MAX2640 LNA的穩(wěn)定性分析采用S參數(shù)測量。多個測試用例證實了S參數(shù)數(shù)據(jù)的有效性,并且該器件在高達(dá)5GHz的頻率下是穩(wěn)定的。本文建議使用VCC線路所需的電感量,以獲得最佳穩(wěn)定性。它還總結(jié)了汽車無鑰匙進(jìn)入應(yīng)用在315MHz下的性能以及所需的匹配。
介紹
在本應(yīng)用筆記中,我們對MAX2640 LNA進(jìn)行了S參數(shù)測量,然后利用這些S參數(shù)測量值進(jìn)行了穩(wěn)定性分析。當(dāng)我們匹配315MHz操作的LNA時,S參數(shù)測量的有效性得到了證實。結(jié)果分析將表明該器件在高達(dá) 5GHz 時無條件穩(wěn)定。最后,我們將推薦Vcc所需的電感量確保最佳穩(wěn)定性。
MAX2640 LNA,頻率為315MHz
下表315總結(jié)了該器件在1MHz時的性能。圖 1 顯示了性能與頻率的關(guān)系。
表 1.MAX2640性能總結(jié)
參數(shù) | 客戶目標(biāo) | MAX2640 |
ICC (mA) | < 2 | 3.5 |
增益(分貝) | > 13 | 17.4 |
噪聲系數(shù)(分貝) | < 2 | 1.4 |
輸入 P1dB (dBm) | 未指定 | -26 |
輸入 IP3 (分貝) | -10 | -17.25 |
S11 (分貝) | 未指定 | -10.5 |
S22 (分貝) | 未指定 | -19.3 |
(f = 315MHz, Vcc= 3V)
注意:
輸入功率 = -30dBm 每音
圖1.MAX2640 LNA性能與頻率的關(guān)系,適用于315MHz應(yīng)用
S 參數(shù)測量
測試設(shè)置
使用兩個評估(EV)板和一個網(wǎng)絡(luò)分析儀(HP8753D)測量MAX2640的S參數(shù)。我們移除了第一個評估板(板#1)中的IC,并使用該評估板進(jìn)行校準(zhǔn)。我們在第二個套件(套件#2)中保留了IC,但沒有匹配的組件,并使用該套件進(jìn)行實際測量。
在連接到分析儀的電纜末端執(zhí)行完整的 2 端口校準(zhǔn)。
當(dāng)我們測量IC的S參數(shù)時,沒有匹配套件#2中的元件,在套件#1中焊接MAX2640輸入和輸出引腳的點放置一個短路。(見下面的圖 2)。
調(diào)整網(wǎng)絡(luò)分析儀上的端口擴展,直到輸入和輸出的阻抗在315MHz時盡可能接近短路。使用此校準(zhǔn),我們測量了套件#2中器件引腳處的S參數(shù)。
然后,我們修改了套件#1,將短線移動到放置最后一個匹配組件的位置。再次調(diào)整網(wǎng)絡(luò)分析儀上的端口擴展,直到輸入和輸出的阻抗在315MHz時盡可能接近短路。
接下來,匹配的組件返回到套件#2。IC的S參數(shù)和匹配的組件在工作臺上測量。
為了確認(rèn)僅針對IC的S參數(shù)的有效性(上述步驟3),將S參數(shù)放入ADS(微波仿真軟件)中,并添加了匹配組件和傳輸線的模型。我們還在輸入和輸出引腳上增加了一個0.5pF電容,以模擬電路板上存在的寄生效應(yīng)。(附錄中的圖 18 顯示了 ADS 模擬。然后,我們將此設(shè)置的性能曲線與IC的S參數(shù)數(shù)據(jù)以及電路板本身上的匹配組件進(jìn)行了比較(上述步驟5)。
圖2.校準(zhǔn)電路用于測量MAX2640的S參數(shù)。
測試結(jié)果
圖 3 到圖 8 中曲線的標(biāo)記定義為:
MAX2640_Epcos_1GHz_simulation:僅使用在工作臺上測量的IC的S參數(shù)進(jìn)行仿真,并在ADS中添加匹配的組件。
MAX2640_Epcos_1GHz_bench:在將匹配的組件添加到電路板本身后在工作臺上測量。
圖3.模擬和臺架測量之間的 S11 (dB) 比較。
圖4.模擬和臺架測量之間的S11(相位)比較。
圖5.模擬和臺架測量之間的 S22 (dB) 比較。
圖6.模擬和臺架測量之間的S22(相位)比較。
圖7.模擬和臺架測量之間的 S21 (dB) 比較。
圖8.模擬和臺架測量之間的S21(相位)比較。
上面的數(shù)據(jù)顯示,兩個測試用例的幅度和相位性能非常相似。除了頻率的微小變化外,仿真(僅使用IC的S參數(shù),在工作臺上測量,并在ADS中添加匹配元件)非常接近實際的工作臺性能(將匹配元件添加到電路板本身后在工作臺上測量)。因此可以得出結(jié)論,MAX2640測量的S參數(shù)是可靠的,可用于仿真和穩(wěn)定性分析。
注意:對于將匹配組件添加到電路板本身的測試,無法進(jìn)行 S12 測量。該信號的幅度如此之低,以至于分析儀無法進(jìn)行任何準(zhǔn)確的測量。因此,S12幅度和相位曲線未包含在上述圖中。
穩(wěn)定性分析
為了對MAX2640進(jìn)行穩(wěn)定性分析,我們現(xiàn)在使用上述相同步驟測量100MHz至5GHz的S參數(shù)。進(jìn)行了三個測試案例:首先,V之間存在9mm的傳輸線抄送MAX2640的引腳和去耦電容;其次,電容器放置在靠近V的位置抄送盡可能使用引腳;第三,電容器位于5mm之外。
第一個測試用例
將去耦電容放置在距離MAX9的V2640mm處抄送針。傳輸線的寬度為42mil。這是一個4層、50Ω、受控阻抗板;介電材料為FR4,1oz銅,介電常數(shù)~4.5。頂層和內(nèi)部接地層(第2層)之間的介電厚度為24密耳。從V中看到的電感抄送PIN 是使用此信息模擬的。在5 MHz時,得到的數(shù)據(jù)約為j5.315Ω,相當(dāng)于一個2.5nH的電感。圖9僅顯示了IC的穩(wěn)定性測量、穩(wěn)定系數(shù)、源極穩(wěn)定系數(shù)和負(fù)載穩(wěn)定系數(shù)。圖10是源和負(fù)載穩(wěn)定圓圈。
圖9.第一個測試用例的穩(wěn)定性測量、穩(wěn)定性因子、源穩(wěn)定性因子和負(fù)載穩(wěn)定性因子。
圖 10.第一個測試用例的源和負(fù)載穩(wěn)定性圓圈。
第二個測試用例
在這種情況下,我們將電容器放置在靠近V的位置抄送盡可能的引腳。現(xiàn)在傳輸線的長度為40mil,在0MHz時看到的電感約為j6.315Ω,相當(dāng)于一個0.3nH的電感。下面的圖 11 顯示了穩(wěn)定性測量、穩(wěn)定性系數(shù)、源穩(wěn)定系數(shù)和負(fù)載穩(wěn)定系數(shù)。圖12繪制了源極和負(fù)載穩(wěn)定性圓圈。
圖 11.第二個測試用例的穩(wěn)定性測量、穩(wěn)定性因子、源穩(wěn)定性因子和負(fù)載穩(wěn)定性因子。
圖 12.第二個測試用例的源和負(fù)載穩(wěn)定性圓圈。
第三個測試用例
現(xiàn)在,將去耦電容放置在距離MAX5的V2640mm處。抄送針;傳輸線的寬度為42mil,在3 MHz時約為j315Ω,相當(dāng)于1.5nH電感。下面的圖13僅顯示了IC的穩(wěn)定性測量、穩(wěn)定性因數(shù)、源極穩(wěn)定系數(shù)和負(fù)載穩(wěn)定系數(shù)。
圖 13.第三個測試用例的穩(wěn)定性測量、穩(wěn)定性因子、源穩(wěn)定性因子和負(fù)載穩(wěn)定性因子。
圖13顯示,三種情況下的穩(wěn)定性因子均大于1,并且穩(wěn)定性測量值在整個頻率范圍內(nèi)為正。此數(shù)據(jù)符合無條件穩(wěn)定性的要求。此外,穩(wěn)定圈在所有頻率的史密斯圖之外。
第一個測試用例的數(shù)據(jù)顯示,在1.2GHz至5.4GHz頻率范圍內(nèi),穩(wěn)定性因子安全地高于5,但在5GHz時接近統(tǒng)一。這表明MAX2640在5GHz以上具有工作條件穩(wěn)定性。然而,第二個測試用例的穩(wěn)定性因子在2.5GHz至4.5GHz頻率范圍內(nèi)接近統(tǒng)一,但在5GHz頻率范圍內(nèi)安全高于單位。這意味著該器件可以在 2.5GHz 至 4.5GHz 范圍內(nèi)保持有條件的穩(wěn)定。對于第三個測試用例,我們將電容器放置在距離 V 5mm 的位置抄送引腳,穩(wěn)定因子在2.5GHz至4.5GHz頻率范圍內(nèi)安全高于單位,遠(yuǎn)高于5GHz的單位。
因此,從上述分析中,我們得出結(jié)論,為了穩(wěn)定性,去耦電容器的最佳位置是距離V4mm至5mm。抄送引 腳。
原理圖和匹配網(wǎng)絡(luò)
簡而言之,使用標(biāo)準(zhǔn)網(wǎng)絡(luò)分析儀(HP8753D)測量315MHz時LNA輸入/輸出的S參數(shù),并通過迭代仿真和測量過程確定最佳阻抗匹配電路。這種315MHz的性能和所需的匹配適用于汽車無鑰匙進(jìn)入應(yīng)用。匹配經(jīng)過優(yōu)化,可實現(xiàn)最佳增益和噪聲系數(shù)。最佳阻抗匹配電路如圖14和圖15所示。
圖 14.MAX2640的評估板原理圖,頻率為315MHz
MAX2640 LNA的物料清單
指定 | PT8 | 描述 |
Z1 | 1 |
100nH電感器 (0603) 線藝 0603CS-R10XJBC |
C1 | 1 |
1500pF陶瓷帽(0603) 村田制作所GRM188R71H152KA01B |
C2 | 1 |
150pF 5%陶瓷蓋 (0603) 村田GRM1885C1H151JA01 |
C3 | 1 |
10μF 陶瓷電容 (1206) AVX TAJA106D010R |
C4 | 1 |
470pF 5%陶瓷蓋 (0805) 村田制作所GRM40COG471J50V |
C5 | 1 |
2.2pF 5%陶瓷帽 (0805) 村田制作所GRM40COG022D50V |
C6 | 1 |
5pF 5%陶瓷帽(0805) 村田制作所GRM40COG050D50V |
圖 15.用于315MHz應(yīng)用的LNA輸入和輸出匹配網(wǎng)絡(luò)。
LNA增益和IIP3的測量設(shè)置如下。(請參閱圖 16。
IIP3測試使用了標(biāo)準(zhǔn)的雙音測試。
兩個RF信號發(fā)生器通過功率組合器連接到LNA輸入。
我們設(shè)置第一個發(fā)生器(HP8648B)產(chǎn)生314.5MHz,第二個發(fā)生器(HP8648B)產(chǎn)生315.5MHz(1MHz音調(diào)分離)。兩種音調(diào)都是在-30dBm下產(chǎn)生的。
使用頻譜分析儀(安捷倫 8562EC)測量 LNA 輸出端所需音調(diào)與三階產(chǎn)物之間的增益和差異。
我們使用這些測量值以及每個音調(diào)的輸入功率來找到LNA的IIP3。
圖 16.LNA 增益和 IIP3 的測量設(shè)置。
噪聲系數(shù)的測量設(shè)置
使用噪聲系數(shù)計(安捷倫N8973A)和噪聲源(HP346A)來確定LNA的噪聲系數(shù)。下面的圖 17 顯示了該設(shè)置。
圖 17.噪聲系數(shù)的測量設(shè)置。
審核編輯:郭婷
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