在半導體制造產業鏈中，測試工序是一個十分重要的環節。后摩爾時代，在現有極限工藝制程的條件下，平面IC逐步過渡到三維，出現了異質構成、3D堆疊等先進封裝技術。隨著這些新的趨勢和變化，相應的IC制造、檢測等工藝也應與時俱進。

無論是在前道量測進行的缺陷檢查、圖案檢測等工序，還是在后道測試環節中進行的芯片電性能等測試，測試設備作為優化制程、控制良率、提高效率與降低成本的關鍵，在半導體產業中的地位日益凸顯。隨著半導體行業檢測工序的專業化和測試領域的細分，出現了面向特定器件的垂直測試機構，比如針對高速數字芯片、射頻芯片的測試服務、針對顯示器件的測試服務等。

在此背景下，全球半導體測試企業紛紛升級研發，在2022年8月25日第十三屆晶芯在線研討會上，我們將共同探討車規級芯片檢測、SLT測試、存儲芯片測試、半導體測試設備發展趨勢等話題，面對5G、大數據、人工智能等新興市場的崛起，滿足半導體企業間的測試對接需求。

審核編輯 黃昊宇