīng)力測(cè)試條件的 AEC-Q100.

車載 MCU 芯片的工況環(huán)境決定其溫度等級(jí), 根據(jù)其測(cè)試標(biāo)準(zhǔn), 芯片的溫度測(cè)試要求如下:

MCU 芯片溫度等級(jí)

等級(jí)

工作溫度范圍

備注

Level 0- 40℃~150℃最高范圍
Level 1- 40℃~125℃一般等級(jí)
Level 2- 40℃~105℃一般等級(jí)
Level 3- 40℃~85℃最低范圍


針對(duì)客戶提出的測(cè)試要求, 上海伯東提供微控制器 MCU 芯片高低溫測(cè)試解決方案
ECO-710E 測(cè)試的溫度范圍 -80 至 +225°C, 輸出氣流量 4 至 18 scfm, 溫度精度 ±1℃, inTEST 高低溫測(cè)試機(jī) ECO-710E 搭配 delta design 測(cè)試機(jī)共同進(jìn)行微處理器芯片測(cè)試, 有效提高了芯片測(cè)試的速度和準(zhǔn)確性, 快速進(jìn)行在電工作的電性能測(cè)試, 失效分析, 可靠性評(píng)估等. inTEST 高低溫測(cè)試機(jī)的主要作用就是快速提供需要的模擬環(huán)境溫度,解決了因?yàn)榄h(huán)境受限的芯片高低溫測(cè)試難題.


微處理器芯片高低溫測(cè)試方法:
1. 將待測(cè)微處理器芯片放置在玻璃罩中
2. 操作員設(shè)置需要測(cè)試的溫度范圍
3. 啟動(dòng) ThermoStream ECO-710E, 利用空壓機(jī)將干燥潔凈的空氣通入制冷機(jī)進(jìn)行低溫處理, 然后空氣經(jīng)由外部管路到達(dá)加熱頭進(jìn)行升溫, 氣流通過(guò)熱流罩進(jìn)入測(cè)試腔. 玻璃罩中的溫度傳感器可實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)當(dāng)前溫度.

inTEST 熱流儀技術(shù)規(guī)格

型號(hào)

ATS-545

ATS-710E

ECO-710E

ATS-535

溫度范圍 °C

-75 至 + 225

-75至+225

-80 至 +225

-60 至 +225

變溫速率

-55 至 +125°C 約 10 S
+125 至 -55°C 約 10 S

-55 至 +125°C 約 10 s
+125 至 -55°C 約 10 s

-55 至 +125°C, ≤ 10S
125 至 -55°C, ≤ 10S

-40至+ 125°C < 12 s
+125至-40°C < 40 s

空壓機(jī)

額外另配

額外另配

額外另配

內(nèi)部集成空壓機(jī)

控制方式

旋鈕式

觸摸屏

觸摸屏

旋鈕式

氣體流量 scfm

4 至 18

4 至 18

4 至18 SCFM

5

溫度顯示和分辨率

+/- 0.1°C

溫度精度

1.0°C(根據(jù) NIST 標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)時(shí))

電源

200-250VAC, 50/60Hz, 30A,1phase

200-250VAC, 50/60Hz, 30A,1phase

200-250VAC, 50/60Hz, 20A,1phase

220±10%VAC, 50/60Hz, 30A

微控制器 MCU 在生活中的應(yīng)用非常廣泛, 各種家電設(shè)備, 消費(fèi)電子, 工業(yè)品和車載電子幾乎都離不開(kāi) MCU 芯片, 工業(yè)級(jí)(或車規(guī)級(jí))MCU 與消費(fèi)級(jí) MCU 最大的區(qū)別之一是可靠性要求不同, 工業(yè)與車載應(yīng)用環(huán)境對(duì)產(chǎn)品可靠性要求更高, 需要更高的抗靜電能力, 更高的抗浪涌電壓與浪涌電流能力, 更寬的工作溫度范圍, 以及更長(zhǎng)的壽命.

若您需要進(jìn)一步的了解MCU 芯片高低溫測(cè)試詳細(xì)信息或討論, 請(qǐng)參考以下聯(lián)絡(luò)方式:
上海伯東: 葉小姐 臺(tái)灣伯東: 王小姐
T: +86-21-5046-3511 ext 107 T: +886-3-567-9508 ext 161
F: +86-21-5046-1490 F: +886-3-567-0049
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  • 高低溫測(cè)試機(jī)

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