光耦合器,簡稱光耦(Optocoupler,OC),以光為媒介來實現電信號傳輸的器件,一般由發光端的LED和受光端的光敏半導體管或者電阻共同構成。因其具有體積小、絕緣性好、抗干擾能力強的優勢,所以被廣泛應用于各種電路。
在車用領域,光耦也被大量使用在汽車電氣電子系統中,因此光耦也必須符合車規的可靠性要求方能進入汽車主機廠的供應商鏈條。換而言之,車用光耦需符合行業標準AEC-Q驗證要求。
圖1 光耦電路示意圖 (注:下文光敏半導體管均指受光端的組件。)
光耦適用的車規驗證標準
光耦的車規驗證的執行標準一直未明確,業內存在多種解讀。
在結構上,光耦同時存在正向工作的LED(發光)器件和反向工作的光敏半導體管(受光),并非嚴格意義上的分立半導體器件,AEC-Q104首次提出多芯片模組(MCM)的概念,但其也明確指出不適用于含有AEC-Q102相關LED大類的組件。
從器件種類上看,AEC-Q101和AEC-Q102貼近其器件特性。2013版的AEC-Q101中同時能夠覆蓋正偏和反偏試驗,且該標準適用光電子器件,在2017年發布AEC-Q102版本后,光器件可依據該版本進行認證。2020年汽車電子發布了AEC-Q102的A版本,在版本中在適用范圍中明確提出光耦等光組件會在AEC-Q102-003中進一步細分。2021年汽車電子委員會順勢更新了AEC-Q101到E版本,在內容上完全刪除了光類器件的描述以及相關環境應力和壽命試驗。
2022年底,新發布的AEC-Q102-003明確把光耦作為OE-MCM類型之一,正式確認了光耦使用的車規標準為AEC-Q102-003。
圖2 AEC-Q102-003適用OE-MCM中的分類B(來源:AEC - Q102-003 – REV August 28, 2022)
表1 AEC-Q101和AEC-Q102中關于“光”的描述
那么AEC-Q101與AEC-Q102有什么異同呢?一起來看下:
AEC-Q102較AEC-Q101增加的項目如下:
振動、沖擊
VVF變頻振動試驗,試驗條件:在20~100Hz頻率范圍內,位移幅值(峰-峰值)1.5mm;在100Hz~2kHz頻率范圍內,加速度200m/s2。MS機械沖擊,試驗條件:X、Y、Z三個垂直軸的六個方向上各施加5次沖擊(共30次),半正弦脈沖,持續時間0.5ms,峰值加速度1500g's
脈沖工作壽命PLT
脈寬100 μs,占空比3%
凝露DEW
溫度循環范圍為30~65℃,在65℃保持4~8 h,轉換時間為2~4 h,RH=90~98%以規格書中的最小驅動電流保持1008 h。若規格書中未定義額定最小電流,可選定一個驅動電流,其值不能使Tjunction的溫度上升幅度超過3K。
硫化氫和混合氣體腐蝕
H2S硫化氫腐蝕在溫度40℃和濕度90%RH的條件下保持336小時,H2S的濃度為15×10-6FMG混合氣體腐蝕在溫度25℃和濕度75%RH條件下保持500小時,氣體濃度如下:H2S濃度:10×10-9SO2濃度:200×10-9NO2濃度:200×10-9Cl2濃度:10×10-9
那AEC-Q102與AEC-Q101有哪些相同點呢?
AEC-Q102與AEC-Q101很多方面的要求是相同的,具體如下:
只有通過AEC-Q規定相應的全部測試項目,才能聲稱該產品通過了AEC-Q認證;
供應商經用戶同意可以使得樣本量和測試條件低于AEC-Q要求,但這種情況不能認為通過AEC-Q認證;
對于ESD,允許供應商聲稱該產品通過相應等級的AEC-Q,如“AEC-Q102 qualified to ESD H1B”;
通用數據:
?為簡化認證和重新認證的過程,鼓勵使用通用數據
?通用數據必須基于相同工藝、材料、地點等
?PV和ESD必須實測,不能使用通用數據
?用戶具有是否接受通用數據替代特定實測數據的最終決定權
優先級要求:當文件要求有沖突時,遵循下述順序:采購訂單》特別商定的產品要求》AEC-Q要求》AEC-Q引用的參考標準要求》供應商的產品規格書
所有認證樣品需從生產基地(批產地)加工制造
任何器件的改變影響到或可能影響到器件的構成、安裝、功能、質量和可靠性時,要進行重新認證
對于每一次認證,供應商都必須向用戶提供設計、結構和認證的證書(CDCQ)
AEC-Q102與AEC-Q101需執行的相同項目,具體如下:
?預處理?外觀檢查?參數驗證?ESD?物理尺寸檢查?端子強度?耐焊接熱?可焊性?綁線拉力?焊點推力?芯片剪切力?無鉛要求
華碧實驗室車規電子檢測認證
華碧實驗室是國內領先的集檢測、鑒定、認證和研發為一體的第三方檢測與分析的新型綜合實驗室,目前已成功協助300多家電子元器件企業制定相對應的AECQ驗證步驟與實驗方法,并順利通過AEC-Q系列認證。
華碧實驗室提供專業的電子元器件完整分析服務,幫助廠商快速找到失效問題點并提供解決方案,通過AEC-Q測試標準把控良率,消除制造商和采購商之間的誤解,促進產品的可交換性和改機,推動半導體產業取得新的技術突破與發展。
審核編輯:湯梓紅
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