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高壓放大器基于干涉儀的設計與優化中的應用

Aigtek安泰電子 ? 2022-01-07 15:10 ? 次閱讀
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實驗名稱:

高壓放大器基于掃描式固體腔F-P干涉儀的設計與優化中的應用

測試設備:

光源,準直擴束系統,待測電光晶體(包含驅動),4f系統和CCD,信號源,ATA-2161高壓放大器,示波器等。

實驗內容:

為實現全天時邊界層內大氣溫度絕對探測,即精細獲取大氣Rayleigh散射譜形,借鑒F-P干涉濾波技術和晶體的電光特性,設計了一種掃描式固體腔F-P干涉儀,測試其濾波性能并進行優化。

實驗過程:

如圖是搭建的透射型馬赫曾德干涉儀光路,此光路用做全息圖的記錄,主要包括以下幾個部分:光源,準直擴束系統,待測電光晶體(包含驅動),4f系統和CCD。電光晶體高壓驅動,函數發生器,使其產生一個脈沖方波信號,然后經過ATA-2161高壓放大器使其放大,最終把放大后的信號加載到晶體上,完成晶體電光性能的測試。

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測量晶體內部均勻性和折射率調制度關系的系統圖

實驗結果:

01

不同電壓下CCD上記錄的全息圖;

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02

不同電壓場下,對應晶體折射率的改變量。

對圖相位圖中晶體相位的改變量進行平均處理,得到不同電壓場下,對應的晶體的相位改變量,再由公式計算得出,不同電壓場下,對應晶體折射率的改變量。

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高壓放大器ATA-2161參數指標:

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更多放大器應用案例:

功率放大器在鋼板表面缺陷及交流漏磁測試中的應用

功率放大器在水下主動電場物體形狀成像中的應用

功率放大器在電感式傳感器金屬顆粒材質識別中的應用

注:此實驗案例參考至知網論文《掃描式固體腔F-P干涉儀的設計與優化》

關于安泰電子

西安安泰電子科技有限公司(Aigtek)是國內領先從事測量儀器研發、生產和銷售的高科技企業。公司致力于功率放大器、計量校準產品、線束測試儀等產品為核心的相關行業測試解決方案的研發和生產。提供免費樣機試用,免費專業工程師培訓,免費測試技術交流。

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