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關(guān)于S公司變頻多通道幅相一致性測(cè)試方案的介紹和應(yīng)用

羅德與施瓦茨中國(guó) ? 來(lái)源:djl ? 2019-10-16 14:52 ? 次閱讀

1. 引言

有源相控陣?yán)走_(dá)具有快速波束成形、作用距離遠(yuǎn)、測(cè)量精度高及同時(shí)支持多種功能等優(yōu)勢(shì),廣泛應(yīng)用于國(guó)防、航空航天應(yīng)用中。有源相控陣?yán)走_(dá)一般包含成百上千個(gè)輻射單元——天線,每個(gè)天線連接一個(gè)T/R組件,每個(gè)T/R組件均包含發(fā)射和接收通道,以及移相器、衰減器等部件,典型的T/R組件結(jié)構(gòu)如圖1所示。相控陣?yán)走_(dá)通過(guò)調(diào)整T/R組件的移相器、衰減器來(lái)改變每一路信號(hào)的相位和幅度,從而實(shí)現(xiàn)波束的快速掃描。

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圖1. 典型的T/R組件結(jié)構(gòu)示意圖

對(duì)于相控陣?yán)走_(dá),只有精確已知各通道之間的幅度和相位差異,才能夠準(zhǔn)確地作相應(yīng)的補(bǔ)償,從而實(shí)現(xiàn)精確波束成形。如何精確地實(shí)現(xiàn)通道間的幅相差異測(cè)試,或者稱為幅相一致性測(cè)試,將是保證相控陣?yán)走_(dá)性能的關(guān)鍵。T/R組件中的發(fā)射通道和接收通道往往包含變頻部件,通道的輸入和輸出頻率不同,這將使得測(cè)試更加復(fù)雜。

針對(duì)以上測(cè)試,羅德與施瓦茨公司可提供完善的測(cè)試解決方案。憑借出色的射頻性能和豐富的測(cè)試功能,羅德與施瓦茨公司的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀可完美地完成變頻通道幅相一致性測(cè)試。

2. 變頻通道幅相一致性測(cè)試

如果待測(cè)通道不包含變頻器件,則直接測(cè)試每個(gè)通道的S參數(shù)得到相移和插損,便可以求出通道之間的幅相一致性。如果待測(cè)通道包含變頻器件,則通常有三種測(cè)試方法:

(1)基于R&S ZVA矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的雙音測(cè)試技術(shù),可確定每個(gè)通道的相位及損耗,再與參考通道相比較,從而得到通道間幅相一致性;

(2)直接將每個(gè)變頻通道輸出信號(hào)的相位和幅度與參考通道比較,從而得到通道間幅相一致性。

(3)使用參考混頻器確定通道間幅相一致性。

下面對(duì)這三種方法分別加以描述。

2.1 基于雙音測(cè)試技術(shù)確定通道間幅相一致性

基于ZVA矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的雙音測(cè)試技術(shù),專門針對(duì)變頻模塊及通道群時(shí)延的測(cè)試,圖2和圖3分別給出了原理示意圖和典型的測(cè)試連接圖。雙音測(cè)試技術(shù)需要兩個(gè)頻率不同的激勵(lì)信號(hào),其基本原理:ZVA內(nèi)部的兩個(gè)激勵(lì)源通過(guò)端口3的定向耦合器實(shí)現(xiàn)雙音合路,然后再饋入端口1,端口1再輸出雙音信號(hào)至待測(cè)件;在待測(cè)件輸入側(cè),雙音信號(hào)存在相位差,其輸出側(cè)也存在相位差,利用輸入側(cè)相位差和輸出側(cè)相位差的差異及雙音頻率間隔便可以計(jì)算出群時(shí)延。該方法的優(yōu)點(diǎn):對(duì)于本振不可接入的變頻器模塊或通道,同時(shí)灌入雙音信號(hào),可消除本振對(duì)待測(cè)件輸出信號(hào)相位的影響。除了可以測(cè)試通道群時(shí)延外,該方法還可以測(cè)試相位及變頻損耗,因此可以用于測(cè)試通道間的幅相一致性。

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圖2. 雙音法測(cè)試群時(shí)延的原理示意圖

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圖3. 雙音法測(cè)試群時(shí)延的連接示意圖

如何消除測(cè)試裝置帶來(lái)的影響?

這就需要作相應(yīng)的校準(zhǔn),校準(zhǔn)過(guò)程非常簡(jiǎn)便,圖4給出了雙音測(cè)試技術(shù)的校準(zhǔn)界面。選擇其中一個(gè)待測(cè)通道作為參考通道,按照?qǐng)D3的方式進(jìn)行連接,因測(cè)試的是相對(duì)相位,所以可直接在圖4中的” Const. Delay”中輸入一個(gè)常數(shù),執(zhí)行“Take Cal Sweep”即可完成校準(zhǔn)。測(cè)試時(shí),直接將待測(cè)通道替換參考通道,測(cè)試結(jié)果便是相對(duì)于參考通道的差異。為改善端口匹配,可在待測(cè)通道前后各引入一個(gè)合適的衰減器,以進(jìn)一步提高測(cè)試精度。

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圖4. 雙音法校準(zhǔn)界面

雙音測(cè)試技術(shù)具有如下優(yōu)勢(shì):專門針對(duì)內(nèi)置本振的變頻器通道,可消除內(nèi)置本振對(duì)輸出中頻信號(hào)相位的影響,從而精確測(cè)試群時(shí)延及相位,而且非常適用于含有多級(jí)變頻的通道測(cè)試。該方法測(cè)試連接簡(jiǎn)單,校準(zhǔn)簡(jiǎn)易,測(cè)試速度快且精度高,保證測(cè)試效率的同時(shí),又能夠保證測(cè)試精度。

2.2 直接比較通道輸出信號(hào)的相位和幅度

該方法是測(cè)試通道間幅相一致性的比較直觀的方法,下面以矢網(wǎng)ZVA為例,對(duì)其作相應(yīng)的介紹。

圖5給出了雙通道一致性測(cè)試的連接示意圖,使用ZVA的端口3作為激勵(lì)端口,其輸出經(jīng)功分器分別饋入兩個(gè)通道,兩個(gè)通道的輸出分別連接至ZVA的端口2和端口4。該方法要求饋入到每個(gè)通道的激勵(lì)信號(hào)必須有穩(wěn)定的相位關(guān)系,最簡(jiǎn)單的方法就是選擇一個(gè)公共的激勵(lì)源,通過(guò)合適的功分器產(chǎn)生多路激勵(lì)信號(hào)。

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圖5. 直接比較通道間的幅度和相位

此時(shí)ZVA需要測(cè)試的不再是S參數(shù),而是波量(wave quantity),包括:b4(P3s)和b2(P3s)。如果測(cè)試幅度差異,將顯示格式Format改為Magnitude(dB);如果測(cè)試相位差異,將顯示格式Format改為Phase;最后使用Trace Math功能,求得差異:Math= b4(P3s)/ b2(P3s)。

上述測(cè)試裝置中,功分器、測(cè)試線纜及ZVA端口2和4的測(cè)量接收機(jī)之間的差異均會(huì)對(duì)測(cè)試結(jié)果有一定的影響。為了保證精確測(cè)試,需要消除測(cè)試裝置引入的影響,即進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)。本例中,系統(tǒng)校準(zhǔn)分為如下三步:

1) 射頻側(cè)功分器及兩根射頻線纜引入的相移差

由于兩個(gè)通道共激勵(lì)源,功分器公共端與激勵(lì)端口Port3之間的線纜可以不考慮,那么就只需要標(biāo)定功分器兩路及所連接線纜的相移差。直接測(cè)試S參數(shù),便可以確定其相移及插入損耗,從而確定功分器兩個(gè)通道的幅相差異。

建議同時(shí)在射頻和中頻頻段上完成功分器的標(biāo)定,因?yàn)橄旅娴诙街袑?duì)端口2和4及中頻線纜的校準(zhǔn)需要使用中頻頻段的數(shù)據(jù)。

2) 端口2、4及兩根中頻線纜引入的相移差

需要使用上面第一步中標(biāo)定過(guò)的功分器,分別連接在與Port2和Port4相連的射頻線纜上,將頻率范圍設(shè)置為IF頻率范圍,觀察波量比b2/b4(P3s)的相位,并按照功分器的兩路相移差修正,即為Port2、Port4及兩根射頻線纜在IF頻率上引入的相移差。

或者直接將激勵(lì)端口Port3分別與Port2和Port4相連,測(cè)試S23與S43的相位差,即可確定在IF頻率上引入的相移差。

(3) 本振側(cè)功分器引入的相移差

如果本振內(nèi)置,則可忽略此步;如果外供本振信號(hào),一般會(huì)使用功分器,校準(zhǔn)方法同(1)。

如果待測(cè)通道的輸入、輸出駐波比不是非常理想,可以在通道前后分別引入一個(gè)合適的衰減器,以改善端口匹配,進(jìn)一步提高測(cè)試精度。圖6給出了一個(gè)相位一致性測(cè)試實(shí)例,Marker1顯示兩個(gè)通道在帶內(nèi)的相位差異最大值為19.426度。

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圖6. 相位一致性測(cè)試結(jié)果

圖5所給的測(cè)試裝置,待測(cè)通道的輸出端口均直接與ZVA的測(cè)試端口相連,這種連接方式最多只支持同時(shí)測(cè)試三個(gè)通道間相位一致性。對(duì)于四端口ZVA,每個(gè)端口具有兩個(gè)接收機(jī),分別是參考接收機(jī)和測(cè)量接收機(jī),共8個(gè)接收機(jī)。ZVA可提供直接源和接收機(jī)接入接口,如圖7所示。對(duì)于相位一致性測(cè)試,通道輸出可以直接饋入接收機(jī),而激勵(lì)信號(hào)輸出則由端口3的源直接輸出接口Src.Out輸出,因此可以同時(shí)測(cè)試8個(gè)通道的相位一致性。

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圖7. R&S ZVA具有直接源和接收機(jī)接入接口

與相位一致性測(cè)試不同,幅度一致性測(cè)試不需要同時(shí)給每個(gè)通道饋入激勵(lì)信號(hào),可以單獨(dú)測(cè)試每個(gè)通道的變頻損耗或增益,然后再進(jìn)行比較。如果采用圖5所示的測(cè)試裝置,可以同時(shí)測(cè)試兩個(gè)通道的變頻損耗或增益,但是為了保證測(cè)試精度,需要進(jìn)行功率校準(zhǔn)。

或者可以采用圖8所示的測(cè)試裝置,分別輪流測(cè)試每個(gè)通道的變頻損耗或增益,這種情況下不需要進(jìn)行功率校準(zhǔn),因?yàn)樽罱K要測(cè)試的是通道間的幅度一致性,在測(cè)試結(jié)果求差值的過(guò)程中,測(cè)試裝置的影響已經(jīng)相互抵消。圖9給出了一個(gè)幅度一致性測(cè)試實(shí)例,Marker1顯示兩個(gè)通道在帶內(nèi)的幅度差異最大值為1.3649 dB。

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圖8. 幅度一致性測(cè)試連接示意圖

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圖9. 幅度一致性測(cè)試結(jié)果

直接比較幅度和相位適用于本振可接入或內(nèi)置本振的通道間幅相一致性測(cè)試。對(duì)于幅度一致性測(cè)試,采用圖8所示的連接,無(wú)需作任何校準(zhǔn)。但對(duì)于相位一致性測(cè)試,要求激勵(lì)信號(hào)同時(shí)饋入各個(gè)通道,所使用的功分器、測(cè)試線纜及接收機(jī)等均會(huì)對(duì)測(cè)試結(jié)果有一定的影響,因此,為了保證測(cè)試精度,需要進(jìn)行復(fù)雜的系統(tǒng)校準(zhǔn)。

2.3 參考混頻器法測(cè)試幅相一致性

圖10給出了使用參考混頻器測(cè)試幅相一致性的連接示意圖,此處以四端口矢網(wǎng)ZVA為例,AUX為輔助混頻器,該混頻器的工作頻率范圍需要覆蓋待測(cè)通道的頻率范圍。REF表示參考混頻器,此處選擇其中一個(gè)待測(cè)通道作為REF,將用于測(cè)試裝置的校準(zhǔn)。作完校準(zhǔn)后,再使用其它待測(cè)通道替換REF,測(cè)試所有其它通道相對(duì)于該參考通道的幅相差異。

該測(cè)試裝置適用于外供本振及內(nèi)置本振的變頻通道的幅相一致性測(cè)試,如果需要外供本振,則要求校準(zhǔn)時(shí)AUX與REF共本振,測(cè)試時(shí)待測(cè)通道與AUX共本振。如果本振內(nèi)置,則只能從待測(cè)通道中分別選擇兩個(gè)通道作為AUX和REF。

該方法測(cè)試幅相一致性的大致過(guò)程如下:

1)校準(zhǔn):射頻激勵(lì)信號(hào)和本振信號(hào)分別經(jīng)過(guò)功分器饋入AUX和REF,AUX輸出的中頻信號(hào)IF1饋入端口4,REF輸出的中頻信號(hào)IF2饋入端口2。分別測(cè)試波量b4(P1s)和b2(P1s),IF1和IF2是同頻的,因此可以直接進(jìn)行波量相位和幅度的比較。
2)測(cè)試:完成校準(zhǔn)后,將待測(cè)通道替換REF,即可測(cè)試當(dāng)前通道相對(duì)于參考通道的幅相差異。

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圖10. 參考混頻器法測(cè)試幅相一致性測(cè)試

對(duì)于四端口ZVA,內(nèi)置兩個(gè)獨(dú)立的激勵(lì)源,端口1和2共用一個(gè)源,端口3和4共用另一個(gè)源,四個(gè)端口可同時(shí)輸出激勵(lì)信號(hào),因此可以采用圖11所示的測(cè)試裝置,而不需要外部功分器,連接更加方便。AUX和REF混頻器輸出的中頻信號(hào)分別直接饋入端口1和2的測(cè)量接收機(jī),從而實(shí)現(xiàn)幅相測(cè)試。

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圖11. 參考混頻器法測(cè)試幅相一致性測(cè)試

對(duì)于兩端口ZVA67,內(nèi)置兩個(gè)獨(dú)立的激勵(lì)源,可以采用圖12所示的測(cè)試裝置,端口2提供LO信號(hào),經(jīng)功分器一分為二,分別給AUX和REF提供本振激勵(lì);端口1提供射頻激勵(lì)信號(hào),直接由端口1和其Ref Out.接口輸出,分別饋入AUX和REF;輸出的兩路中頻信號(hào)分別饋入端口2的Meas. In和Ref. In接口,實(shí)現(xiàn)幅相測(cè)試。

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圖12. 基于兩端口ZVA67的幅相一致性測(cè)試

3. 結(jié)論

本文介紹了三種變頻通道幅相一致性測(cè)試方法,每一種方法均有各自的應(yīng)用優(yōu)勢(shì)和特點(diǎn)。方法一測(cè)試裝置簡(jiǎn)潔,校準(zhǔn)簡(jiǎn)便,測(cè)試幅相一致性的同時(shí),還可以測(cè)試諸如變頻損耗、群時(shí)延等指標(biāo),而且非常適用于含有多級(jí)變頻的通道測(cè)試。方法二是測(cè)試通道間幅相一致性的比較直觀的方法,但是需要進(jìn)行復(fù)雜的系統(tǒng)校準(zhǔn),操作相對(duì)復(fù)雜。相比之下,方法三更具優(yōu)勢(shì),該方法更加簡(jiǎn)便、靈活,無(wú)需進(jìn)行復(fù)雜的系統(tǒng)校準(zhǔn)。

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    是德科技通過(guò)NB-IoT NTN一致性測(cè)試

    近日,知名電子測(cè)量?jī)x器制造商是德科技(Keysight Technologies, Inc.)欣然宣布,其針對(duì)3GPP Rel-17標(biāo)準(zhǔn)中關(guān)于NB-IoT NTN技術(shù)的全新一致性測(cè)試用例已順利通過(guò)
    的頭像 發(fā)表于 07-31 13:07 ?1394次閱讀

    羅德與施瓦茨引領(lǐng)3GPP關(guān)鍵任務(wù)通信服務(wù)設(shè)備一致性

    協(xié)議一致性測(cè)試儀滿足了測(cè)試平臺(tái)認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)(TPAC)。R&S是目前首家啟動(dòng)初始MCPTT工作項(xiàng)目的測(cè)試與測(cè)量
    的頭像 發(fā)表于 07-15 14:12 ?1046次閱讀

    新品發(fā)布 | 同星智能正式推出CAN總線一致性測(cè)試系統(tǒng)

    CAN總線一致性測(cè)試系統(tǒng)CANFD/CAN總線一致性測(cè)試系統(tǒng),在硬件系統(tǒng)上基于同星自主研發(fā)的總線分析工具,干擾儀,一致性
    的頭像 發(fā)表于 07-06 08:21 ?878次閱讀
    新品發(fā)布 | 同星智能正式推出CAN總線<b class='flag-5'>一致性</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>系統(tǒng)

    銅線鍵合焊接一致性:如何突破技術(shù)瓶頸?

    在微電子封裝領(lǐng)域,銅線鍵合技術(shù)以其低成本、高效率和良好的電氣性能等優(yōu)勢(shì),逐漸成為芯片與基板連接的主流方式。然而,銅線鍵合過(guò)程中的焊接一致性問(wèn)題是制約其進(jìn)步發(fā)展和應(yīng)用的關(guān)鍵難題。焊接一致性不僅
    的頭像 發(fā)表于 07-04 10:12 ?2358次閱讀
    銅線鍵合焊接<b class='flag-5'>一致性</b>:如何突破技術(shù)瓶頸?