隨著國內(nèi)越來越多的從事企業(yè)級SSD controller設(shè)計以及使用第三方控制器開發(fā)企業(yè)級SSD的公司逐步開始實現(xiàn)VDM, ZNS, SRIS, TCG, dual port等企業(yè)級的特性，對于這些功能的了解以及測試的問題也越來越多。

本次技術(shù)講座主要適用于從事或者希望了解企業(yè)級NVMe SSD特性和測試的工程師，當然，對于從事消費類NVMe SSD的測試的可能也有一定的幫助。

下面是本次技術(shù)講座的一些內(nèi)容簡介供參考。

1. NVMe-MI Over PCIe VDM測試

這部分內(nèi)容簡介NVMe-MI的兩種管理方式以及如何針對兩種方式進行測試。

NVMe-MI的帶外和帶內(nèi)管理

NVMe-MI 規(guī)范為 NVMe 存儲設(shè)備的帶外和帶內(nèi)管理定義了架構(gòu)和命令集，參見下圖中的兩種實現(xiàn)方式。

MCTP over PCI Express Vendor Defined Message (VDM) 的packet格式

下圖是VDM的packet格式。

2. ZNS(Zoned Name Space)測試

NVMe 分區(qū)命名空間 (ZNS) 是 NVM Express 組織標準化的技術(shù)提案。它將命名空間的邏輯地址空間劃分為區(qū)域。每個區(qū)域都提供一個邏輯塊地址 (LBA) 范圍，該范圍必須按順序?qū)懭耄绻俅螌懭耄瑒t必須明確重置。此操作原理允許創(chuàng)建的命名空間暴露設(shè)備的自然邊界，并將內(nèi)部映射表的卸載管理提供給主機。

ZNS 引入了一種新型 NVMe 驅(qū)動器，與傳統(tǒng) SSD 相比具有多項優(yōu)勢。它將一個命名空間劃分為多個區(qū)域，并且每個區(qū)域只允許順序?qū)懭搿?/p>

3. SRIS測試

這部分內(nèi)容簡述了SRIS是什么，實現(xiàn)了SRIS的SSD應(yīng)該如何來進行測試。

4. TCG Opal測試

這部分內(nèi)容簡述了TCG的基本知識以及相關(guān)測試。TCG（Trusted Computing Group）存儲工作組（SWG）制定了Core Specification，正式名稱為TCG Storage Architecture Core Specification，為TCG存儲設(shè)備提供了TCG相關(guān)功能的全面定義。核心規(guī)范可以進一步分解為稱為安全子系統(tǒng)類 (SSC) 的多個功能子集。SSC 明確定義了特定“類”中存儲設(shè)備的最低可接受核心規(guī)范功能，并可能擴展超出核心規(guī)范中定義的功能。

Opal SSC規(guī)范以易于實施和集成為前提，也稱為“Opal SSC”或“Opal”，是一種存儲設(shè)備的安全管理協(xié)議。Opal 系列 SSC 包括 Opal、Opalite、Pyrite 和 Ruby，并定義了在存儲設(shè)備上實現(xiàn)核心規(guī)范的功能，例如存儲設(shè)備上的文件管理。Opal 系列 SSC 還定義了用于存儲和檢索文件的類級別權(quán)限，從而保護用戶數(shù)據(jù)。符合 Opal SSC 規(guī)范的設(shè)備可稱為 TCG Opal 設(shè)備。

Opal 存儲規(guī)范是一組用于將基于硬件的加密應(yīng)用于存儲設(shè)備的安全規(guī)范。換句話說，它是一種自加密驅(qū)動器 (SED) 規(guī)范，驅(qū)動器上的所有數(shù)據(jù)始終加密，無需使用第三方加密解決方案。一些 NVMe SSD 可能會采用纖薄的 Opal，Opalite 或 Pyrite。

5. Dual Port SSD測試

這部分簡述dual port SSD的基本概念，如何搭建dual port SSD測試環(huán)境，以及如何測試dual port SSD。

最后，我們也會簡單接一些針對NVMe SSD進行測試過程中各種reset測試，以及如何協(xié)同PCIe analyzer快速定位測試中的問題。

NVMe Power and Reset測試

PCIe 重置 (PERST) 與電源ASSERTED時間相關(guān)的時序因平臺而異，并且是 NVMe 設(shè)備在執(zhí)行初始代碼和固件初始化時潛在問題的根源。我們簡述如何控制電源和 PERST 的Assert，并且可以改變彼此相關(guān)的兩個信號的時序，以模擬復雜的電源和復位時序組合。

測試過程中碰到問題何配合PCIe Gen4/5協(xié)議分析儀進行問題分析

這部分我們將簡介使用業(yè)內(nèi)知名的測試工具，在測試過程中碰到嚴重問題的時候如何送出trigger pakcet來觸發(fā)PCIe Gen4/5協(xié)議分析儀進行觸發(fā)分析儀，從而協(xié)同問題的定位和分析。

審核編輯 ：李倩