業(yè)界傳出,臺(tái)積電因應(yīng)新一代iPhone將搭載的最新A系列處理器量產(chǎn)需求,內(nèi)部開始調(diào)整芯片測(cè)試策略,倚重旗下封測(cè)小金雞精材,并已將數(shù)百臺(tái)測(cè)試機(jī)臺(tái)轉(zhuǎn)至精材,日后精材將負(fù)責(zé)M系列芯片測(cè)試業(yè)務(wù),臺(tái)積電則專注搭載在新iPhone的新一代A系列處理器。對(duì)于相關(guān)傳言,臺(tái)積電表示,不回應(yīng)市場(chǎng)傳聞。
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蘋果去年推出自行研發(fā)的M1芯片,以MacBook為首發(fā)產(chǎn)品,在M1強(qiáng)大的效能加持下,MacBook系列產(chǎn)品已成為蘋果第三大熱銷產(chǎn)品,超乎市場(chǎng)預(yù)期。蘋果乘勝追擊,今年首次在iPad導(dǎo)入M1芯片,相較于上一代Bionic芯片,處理器效能提升50%、繪圖效能加速40%。
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法人看好,在M1帶來(lái)更高的效能催動(dòng)買氣下,今年MacBook出貨量預(yù)估上看2300萬(wàn)臺(tái),年增11%;iPad系列產(chǎn)品出貨也可年增6%、達(dá)5800萬(wàn)臺(tái),不僅對(duì)臺(tái)積電接單有利,同時(shí)也意味相關(guān)芯片封測(cè)業(yè)務(wù)量同步拉高。
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此外,蘋果最快9月發(fā)表新一代iPhone,預(yù)料將搭載臺(tái)積電的5納米強(qiáng)化版生產(chǎn)的A15芯片,并將陸續(xù)進(jìn)入量產(chǎn)階段,讓臺(tái)積電內(nèi)部忙翻天。
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供應(yīng)鏈透露,在M1芯片出貨量放大,A系列處理器又將量產(chǎn)之際,臺(tái)積電全力沖刺最新A系列處理器量產(chǎn),在產(chǎn)能分配下,順勢(shì)調(diào)整測(cè)試策略,已將數(shù)百臺(tái)測(cè)試機(jī)臺(tái)轉(zhuǎn)至旗下封測(cè)廠精材,日后M系列芯片將由精材負(fù)責(zé)相關(guān)測(cè)試業(yè)務(wù),成為推動(dòng)精材營(yíng)運(yùn)表現(xiàn)的一項(xiàng)動(dòng)能。
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臺(tái)積電為精材的最大股東,持股比率41%,精材過去的主要業(yè)務(wù)之一,就是將影像感測(cè)器與邏輯IC,利用晶圓級(jí)封裝制成一顆IC。2020年下半年開始,精材開始扮演臺(tái)積電體系晶圓級(jí)測(cè)試廠的角色,原有的影像感測(cè)先進(jìn)封裝業(yè)務(wù)將逐漸縮小。
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精材今年首季合并營(yíng)收新臺(tái)幣21.11億元、稅后純益新臺(tái)幣5.89億元,每股純益新臺(tái)幣2.17元,三者均創(chuàng)同期新高、歷史第三高。精材先前表示,受部分產(chǎn)線調(diào)整影響,第2季營(yíng)收預(yù)期將較首季明顯衰退,不過法人認(rèn)為,在車用CIS(CMOS影像感測(cè)器)強(qiáng)勁需求,以及美系手機(jī)大客戶拉貨潮,再加上臺(tái)積電測(cè)試策略改變,擴(kuò)大委外測(cè)試單給予精材,法人看好第3季營(yíng)收可望向上,全年?duì)I運(yùn)將繳出優(yōu)于2020年的表現(xiàn)。
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傳臺(tái)積電調(diào)整芯片測(cè)試策略 蘋果M系列測(cè)試轉(zhuǎn)至精材
- 臺(tái)積電(164642)
- 封測(cè)(34838)
- M1芯片(5053)
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MLCC龍頭漲價(jià);車廠砍單芯片;臺(tái)積電28nm設(shè)備訂單全部取消!
一共就72億美元左右,臺(tái)積電一家就拿走了其中3/4的份額。如果消息屬實(shí),臺(tái)積電面臨客戶的砍單情況將會(huì)比預(yù)期的還要嚴(yán)重。
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RE測(cè)試高頻諧波超標(biāo)該如何調(diào)整?
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2019-04-16 10:29:33
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2010-05-06 15:38:51
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2017-09-27 09:13:24
一個(gè)測(cè)試臺(tái)研發(fā)項(xiàng)目
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全球進(jìn)入5nm時(shí)代
抽測(cè)方式,以確保不會(huì)發(fā)生故障。此外,精測(cè)是主要晶圓測(cè)試板及探針卡供貨商,宜特提供5nm相關(guān)材料及可靠性分析服務(wù)。封測(cè) 臺(tái)積電對(duì)其先進(jìn)制程芯片的封測(cè)業(yè)務(wù)早有布局,7nm就已經(jīng)能夠自給自足了,在此基礎(chǔ)上
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基于DDS信號(hào)源的掃頻測(cè)試應(yīng)用
的調(diào)整、校準(zhǔn)及故障排除提供了極大的便利。北京普源精電(RIGOL)最新推出的DG5000 系列函數(shù)/任意波形發(fā)生器采用了DDS 直接數(shù)字合成技術(shù),可生成穩(wěn)定、精確、純凈和低失真的輸出信號(hào)。本文僅以
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基于stm32f072的cortex-m系列串口控制臺(tái)
cortex-m 系列串口控制臺(tái)實(shí)現(xiàn) 基于stm32f072簡(jiǎn)單 方便 復(fù)雜的事情就交給編譯器好了測(cè)試環(huán)境:MDK5.24.2IAR 8.30.1以上兩個(gè)版本都支持 gcc 的擴(kuò)展語(yǔ)法1、命令測(cè)試效果 2、工程主函數(shù) 3、測(cè)試命令添加文件
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臺(tái)積電要自研光刻機(jī)#芯片 #臺(tái)積電
臺(tái)積電行業(yè)芯事經(jīng)驗(yàn)分享
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中國(guó)“芯片之城”誕生,年收入近2000億元#科技 #南京 #臺(tái)積電.
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測(cè)試接口原理與電源芯片應(yīng)用案例
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2009-12-19 15:10:33
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#硬聲創(chuàng)作季 【科技】PS5每人限購(gòu)一臺(tái) 蘋果ARM芯片臺(tái)積電造 [ #339]
臺(tái)積電ARM芯片行業(yè)芯事時(shí)事熱點(diǎn)
Mr_haohao發(fā)布于 2022-09-30 07:14:39



第3集|臺(tái)積電上交全部數(shù)據(jù),最后利好的是誰(shuí)????#芯片? #硬聲創(chuàng)作季
芯片臺(tái)積電
Hello,World!發(fā)布于 2022-10-05 14:39:22



芯片界的卷王,老大哥臺(tái)積電搶先進(jìn)軍2納米工藝#科技#芯片?? #硬聲創(chuàng)作季
芯片臺(tái)積電納米
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中國(guó)臺(tái)灣省半導(dǎo)體那些事1,#芯片 #半導(dǎo)體 #臺(tái)灣 #臺(tái)積電 #科技 芯球崛起—全球芯片電子元#硬聲創(chuàng)作季
臺(tái)積電科技時(shí)事熱點(diǎn)
電子師發(fā)布于 2022-10-20 08:55:01



臺(tái)積電明年漲價(jià),#芯片 #晶圓制造過程 #臺(tái)積電 #半導(dǎo)體 #臺(tái)灣 中國(guó)芯片崛起#硬聲創(chuàng)作季
臺(tái)積電晶圓中國(guó)芯臺(tái)積中國(guó)芯片晶圓制造時(shí)事熱點(diǎn)
電子師發(fā)布于 2022-10-20 08:58:23



高通掌門人談芯片重要性,臺(tái)積電稱元宇宙世界將來(lái)臨#芯片制造
臺(tái)積電芯片制造臺(tái)積Qualcomm AthQualcommQualcomm驍龍行業(yè)資訊
硬聲科技熱點(diǎn)發(fā)布于 2022-10-20 16:46:06



#硬聲創(chuàng)作季 臺(tái)灣網(wǎng)友拍攝臺(tái)積電高雄廠近況:去年11月決定,今年開工,臺(tái)積電高雄工廠近況如何?
臺(tái)積電臺(tái)積時(shí)事熱點(diǎn)
Mr_haohao發(fā)布于 2022-10-21 22:24:00



產(chǎn)能利用率下滑,臺(tái)積電鼓勵(lì)員工多休假#芯片制造芯片制造
臺(tái)積電芯片制造臺(tái)積行業(yè)資訊
新知錄發(fā)布于 2022-10-26 14:33:46



#展訊Spreadtrum 展訊二手芯片測(cè)試SC6531、SC77、98 系列等等自動(dòng)化測(cè)試,方案成熟穩(wěn)定
芯片測(cè)試
艾迪科電子發(fā)布于 2022-12-10 15:19:14



SOC的可測(cè)試性設(shè)計(jì)策略
可測(cè)試設(shè)計(jì)(DFT)是適應(yīng)集成電路的發(fā)展要求所出現(xiàn)的一種技術(shù),主要任務(wù)是對(duì)電路的結(jié)構(gòu)進(jìn)行調(diào)整,提高電路的可測(cè)性,即可控制性和可觀察性。
2012-04-27 11:11:59
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IA服務(wù)器測(cè)試技術(shù)的策略與方法
本節(jié)內(nèi)容主要是為了讓用戶快速了解服務(wù)器測(cè)試策略與方法,能夠用于選型測(cè)試中。在此僅僅以最重要的性能、內(nèi)存緩存性能、數(shù)據(jù)庫(kù)網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用輔以基本對(duì)比測(cè)試來(lái)考察不同服務(wù)器間的
2012-06-14 17:34:41
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基于1553B總線的BU-61580芯片測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)
BU-61580芯片測(cè)試系統(tǒng)用于檢測(cè)DDC公司的BU-61580系列芯片的總線協(xié)議功能和電氣特性,篩選失效芯片,并具備芯片接口時(shí)序調(diào)整功能,可檢驗(yàn)芯片在不同的接口環(huán)境和工作方式下的特殊表現(xiàn)
2013-03-04 16:10:35
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#臺(tái)積電 #冷戰(zhàn) 臺(tái)積電張忠謀回母校演講稱:應(yīng)避免冷戰(zhàn)
臺(tái)積電行業(yè)資訊
深圳市浮思特科技有限公司發(fā)布于 2023-10-26 17:17:08



ANDK測(cè)試座之RF射頻芯片測(cè)試座
國(guó)家戰(zhàn)略調(diào)整政策的實(shí)施,越來(lái)越多的資源投入到射頻組件和芯片的開發(fā)和生產(chǎn)中。在這個(gè)過程中,在中國(guó),迫切需要滿足RF芯片的生產(chǎn)測(cè)試。 測(cè)試中的困難是: 1.被測(cè)設(shè)備越來(lái)越小,測(cè)試頻率越來(lái)越高。許多設(shè)備的尺寸小于1mm。測(cè)試頻率高于
2020-05-06 15:50:09
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芯片測(cè)試流程 芯片測(cè)試價(jià)格
集成電路芯片的測(cè)試(ICtest)分類包括:分為晶圓測(cè)試(wafertest)、芯片測(cè)試(chiptest)和封裝測(cè)試(packagetest)。
2021-07-14 14:31:23
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嵌入式軟件接口怎么測(cè)試,嵌入式系統(tǒng)接口測(cè)試策略.doc
樓宇對(duì)講系統(tǒng)DH-T90,從測(cè)試環(huán)境描述、測(cè)試用例篩選、回歸策略選擇等一系列方法步驟,較系統(tǒng)的說明一種制定智能樓宇對(duì)講系統(tǒng)接口測(cè)試的規(guī)劃策略,從而優(yōu)化嵌入式系統(tǒng)的接口測(cè)試,規(guī)范了測(cè)試風(fēng)險(xiǎn),并提升了測(cè)試效率...
2021-10-20 19:06:08
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如何區(qū)分芯片CP測(cè)試和FT測(cè)試
從工序角度上看,似乎非常容易區(qū)分cp測(cè)試和ft測(cè)試,沒有必要再做區(qū)分,而且有人會(huì)問,封裝前已經(jīng)做過測(cè)試把壞的芯片篩選出來(lái)了,封裝后為什么還要進(jìn)行一次測(cè)試呢?難道是封裝完成度不高影響了芯片的動(dòng)能嗎?不是的,因?yàn)閺?b class="flag-6" style="color: red">測(cè)試內(nèi)容上看,cp測(cè)試和ft測(cè)試有著非常明顯的不同。
2022-08-09 17:29:13
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芯片測(cè)試及測(cè)試方法有哪些?
芯片從設(shè)計(jì)到成品有幾個(gè)重要環(huán)節(jié),分別是設(shè)計(jì)->流片->封裝->測(cè)試,但芯片成本構(gòu)成的比例確大不相同,一般為人力成本20%,流片40%,封裝35%,測(cè)試5%。測(cè)試是芯片各個(gè)環(huán)節(jié)中最
2023-05-22 08:58:33
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芯片測(cè)試的功能介紹
芯片測(cè)試座,又稱為芯片測(cè)試插座,是一種專門用于測(cè)試芯片的設(shè)備。它通常包括一個(gè)底座和一個(gè)插頭,是一種連接芯片與測(cè)試儀器或其他設(shè)備的接口。
2023-06-07 14:14:00
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芯片中的CP測(cè)試是什么?
芯片中的CP測(cè)試是什么?讓凱智通小編來(lái)為您解答~ ★芯片中的CP一般指的是CP測(cè)試,也就是晶圓測(cè)試(Chip Probing)。 一、CP測(cè)試是什么? CP測(cè)試在整個(gè)芯片制作流程中處于晶圓制造和封裝
2023-06-10 15:51:49
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FP7122內(nèi)置MOS共陽(yáng)極恒流調(diào)光芯片待機(jī)功耗測(cè)試EMC策略
FP7122內(nèi)置MOS共陽(yáng)極恒流調(diào)光芯片待機(jī)功耗測(cè)試EMC策略
2021-12-14 00:26:27
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SOME/IP與DDS對(duì)比及DDS測(cè)試策略和方案探討
本文對(duì)DDS以及基于DDS的SOA系統(tǒng)的測(cè)試策略進(jìn)行探討,并介紹DDS測(cè)試方案。
2022-08-04 14:52:04
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芯片測(cè)試座的分類和選擇
在芯片測(cè)試中,分類和選擇是關(guān)鍵的步驟,以確保芯片的質(zhì)量和可靠性。根據(jù)不同的測(cè)試目標(biāo)和要求,可以采用不同的分類方法和選擇策略。
2023-06-30 13:50:22
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芯片測(cè)試座在IC芯片測(cè)試中的作用
在IC芯片測(cè)試中,芯片測(cè)試座起著至關(guān)重要的作用。它是連接芯片和測(cè)試設(shè)備的關(guān)鍵橋梁,為芯片提供測(cè)試所需的電流和信號(hào)。
2023-07-25 14:02:50
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ic自動(dòng)化測(cè)試之電源芯片負(fù)載調(diào)整率的測(cè)試原理和測(cè)試方法
測(cè)試電源芯片的負(fù)載調(diào)整率時(shí)我們可以使用ATECLOUD-IC芯片測(cè)試系統(tǒng)通過軟件控制電源給芯片供電輸入,讓芯片處于工作狀態(tài),之后給芯片的輸出端加載輸出電流,控制電子負(fù)載步進(jìn)輸出電流讓其從0逐步增大
2023-09-18 16:37:17
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什么是芯片測(cè)試座?芯片測(cè)試座的選擇和使用
芯片測(cè)試座,又稱為IC測(cè)試座、芯片測(cè)試夾具或DUT夾具,是一種用于測(cè)試集成電路(IC)或其他各種類型的半導(dǎo)體器件的設(shè)備。它為芯片提供了一個(gè)穩(wěn)定的物理和電氣接口,使得在不造成芯片或測(cè)試設(shè)備損傷的情況下
2023-10-07 09:29:44
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常規(guī)開關(guān)電源測(cè)試規(guī)范之負(fù)載調(diào)整率測(cè)試
負(fù)載調(diào)整率是用來(lái)描述在額定電壓下負(fù)載電流從0變化到最大時(shí),輸出電壓相應(yīng)的變化情況。它是衡量電源芯片好壞的重要指標(biāo),因此負(fù)載調(diào)整率測(cè)試是必不可少的環(huán)節(jié)。那么要如何測(cè)試電源芯片負(fù)載調(diào)整率呢?有哪些測(cè)試規(guī)范呢?
2023-10-20 15:32:55
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芯片電源電流測(cè)試方法是什么?有什么測(cè)試條件?
芯片電源電流測(cè)試是為了測(cè)試S.M.P.S.的輸入電流有效值INPUT CURRENT。電流測(cè)試是芯片電源測(cè)試的項(xiàng)目之一,用來(lái)檢測(cè)電路或設(shè)備的電流負(fù)載是否正常,保證其正常工作防止過載,評(píng)估芯片電源的電氣特性。
2023-10-25 16:54:54
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芯片電學(xué)測(cè)試是什么?都有哪些測(cè)試參數(shù)?
電學(xué)測(cè)試是芯片測(cè)試的一個(gè)重要環(huán)節(jié),用來(lái)描述和評(píng)估芯片的電性能、穩(wěn)定性和可靠性。芯片電學(xué)測(cè)試包括直流參數(shù)測(cè)試、交流參數(shù)測(cè)試和高速數(shù)字信號(hào)性能測(cè)試等。
2023-10-26 15:34:14
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如何測(cè)試電源芯片負(fù)載調(diào)整率呢?有哪些測(cè)試規(guī)范呢?
如何測(cè)試電源芯片負(fù)載調(diào)整率呢?有哪些測(cè)試規(guī)范呢? 電源芯片的負(fù)載調(diào)整率是指電源芯片在負(fù)載變化時(shí),輸出電壓的調(diào)整速度。測(cè)試電源芯片的負(fù)載調(diào)整率是非常重要的,它能夠評(píng)估電源芯片在實(shí)際使用中對(duì)負(fù)載變化
2023-11-09 15:30:46
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電壓調(diào)整率是什么?電壓調(diào)整率測(cè)試方法
電壓調(diào)整率是什么?電壓調(diào)整率測(cè)試方法 電壓調(diào)整率是指電源在負(fù)載突變時(shí),輸出電壓由不穩(wěn)定狀態(tài)恢復(fù)到穩(wěn)定狀態(tài)所需的時(shí)間。電源的電壓調(diào)整率是評(píng)估其響應(yīng)速度和穩(wěn)定性的重要指標(biāo),對(duì)于保證電源的正常工作和負(fù)載
2023-11-10 15:26:20
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如何用集成電路芯片測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試芯片老化?
如何用集成電路芯片測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試芯片老化? 集成電路芯片老化測(cè)試系統(tǒng)是一種用于評(píng)估芯片長(zhǎng)期使用后性能穩(wěn)定性的測(cè)試設(shè)備。隨著科技的進(jìn)步和電子產(chǎn)品的廣泛應(yīng)用,人們對(duì)芯片的可靠性要求日益增高,因此老化測(cè)試
2023-11-10 15:29:05
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評(píng)論