1?PN1000方案六大亮點

1BOM精簡：僅需1個外圍元器件，便于生產(chǎn)加工和小型化設(shè)計

2寬輸入電壓：AC輸入電壓75~300Vac

3高精度檢測技術(shù)：內(nèi)置高精度過零檢測電路

4高可靠性：ACIN耐壓700V，ACZO ESD大于3.5KV

5智能保護：輸出過載保護、短路保護、開路保護、過溫保護

6超低待機功耗：小于30mW

2?PN1000方案過零檢測原理

PN1000是一款過零檢測專用芯片，內(nèi)置有700V高耐壓功率管和高精度的過零檢測電路，具有極低的待機功耗。工作時，芯片ACIN端子通過一個限流電阻接在市電一個輸入端，芯片GND端子連接市電另外一個輸入端同時也連接應(yīng)用系統(tǒng)地，芯片ACZO端子輸出過零信號。在市電輸入電壓正半周期，ACIN端子電壓大于GND端子電壓，內(nèi)部檢測電路會產(chǎn)生一個5V左右的電壓信號并通過ACZO端子輸出;在市電輸入電壓負(fù)半周期，ACIN端子電壓小于GND端子電壓，內(nèi)部檢測電路處于截止?fàn)顟B(tài)，同時ACZO端子輸出一個接近0V電壓信號。PN1000通過這種實時檢測輸入電壓正負(fù)周期變化，輸出一個高精度的過零點信號，可直接送給如MCU控制器來進行處理。

3?Demo實物圖及圖紙

4?PN1000方案與三極管過零檢測方案BOM及性能對比

4.1三極管過零檢測方案線路圖

4.2 Bom比對

PN1000方案比三極管過零檢測方案省6顆元件，易于小型化設(shè)計。

4.3 過零檢測芯片與三極管過零檢測主要性能對比

5?過零檢測芯片測試數(shù)據(jù)

5.1 過零工作波形

測試條件：Vin=115/230Vac

測試波形如下：CH1:AC_zero，CH4:AC_input

115Vac過零波形

230Vac過零波形

5.2 EFT測試

測試條件：Vin=230Vac，EFT 4KV;

測試結(jié)果：PASS

5.3 Surge測試

測試條件：Vin=230Vac，差模雷擊2KV;

測試結(jié)果：PASS

5.4 EMI測試

測試條件：Vin=230Vac，PN1000過零檢測芯片搭配Buck-Boost電源5V/0.2A系統(tǒng)測試

測試結(jié)果：滿足EN55022 Class B標(biāo)準(zhǔn)要求

L相線

N相線

6?應(yīng)用要點

1 ?PN1000 僅適用于單二極管或者兩顆二極管直接串聯(lián)的半波整流系統(tǒng)。

2 ?ACIN通過1顆電阻接到輸入整流二極管之前，繞線保險電阻和壓敏電阻之后，GND腳直接接系統(tǒng)輸出地，推薦電阻值10K/1206。

3 ?ACIN腳與ACZO、GND腳走線之間需要滿足安規(guī)要求, 推薦2.5mm以上的爬電距離。

審核編輯：湯梓紅