在設(shè)計(jì)將要在行業(yè)中廣泛使用的設(shè)備和電路時(shí)，必須滿足規(guī)格并達(dá)到質(zhì)量。設(shè)計(jì)必須盡可能堅(jiān)固，并具有較長的使用壽命。為了獲得更好的產(chǎn)品效果，設(shè)計(jì)人員必須意識到的一件事就是電磁干擾（EMI）。

電磁干擾（EMI）可能會對電子產(chǎn)品造成不良影響。這些影響的范圍可能從煩人的故障到使產(chǎn)品無法使用。為了盡量減少這些問題，各國已經(jīng)為在該市場內(nèi)銷售的產(chǎn)品建立了標(biāo)準(zhǔn)和限制。電磁兼容性（EMC）測試是產(chǎn)品設(shè)計(jì)和資格認(rèn)證中不可或缺的一部分，該產(chǎn)品設(shè)計(jì)和認(rèn)證適用于在這些市場中出售的任何電子產(chǎn)品。

在幾乎每種情況下，這些規(guī)范都包含對傳導(dǎo)和發(fā)射輻射測試的限制。傳導(dǎo)發(fā)射是通過連接儀器的電源線傳播的發(fā)射（被測設(shè)備或此處的EUT）。輻射發(fā)射是指發(fā)射到EUT周圍區(qū)域的輻射。

本說明將簡要介紹設(shè)計(jì)階段初期進(jìn)行傳導(dǎo)排放測試的一些常規(guī)做法，我們將在另一說明中介紹輻射排放。

一項(xiàng)有關(guān)預(yù)合規(guī)性的說明

要進(jìn)行全面的認(rèn)證測試，必須使用CISPR 16認(rèn)證的EMI接收器和正確的設(shè)置。這通常需要使用經(jīng)過認(rèn)證的測試實(shí)驗(yàn)室和專用設(shè)備，而這些設(shè)備對于開發(fā)和設(shè)計(jì)調(diào)整可能會帶來高昂的成本。

本說明涵蓋使用Rigol DSA-815頻譜分析儀和可選的EMI測量套件（零件號DSA800-EMI）進(jìn)行的預(yù)一致性測量。

在不完全提供完全合規(guī)的測量數(shù)據(jù)的同時(shí)，預(yù)一致性測試可以使您對設(shè)計(jì)的設(shè)計(jì)局限性有嚴(yán)格的了解。您可以找到EMI的來源，并在完全兼容的測試甚至開始之前嘗試限制它們的影響。
也許最好的方法是使用多種物理配置對產(chǎn)品執(zhí)行多種預(yù)一致性測試。然后，將該數(shù)據(jù)與在完全兼容的設(shè)置中收集的數(shù)據(jù)進(jìn)行比較。使用此“黃金標(biāo)準(zhǔn)”比較可以使您對合規(guī)前的測量充滿信心，還可以洞察測試的缺陷。許多差異可能是系統(tǒng)性的，可以通過在測試限制上允許更大的誤差緩沖來解決。

物理測量設(shè)置

進(jìn)行EMC測試的電氣連接。

您與完全合規(guī)性設(shè)置的匹配越緊密，您的數(shù)據(jù)與實(shí)驗(yàn)室的匹配就越緊密。但是，這并不總是可行的。

上下所示的以??下圖表是建議的用于測試傳導(dǎo)性排放的標(biāo)準(zhǔn)電氣和物理設(shè)置：

進(jìn)行EMC測試的物理連接。

關(guān)鍵點(diǎn)：

水平和垂直接地平面通常是金屬板，其表面積是被測設(shè)備尺寸的兩倍。

水平和垂直接地層應(yīng)相互電連接。

設(shè)備放置在水平地面上方的絕緣桌上。禁止在設(shè)備下方布設(shè)任何設(shè)備或電纜。

LISN電連接到水平接地平面。LISN是線路阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò)的縮寫。它的工作是將交流市電噪聲與被測設(shè)備產(chǎn)生的傳導(dǎo)噪聲分開。請為被測設(shè)備選擇具有適當(dāng)電壓，電流和頻率范圍的LISN。

請勿盤繞電纜。您希望通過平滑布線來最大程度地減少電感環(huán)路。

頻譜分析儀應(yīng)放置在距水平接地平面一定距離的位置。通常，它在幾英尺遠(yuǎn)。

結(jié)論

本文介紹了EMI預(yù)一致性測試的一些技巧和指南。提出了設(shè)計(jì)建議，以獲得更好的產(chǎn)品效果。RIGOL DSA-815頻譜分析儀的預(yù)一致性測量程序也包括在內(nèi)。

編輯：hfy