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「復享光學」3D NAND多層薄膜量測的新思路

硬科技星球 ? 來源:硬科技星球 ? 作者:硬科技星球 ? 2022-12-05 17:07 ? 次閱讀

知名半導體和微電子情報提供商TechInsights報道,長江存儲的232層3D NAND閃存X3-9070已經實現量產,領先于三星、美光、SK海力士等廠商,這也是__中國品牌在半導體領域首次領先于國際競爭者。__

中國半導體在先進制程制造上的持續重大突破,給國產量檢測設備的發展提出了同樣的要求,只有追求全產業鏈的整體提升,才能真正保持國際領先。 復享光學作為國內集成電路核心光譜零部件供應商 ,配合設備廠商解決各類芯片制程工藝控制中的量檢測核心問題,為實現集成電路產業的全鏈突破保駕護航。

近期,復享光學下屬的上海微納制程智能檢測工程中心__首次提出薄膜神經網絡,突破百層3D NAND量測關鍵技術__,相關成果發表于國際知名光學期刊Light: Advanced Manufacturing。

圖片來源:msi.com

業內對3D NAND堆疊層數的不斷追求來源于市場對單芯片存儲容量需求的不斷提升。由于芯片的微縮化已經接近2x nm性價比極限,通過實現存儲單元在垂直方向的層層堆疊,就可以大幅度提升NAND芯片的性能和存儲密度。業內預測,在2025年左右3D NAND會達到500層,而在2030年左右達到800層。

百層膜厚檢測,3D NAND制備的新挑戰

多層膜的制備是3D NAND的前道工序。由于層間應力的存在,工藝完成后的實際層厚與設計值相比會存在較大的偏差,因此多層膜的不均勻性對芯片生產的良率構成了嚴峻的挑戰。

3D NAND 制備工藝挑戰

圖片

圖片來源:Lam Research

目前市場上針對薄膜的厚度量測方法,通常使用參數微擾差分獲取梯度,并結合Levenberg-Marquardt算法構建映射關系進行在線優化。對于超過20層以上較多參數的多層結構,該方案必須預先假定其為周期性結構才能適用。并且,較多的結構參數會導致優化時間長達幾小時,相當于在一次迭代中進行上百次計算,大大增加了等待耗時。

可見,傳統厚度量測方法在3D NAND領域存在較大的局限性,亟需開發新的膜厚量測方案,以滿足在線實時檢測的產線需求。

薄膜神經網絡,百層膜厚檢測的新路徑

深度學習領域,多參數神經網絡的優化過程中,常常采用反向傳播算法來對神經網絡中的大量參數進行優化。__反向傳播算法,是適合于多層神經元網絡的一種學習算法。__相較于傳統的差分求梯度,反向傳播算法是一種非常有效的快速獲取梯度優化神經網絡的手段,可上百倍,甚至上千倍地提升效率。

復享光學將光學逆問題研究主體(多層薄膜)視為神經網絡來構建映射關系,并進行優化訓練。這是全球首次將反向傳播算法引入薄膜優化過程,在__復享深度光譜? 技術框架下開創性地發展了薄膜神經網絡技術,極大地縮短了百層薄膜厚度的優化時間,相比于傳統微擾差分的方法,其__單次優化時間縮短為原來的2%

薄膜神經網絡技術原理

圖片

圖片來源:Light: Advanced Manufacturing 2021 , *2 *(4), 395-402.

目前, 復享光學已成功將此技術應用于232層非周期薄膜結構的厚度量測 ,有望解決百層3D NAND量測的痛點。

準確高效,比肩國際量測標準數據

除時間的大幅縮短外,薄膜神經網絡技術的另一項優勢在于,該技術無需前期準備大量數據集進行神經網絡訓練學習,直接構建于精確電磁仿真計算的映射關系上,即使在薄膜層數達到232層,依然能保證光譜結果的精確性。

232層薄膜優化案例

圖片

圖片來源:Light: Advanced Manufacturing 2021 , *2 *(4), 395-402.

經研究驗證,復享光學提出的薄膜神經網絡的技術方案,不僅可以實現多層薄膜厚度的快速檢測,同時還能__判斷樣品是否異常以及異常層位置。__

圖片

圖片來源:Light: Advanced Manufacturing 2021 , *2 *(4), 395-402.

在晶圓膜厚量測過程中,基于薄膜神經網絡的測量結果__與國際量測標準的數據進行對比__, 誤差在萬分之一以內(<0.1 nm) 。這一結果證明了該技術在晶圓級薄膜厚度測量場景中的可行性。

薄膜厚度實測結果

圖片

賦能微納制造,微納光學逆問題求解

3D NAND多層膜厚量測是一個典型的光學逆問題。__對光學逆問題的求解,是指從已知的光學響應反向推測微納結構的求解過程。__除3D NAND的量測以外,還有一系列存在于微納光學與半導體制程檢測領域的關鍵問題,都是典型的光學逆問題。

薄膜神經網絡技術的提出,得益于復享光學長期以來對微納光學逆問題的研究工作,并__深度引入神經網絡算法實現多維度光譜量檢測的復雜應用__,在光學算法上具有堅實的基礎和應用經驗。光譜量檢測技術存在于各類微納制造與量檢測設備之中,是支撐集成電路和光電子芯片產業制造工藝的關鍵技術之一。

目前,復享光學的多系列光譜模組已在半導體前道工藝之中成功應用,并獲得多家半導體頭部客戶的驗證、生產導入及小批量訂單。憑借__復享深度光譜?__技術,復享光學希望與國內量檢測設備廠商一起,解決先進制程核心工藝問題,以光譜硬科技助力產業發展。

關于復享光學

復享光學是深度光譜技術的創導者 ,歷時十年,深耕微納光電子領域,發展智能化全光譜技術,著力于光子學與人工智能的融合,形成了國際領先的深度光譜技術平臺,向市場提供從技術到產品,從模塊到系統的全面解決方案。

通過成立對接產業需求的__“上海微納制程智能檢測工程技術研究中心” ,并與復旦大學共建致力于研究微納制造前沿共性關鍵技術的 “復旦大學光檢測與光集成校企聯合研究中心”__,復享光學形成了多層次的研發平臺,以深度響應市場需求,持續推出突破性的產品。

復享光學已擁有國內外__超3000家__優質客戶,并與__超170家__半導體、高端材料、生物醫藥企業形成交流與合作,與客戶一起,致力于__實現科學技術創新__,推動微納制造產業發展。

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