女人自慰AV免费观看内涵网,日韩国产剧情在线观看网址,神马电影网特片网,最新一级电影欧美,在线观看亚洲欧美日韩,黄色视频在线播放免费观看,ABO涨奶期羡澄,第一导航fulione,美女主播操b

電子發(fā)燒友App

硬聲App

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

電子發(fā)燒友網(wǎng)>制造/封裝>制造新聞>傳臺(tái)積電調(diào)整芯片測(cè)試策略 蘋果M系列測(cè)試轉(zhuǎn)至精材

傳臺(tái)積電調(diào)整芯片測(cè)試策略 蘋果M系列測(cè)試轉(zhuǎn)至精材

收藏

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴

評(píng)論

查看更多

相關(guān)推薦

QDAT非信令測(cè)試常用的測(cè)試方法介紹

高通WIFI6的IPQ系列芯片非信令測(cè)試常用的測(cè)試方法有兩種
2024-01-17 09:43:20544

5019

測(cè)試點(diǎn)/測(cè)試插座/測(cè)試插針
2023-03-30 17:34:49

3031010

連接器 測(cè)試插頭 用于 CLIPLINE 系列
2024-03-14 23:17:00

蘋果將在WWDC發(fā)布ARM架構(gòu)Mac芯片

通和AMD也需要臺(tái)生產(chǎn)芯片?! ?b class="flag-6" style="color: red">蘋果的芯片項(xiàng)目已經(jīng)進(jìn)行了好幾年,被認(rèn)為是該公司最秘密的項(xiàng)目之一。2018年,蘋果成功開發(fā)了一款基于iPad Pro處理器的Mac芯片,用于內(nèi)部測(cè)試,這讓該公司有信心在今年宣布這樣的轉(zhuǎn)型。
2013-12-21 09:05:01

臺(tái)0.18工藝電源電壓分別是多少?

臺(tái)0.18工藝電源電壓分別是多少?是1.8v跟3.3v嗎?
2021-06-25 06:32:37

臺(tái)5nm架構(gòu)設(shè)計(jì)試產(chǎn)

臺(tái)宣布5nm基本完工開始試產(chǎn):面積縮小45%、性能提升15%.pdf(105.52 KB)
2019-04-24 06:00:42

臺(tái)或?qū)ⅰ蔼?dú)吞”A7大單

` 觀點(diǎn):在技術(shù)領(lǐng)先的優(yōu)勢(shì)下,臺(tái)獲得蘋果iPhone5芯片追加訂單已成事實(shí)。然而,在iPhone 5推出后,蘋果已朝下一世代A7處理器邁進(jìn),臺(tái)憑借技術(shù)領(lǐng)先的優(yōu)勢(shì),預(yù)估未來(lái)1-2年內(nèi)
2012-09-27 16:48:11

臺(tái)電量產(chǎn)安徽iPhone 8用大時(shí)代10nmA11芯片可靠嗎

臺(tái)正在大量生產(chǎn)用于蘋果iPhone8手機(jī)的10nm A11處理器。消息稱,蘋果可能在下個(gè)月初正式發(fā)布iPhone 8,但是具體發(fā)貨日期仍然不確定。  據(jù)悉,臺(tái)已經(jīng)采用10nm FinFET
2017-08-17 11:05:18

芯片主要做哪些測(cè)試呢?

Wafer上的芯片,把各類信號(hào)輸入進(jìn)芯片,把芯片輸出響應(yīng)抓取并進(jìn)行比較和計(jì)算,也有一些特殊的場(chǎng)景會(huì)用來(lái)配置調(diào)整芯片【Trim】。需要應(yīng)用的設(shè)備主要是自動(dòng)測(cè)試設(shè)備【ATE】+探針臺(tái)【Prober】+儀器儀表
2021-01-29 16:13:22

芯片失效分析探針臺(tái)測(cè)試

,如示波器,電源等,同時(shí)探針臺(tái)提供樣品細(xì)節(jié)可視化功能,協(xié)助芯片設(shè)計(jì)人員對(duì)失效芯片進(jìn)行分析在顯微鏡的輔助下,使用探針接觸芯片管腳,給芯片,觀察芯片后的功耗表現(xiàn)。芯片失效分析探針臺(tái)測(cè)試probe
2020-10-16 16:05:57

蘋果芯片供應(yīng)商名單曝光后 三星哭了!

半導(dǎo)體公司Dialog負(fù)責(zé),博通供應(yīng)無(wú)線網(wǎng)路芯片,以及NXP負(fù)責(zé)NFC芯片。關(guān)于最重要的A10芯片蘋果一改此前雙芯片供應(yīng)商的策略,即由三星和臺(tái)負(fù)責(zé);以去年A9為例,就是分別采用臺(tái)16nm芯片
2016-07-21 17:07:54

蘋果Mac棄用英特爾芯片的原因

  蘋果首次舉行線上開發(fā)者大會(huì)(WWDC20),在一系列iOS14、macOS等軟硬件更新宣布中,最重磅的莫過于蘋果電腦Mac未來(lái)將使用自研的ARM架構(gòu)芯片,逐步替代現(xiàn)有的英特爾芯片?! ≡跇I(yè)
2020-06-23 08:53:12

CH579上先運(yùn)行Boot作判斷,無(wú)升級(jí)則跳轉(zhuǎn)至APP,跳轉(zhuǎn)后如何使用中斷?

CH579M使用0x0地址開始20K作為Boot,后續(xù)作為APP,上先運(yùn)行Boot作判斷,無(wú)升級(jí)則跳轉(zhuǎn)至APP,跳轉(zhuǎn)后如何使用中斷?看了OAT的例程,跳轉(zhuǎn)至非0地址開始的程序,需要復(fù)制向量數(shù)據(jù)至0地址開始。而我運(yùn)行APP時(shí)不能破壞Boot。
2022-06-15 06:28:40

IC測(cè)試原理——芯片測(cè)試原理

芯片測(cè)試原理討論在芯片開發(fā)和生產(chǎn)過程中芯片測(cè)試的基本原理,一共分為四章,下面將要介紹的是第二章。我們?cè)诘谝徽陆榻B了芯片測(cè)試的基本原理; 第二章討論了怎么把這些基本原理應(yīng)用到存儲(chǔ)器和邏輯芯片測(cè)試
2012-01-11 10:36:45

LED芯片測(cè)試的分選,LED的測(cè)試分選

(0.22-0.35nm)。這樣小的芯片需要微探針才能夠完成測(cè)試,分選過程需要精確的機(jī)械和圖像識(shí)別系統(tǒng),這使得設(shè)備的造價(jià)變得很高,而且測(cè)試速度受到限制。現(xiàn)在的LED芯片測(cè)試分選機(jī)價(jià)格約在100萬(wàn)元人民幣\臺(tái),其
2018-08-24 09:47:12

MLCC龍頭漲價(jià);車廠砍單芯片;臺(tái)28nm設(shè)備訂單全部取消!

一共就72億美元左右,臺(tái)一家就拿走了其中3/4的份額。如果消息屬實(shí),臺(tái)面臨客戶的砍單情況將會(huì)比預(yù)期的還要嚴(yán)重。 【博世擬15億收購(gòu)芯片制造商TSI】 4月26日,博世宣布將收購(gòu)美國(guó)芯片制造商
2023-05-10 10:54:09

RE測(cè)試高頻諧波超標(biāo)該如何調(diào)整

系統(tǒng)主要就是2個(gè)網(wǎng)口,RGMII接口,跑100M,所以時(shí)鐘和信號(hào)都是25M,但是FPGA內(nèi)部時(shí)鐘是125M。 做RE測(cè)試的時(shí)候,發(fā)現(xiàn)125M的3/5/7次諧波超標(biāo)。。。 已經(jīng)改過網(wǎng)口的時(shí)鐘幅度,能小一點(diǎn)點(diǎn),但還是超。 調(diào)整RGMII phy tx方向的串聯(lián)電阻,無(wú)效或更糟。 請(qǐng)高手賜招??!
2019-04-16 10:29:33

RFM3002

RFP3000 系列 RF 測(cè)試
2024-03-14 20:50:37

T3LCR1002

測(cè)試元件 LCR 測(cè)試
2024-03-14 21:39:21

T3LCR1100

測(cè)試元件 LCR 測(cè)試
2024-03-14 21:39:21

T3LCR1300

測(cè)試元件 LCR 測(cè)試
2024-03-14 21:39:21

TD-HSDPA準(zhǔn)入策略的外場(chǎng)測(cè)試的目的是什么?有哪些步驟?

TD-HSDPA準(zhǔn)入策略的外場(chǎng)測(cè)試的目的是什么?TD-HSDPA準(zhǔn)入策略的外場(chǎng)測(cè)試有哪些步驟?TD-HSDPA準(zhǔn)入策略的外場(chǎng)測(cè)試的結(jié)論和部署建議是什么?
2021-05-26 06:49:15

[轉(zhuǎn)]臺(tái)借16nm FinFET Plus及InFO WLP 通吃英特爾蘋果

應(yīng)用處理器代工市場(chǎng)已是毫無(wú)敵手,可望直取英特爾SoFIA、蘋果A9大單。 臺(tái)今年全力沖刺20納米系統(tǒng)單芯片制程(20SoC)產(chǎn)能,由于已搶下蘋果A8處理器及高通、英特爾、NVIDIA等大單,不僅第
2014-05-07 15:30:16

[轉(zhuǎn)帖]IDM廠Q2后擴(kuò)大委外

生產(chǎn)成本,大動(dòng)作縮減或關(guān)閉自有晶圓廠或封測(cè)廠產(chǎn)能。[近來(lái)擴(kuò)大委外最明顯的IDM廠就屬英飛凌,由于其是蘋果iPhone、iPad等手機(jī)基頻芯片最大供貨商,因此已將65奈米及40奈米芯片交給臺(tái)代工,而
2010-05-06 15:38:51

【AD新聞】百萬(wàn)片訂單大洗牌!臺(tái)或成高通新一代PMIC芯片最大供應(yīng)商

技術(shù)實(shí)力成為該產(chǎn)品線的主力供應(yīng)商。 半導(dǎo)體業(yè)者指出,高通其實(shí)有意采取分散供應(yīng)商策略,希望找3家晶圓代工廠分食訂單,但臺(tái)打算以先進(jìn)制程技術(shù)優(yōu)勢(shì)全面卡位,牢牢抓住高通PMIC 5芯片絕大多數(shù)的訂單
2017-09-22 11:11:12

【AD新聞】競(jìng)爭(zhēng)激烈!臺(tái)中芯搶高通芯片訂單

據(jù)外媒報(bào)道,預(yù)計(jì)臺(tái)將獲得高通新一代電源管理芯片(PWM IC)70%至80%的訂單。高通前一代電源管理芯片是由中芯國(guó)際(SMIC)生產(chǎn)的,后者在其8英寸晶圓廠使用0.18至0.153微米工藝來(lái)生
2017-09-27 09:13:24

一個(gè)測(cè)試臺(tái)研發(fā)項(xiàng)目

東東很簡(jiǎn)單,做一個(gè)測(cè)試臺(tái),測(cè)試好壞***要求有ICT測(cè)試研發(fā)經(jīng)驗(yàn)。
2013-08-04 20:44:50

全球進(jìn)入5nm時(shí)代

抽測(cè)方式,以確保不會(huì)發(fā)生故障。此外,測(cè)是主要晶圓測(cè)試板及探針卡供貨商,宜特提供5nm相關(guān)材料及可靠性分析服務(wù)。封測(cè) 臺(tái)對(duì)其先進(jìn)制程芯片的封測(cè)業(yè)務(wù)早有布局,7nm就已經(jīng)能夠自給自足了,在此基礎(chǔ)上
2020-03-09 10:13:54

關(guān)于2700系列與3700系列的內(nèi)建極限測(cè)試

本文介紹了關(guān)于2700系列與3700系列的內(nèi)建極限測(cè)試
2021-04-30 06:51:29

分享一個(gè)不錯(cuò)的移動(dòng)回測(cè)試解決方案

分享一個(gè)不錯(cuò)的移動(dòng)回測(cè)試解決方案
2021-05-26 06:16:43

各類常用工藝庫(kù)臺(tái),中芯國(guó)際,華潤(rùn)上華

各類常用工藝庫(kù)臺(tái),中芯國(guó)際,華潤(rùn)上華
2015-12-17 19:52:34

基于DDS信號(hào)源的掃頻測(cè)試應(yīng)用

調(diào)整、校準(zhǔn)及故障排除提供了極大的便利。北京普源(RIGOL)最新推出的DG5000 系列函數(shù)/任意波形發(fā)生器采用了DDS 直接數(shù)字合成技術(shù),可生成穩(wěn)定、精確、純凈和低失真的輸出信號(hào)。本文僅以
2019-06-06 07:39:43

基于stm32f072的cortex-m系列串口控制臺(tái)

cortex-m 系列串口控制臺(tái)實(shí)現(xiàn) 基于stm32f072簡(jiǎn)單 方便 復(fù)雜的事情就交給編譯器好了測(cè)試環(huán)境:MDK5.24.2IAR 8.30.1以上兩個(gè)版本都支持 gcc 的擴(kuò)展語(yǔ)法1、命令測(cè)試效果 2、工程主函數(shù) 3、測(cè)試命令添加文件
2018-10-19 10:04:58

如何減少蘋果背夾對(duì)蘋果手機(jī)天線的影響

蘋果背夾套上蘋果手機(jī)后,測(cè)試其3G的TRP和EIS時(shí),發(fā)現(xiàn)有很大的衰減,有時(shí)測(cè)試EIS時(shí),背夾不給手機(jī)充電時(shí),EIS的衰減都很大,請(qǐng)問這是什么原因,如何減少蘋果背夾對(duì)手機(jī)的影響呢?
2016-07-21 09:47:22

手動(dòng)探針臺(tái)測(cè)試經(jīng)驗(yàn)

、集成電路以及封裝的測(cè)試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā),旨在確保質(zhì)量及可靠性,并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。手動(dòng)探針臺(tái)的主要用途是為半導(dǎo)體芯片參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)測(cè)試平臺(tái),探針臺(tái)
2020-03-28 12:14:08

手機(jī)電腦維修普源的電源如何選擇

普源電源DP711和 DP811那個(gè)性價(jià)比高
2023-06-18 00:06:59

改進(jìn)高速射頻元件的新的測(cè)試技術(shù)介紹

測(cè)試,從試驗(yàn)臺(tái)轉(zhuǎn)到生產(chǎn)流程中的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)上都將面臨很大的挑戰(zhàn),而將高速RF設(shè)備的測(cè)試轉(zhuǎn)至生產(chǎn)環(huán)境中卻完全是令人怯步的。為了便于甚高頻RF接收器在生產(chǎn)環(huán)境中的測(cè)試,您可以使用一種將誤碼率
2019-06-06 08:21:46

新iPad mini 2待發(fā) 蘋果定價(jià)策略引關(guān)注

平板的生態(tài)系統(tǒng)?! ∮捎谄桨咫娔X的硬件研發(fā)差不多已趨向成熟,除了升級(jí)處理器、工業(yè)設(shè)計(jì)、相機(jī)模塊、面板、觸摸屏模塊等硬件規(guī)格外,平板并沒有剩多少驚喜能帶給消費(fèi)者。因此,蘋果定價(jià)策略將比起新品引入的新功能
2013-08-27 16:56:49

日進(jìn)3.3億,年狂掙千億的臺(tái),為何還漲價(jià)?

進(jìn)行。所以今年和明年,預(yù)計(jì)短缺將繼續(xù)。意味著電子設(shè)備將漲價(jià)。臺(tái)蘋果、AMD、高通等公司合作的芯片制造商。因此,其漲價(jià)肯定會(huì)轉(zhuǎn)移到臺(tái)合作的公司上,最終轉(zhuǎn)嫁給消費(fèi)者。處理器、筆記本電腦、智能手機(jī)和其他
2021-09-02 09:44:44

求一款2M誤碼測(cè)試儀的設(shè)計(jì)方案

本文給出了基于Altera公司的cyclone系列FPGA芯片EP1C12-240PQFP的2M誤碼測(cè)試儀的設(shè)計(jì)方案。
2021-05-06 08:32:38

汽車電子的測(cè)試挑戰(zhàn)和策略是什么

汽車電子的測(cè)試挑戰(zhàn)和策略是什么
2021-05-12 06:55:18

現(xiàn)代PCB測(cè)試策略

現(xiàn)代PCB測(cè)試策略  隨著自動(dòng)測(cè)試設(shè)備成為電子裝配過程整體的一部分,DFT必須不僅僅包括傳統(tǒng)的硬件使用問題,而且也包括測(cè)試設(shè)備診斷能力的知識(shí)?! ?b class="flag-6" style="color: red">測(cè)試著想的設(shè)計(jì)(DFT, design
2018-08-23 10:15:10

論工藝制程,Intel VS臺(tái)誰(shuí)會(huì)贏?

生產(chǎn)。如果臺(tái)真的能夠完全按照這一時(shí)間展開工作的話,那么就將使該公司徹底走在了芯片制造領(lǐng)域的最前端?! ∧壳?,業(yè)內(nèi)設(shè)備制造廠商大多剛剛開始擁抱14納米芯片工藝,蘋果最新的iPhone 6s系列就是
2016-01-25 09:38:11

請(qǐng)問提高測(cè)試系統(tǒng)利用效率的策略有哪幾種?

求大佬分享盡可能提高測(cè)試系統(tǒng)利用效率的策略
2021-04-12 06:59:04

采用J750EX測(cè)試系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)SRAM VDSR32M32測(cè)試技術(shù)

作者:王鑫摘要VDSR32M32是珠海歐比特公司自主研發(fā)的一種高速、大容量的靜態(tài)隨機(jī)器(SRAM)用其對(duì)大容量數(shù)據(jù)進(jìn)行高速存取。本文首先介紹了該芯片的結(jié)構(gòu)和原理,其次詳細(xì)闡述了基于J750測(cè)試系統(tǒng)
2019-07-23 08:26:45

采用magnum II測(cè)試系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)MRAM VDMR8M32測(cè)試技術(shù)

基于magnum II測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試技術(shù)研究,提出了采用magnum II測(cè)試系統(tǒng)的APG及其他模塊實(shí)現(xiàn)對(duì)MRAM VDMR8M32進(jìn)行測(cè)試及功能測(cè)試。其中功能測(cè)試包括全空間讀寫數(shù)據(jù)0測(cè)試,全空間讀寫
2019-07-23 07:25:23

中芯國(guó)際:能否成為“臺(tái)”?

中芯國(guó)際臺(tái)
芯前沿發(fā)布于 2021-07-16 18:28:10

比亞迪進(jìn)軍半導(dǎo)體,或成下一個(gè)臺(tái)#半導(dǎo)體

臺(tái)時(shí)事熱點(diǎn)
硬聲何同學(xué)發(fā)布于 2021-08-26 15:18:50

臺(tái)宣布芯片全面漲價(jià)!除了賺錢,還意味著什么?

臺(tái)
硬件小哥哥發(fā)布于 2021-09-02 18:07:15

芯片皇帝臺(tái),利潤(rùn)超過蘋果公司,臺(tái)高科技的背后,不只依賴光刻機(jī)

臺(tái)蘋果公司行業(yè)芯事經(jīng)驗(yàn)分享
中國(guó)芯動(dòng)向發(fā)布于 2022-06-07 15:56:41

臺(tái)要自研光刻機(jī)#芯片 #臺(tái)

臺(tái)行業(yè)芯事經(jīng)驗(yàn)分享
中國(guó)芯動(dòng)向發(fā)布于 2022-06-07 16:46:41

中國(guó)“芯片之城”誕生,年收入近2000億元#科技 #南京 #臺(tái).

臺(tái)行業(yè)芯事時(shí)事熱點(diǎn)
中國(guó)芯動(dòng)向發(fā)布于 2022-06-08 14:46:59

測(cè)試接口原理與電源芯片應(yīng)用案例

基于對(duì)IC 測(cè)試接口原理和系統(tǒng)結(jié)構(gòu)的闡釋,具體針對(duì)型號(hào)為SL431L 的電源芯片,提出改進(jìn)測(cè)試電路的方法,電壓測(cè)試值的波動(dòng)范圍小于3mV。關(guān)鍵詞:測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu),測(cè)試接口,芯片
2009-12-19 15:10:3333

臺(tái)三星大規(guī)模采購(gòu)光刻機(jī)#科技#科普#知識(shí)

臺(tái)光刻晶圓制造
小凡發(fā)布于 2022-09-25 16:25:50

#硬聲創(chuàng)作季 【科技】PS5每人限購(gòu)一臺(tái) 蘋果ARM芯片臺(tái)造 [ #339]

臺(tái)ARM芯片行業(yè)芯事時(shí)事熱點(diǎn)
Mr_haohao發(fā)布于 2022-09-30 07:14:39

臺(tái)拒絕打折,除蘋果公司外都免談

臺(tái)蘋果公司行業(yè)芯事行業(yè)資訊
電子發(fā)燒友網(wǎng)官方發(fā)布于 2022-09-30 12:02:57

臺(tái)明年漲價(jià),#芯片 #晶圓制造過程 #臺(tái) #半導(dǎo)體 #臺(tái)灣 中國(guó)芯片崛起#硬聲創(chuàng)作季

臺(tái)晶圓中國(guó)芯臺(tái)中國(guó)芯片晶圓制造時(shí)事熱點(diǎn)
電子師發(fā)布于 2022-10-20 08:58:23

3nm工藝延期 臺(tái)回應(yīng)#芯片制造

臺(tái)工藝芯片制造臺(tái)行業(yè)資訊
硬聲科技熱點(diǎn)發(fā)布于 2022-10-20 16:45:35

高通掌門人談芯片重要性,臺(tái)稱元宇宙世界將來(lái)臨#芯片制造

臺(tái)芯片制造臺(tái)Qualcomm AthQualcommQualcomm驍龍行業(yè)資訊
硬聲科技熱點(diǎn)發(fā)布于 2022-10-20 16:46:06

#芯片封裝# 芯片測(cè)試

芯片封裝芯片測(cè)試芯片封裝
jf_43140676發(fā)布于 2022-10-21 12:25:44

延遲!臺(tái)正式做出回應(yīng)了#芯片制造

臺(tái)芯片制造臺(tái)行業(yè)資訊
硬聲科技熱點(diǎn)發(fā)布于 2022-10-21 14:05:52

產(chǎn)能利用率下滑,臺(tái)鼓勵(lì)員工多休假#芯片制造芯片制造

臺(tái)芯片制造臺(tái)行業(yè)資訊
新知錄發(fā)布于 2022-10-26 14:33:46

蘋果大砍臺(tái)A16/15芯片訂單

臺(tái)行業(yè)資訊
電子發(fā)燒友網(wǎng)官方發(fā)布于 2022-11-02 11:44:19

SOC的可測(cè)試性設(shè)計(jì)策略

測(cè)試設(shè)計(jì)(DFT)是適應(yīng)集成電路的發(fā)展要求所出現(xiàn)的一種技術(shù),主要任務(wù)是對(duì)電路的結(jié)構(gòu)進(jìn)行調(diào)整,提高電路的可測(cè)性,即可控制性和可觀察性。
2012-04-27 11:11:593154

IA服務(wù)器測(cè)試技術(shù)的策略與方法

本節(jié)內(nèi)容主要是為了讓用戶快速了解服務(wù)器測(cè)試策略與方法,能夠用于選型測(cè)試中。在此僅僅以最重要的性能、內(nèi)存緩存性能、數(shù)據(jù)庫(kù)網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用輔以基本對(duì)比測(cè)試來(lái)考察不同服務(wù)器間的
2012-06-14 17:34:411128

基于1553B總線的BU-61580芯片測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

BU-61580芯片測(cè)試系統(tǒng)用于檢測(cè)DDC公司的BU-61580系列芯片的總線協(xié)議功能和電氣特性,篩選失效芯片,并具備芯片接口時(shí)序調(diào)整功能,可檢驗(yàn)芯片在不同的接口環(huán)境和工作方式下的特殊表現(xiàn)
2013-03-04 16:10:35123

#臺(tái) #冷戰(zhàn) 臺(tái)張忠謀回母校演講稱:應(yīng)避免冷戰(zhàn)

臺(tái)行業(yè)資訊
深圳市浮思特科技有限公司發(fā)布于 2023-10-26 17:17:08

ANDK測(cè)試座之RF射頻芯片測(cè)試

國(guó)家戰(zhàn)略調(diào)整政策的實(shí)施,越來(lái)越多的資源投入到射頻組件和芯片的開發(fā)和生產(chǎn)中。在這個(gè)過程中,在中國(guó),迫切需要滿足RF芯片的生產(chǎn)測(cè)試。 測(cè)試中的困難是: 1.被測(cè)設(shè)備越來(lái)越小,測(cè)試頻率越來(lái)越高。許多設(shè)備的尺寸小于1mm。測(cè)試頻率高于
2020-05-06 15:50:093734

芯片測(cè)試流程 芯片測(cè)試價(jià)格

集成電路芯片測(cè)試(ICtest)分類包括:分為晶圓測(cè)試(wafertest)、芯片測(cè)試(chiptest)和封裝測(cè)試(packagetest)。
2021-07-14 14:31:239715

嵌入式軟件接口怎么測(cè)試,嵌入式系統(tǒng)接口測(cè)試策略.doc

樓宇對(duì)講系統(tǒng)DH-T90,從測(cè)試環(huán)境描述、測(cè)試用例篩選、回歸策略選擇等一系列方法步驟,較系統(tǒng)的說明一種制定智能樓宇對(duì)講系統(tǒng)接口測(cè)試的規(guī)劃策略,從而優(yōu)化嵌入式系統(tǒng)的接口測(cè)試,規(guī)范了測(cè)試風(fēng)險(xiǎn),并提升了測(cè)試效率...
2021-10-20 19:06:0813

如何區(qū)分芯片CP測(cè)試和FT測(cè)試

從工序角度上看,似乎非常容易區(qū)分cp測(cè)試和ft測(cè)試,沒有必要再做區(qū)分,而且有人會(huì)問,封裝前已經(jīng)做過測(cè)試把壞的芯片篩選出來(lái)了,封裝后為什么還要進(jìn)行一次測(cè)試呢?難道是封裝完成度不高影響了芯片的動(dòng)能嗎?不是的,因?yàn)閺?b class="flag-6" style="color: red">測(cè)試內(nèi)容上看,cp測(cè)試和ft測(cè)試有著非常明顯的不同。
2022-08-09 17:29:135715

芯片測(cè)試測(cè)試方法有哪些?

芯片從設(shè)計(jì)到成品有幾個(gè)重要環(huán)節(jié),分別是設(shè)計(jì)->流片->封裝->測(cè)試,但芯片成本構(gòu)成的比例確大不相同,一般為人力成本20%,流片40%,封裝35%,測(cè)試5%。測(cè)試芯片各個(gè)環(huán)節(jié)中最
2023-05-22 08:58:331850

芯片測(cè)試的功能介紹

芯片測(cè)試座,又稱為芯片測(cè)試插座,是一種專門用于測(cè)試芯片的設(shè)備。它通常包括一個(gè)底座和一個(gè)插頭,是一種連接芯片測(cè)試儀器或其他設(shè)備的接口。
2023-06-07 14:14:00426

芯片中的CP測(cè)試是什么?

芯片中的CP測(cè)試是什么?讓凱智通小編來(lái)為您解答~ ★芯片中的CP一般指的是CP測(cè)試,也就是晶圓測(cè)試(Chip Probing)。 一、CP測(cè)試是什么? CP測(cè)試在整個(gè)芯片制作流程中處于晶圓制造和封裝
2023-06-10 15:51:493373

FP7122內(nèi)置MOS共陽(yáng)極恒流調(diào)光芯片待機(jī)功耗測(cè)試EMC策略

FP7122內(nèi)置MOS共陽(yáng)極恒流調(diào)光芯片待機(jī)功耗測(cè)試EMC策略
2021-12-14 00:26:271158

SOME/IP與DDS對(duì)比及DDS測(cè)試策略和方案探討

本文對(duì)DDS以及基于DDS的SOA系統(tǒng)的測(cè)試策略進(jìn)行探討,并介紹DDS測(cè)試方案。
2022-08-04 14:52:041326

芯片測(cè)試座的分類和選擇

芯片測(cè)試中,分類和選擇是關(guān)鍵的步驟,以確保芯片的質(zhì)量和可靠性。根據(jù)不同的測(cè)試目標(biāo)和要求,可以采用不同的分類方法和選擇策略。
2023-06-30 13:50:22478

芯片測(cè)試座在IC芯片測(cè)試中的作用

在IC芯片測(cè)試中,芯片測(cè)試座起著至關(guān)重要的作用。它是連接芯片測(cè)試設(shè)備的關(guān)鍵橋梁,為芯片提供測(cè)試所需的電流和信號(hào)。
2023-07-25 14:02:50632

ic自動(dòng)化測(cè)試之電源芯片負(fù)載調(diào)整率的測(cè)試原理和測(cè)試方法

測(cè)試電源芯片的負(fù)載調(diào)整率時(shí)我們可以使用ATECLOUD-IC芯片測(cè)試系統(tǒng)通過軟件控制電源給芯片供電輸入,讓芯片處于工作狀態(tài),之后給芯片的輸出端加載輸出電流,控制電子負(fù)載步進(jìn)輸出電流讓其從0逐步增大
2023-09-18 16:37:17873

什么是芯片測(cè)試座?芯片測(cè)試座的選擇和使用

芯片測(cè)試座,又稱為IC測(cè)試座、芯片測(cè)試夾具或DUT夾具,是一種用于測(cè)試集成電路(IC)或其他各種類型的半導(dǎo)體器件的設(shè)備。它為芯片提供了一個(gè)穩(wěn)定的物理和電氣接口,使得在不造成芯片測(cè)試設(shè)備損傷的情況下
2023-10-07 09:29:44811

常規(guī)開關(guān)電源測(cè)試規(guī)范之負(fù)載調(diào)整測(cè)試

負(fù)載調(diào)整率是用來(lái)描述在額定電壓下負(fù)載電流從0變化到最大時(shí),輸出電壓相應(yīng)的變化情況。它是衡量電源芯片好壞的重要指標(biāo),因此負(fù)載調(diào)整測(cè)試是必不可少的環(huán)節(jié)。那么要如何測(cè)試電源芯片負(fù)載調(diào)整率呢?有哪些測(cè)試規(guī)范呢?
2023-10-20 15:32:55393

芯片電源電流測(cè)試方法是什么?有什么測(cè)試條件?

芯片電源電流測(cè)試是為了測(cè)試S.M.P.S.的輸入電流有效值INPUT CURRENT。電流測(cè)試芯片電源測(cè)試的項(xiàng)目之一,用來(lái)檢測(cè)電路或設(shè)備的電流負(fù)載是否正常,保證其正常工作防止過載,評(píng)估芯片電源的電氣特性。
2023-10-25 16:54:54620

芯片電學(xué)測(cè)試是什么?都有哪些測(cè)試參數(shù)?

電學(xué)測(cè)試芯片測(cè)試的一個(gè)重要環(huán)節(jié),用來(lái)描述和評(píng)估芯片的電性能、穩(wěn)定性和可靠性。芯片電學(xué)測(cè)試包括直流參數(shù)測(cè)試、交流參數(shù)測(cè)試和高速數(shù)字信號(hào)性能測(cè)試等。
2023-10-26 15:34:14629

如何測(cè)試電源芯片負(fù)載調(diào)整率呢?有哪些測(cè)試規(guī)范呢?

如何測(cè)試電源芯片負(fù)載調(diào)整率呢?有哪些測(cè)試規(guī)范呢? 電源芯片的負(fù)載調(diào)整率是指電源芯片在負(fù)載變化時(shí),輸出電壓的調(diào)整速度。測(cè)試電源芯片的負(fù)載調(diào)整率是非常重要的,它能夠評(píng)估電源芯片在實(shí)際使用中對(duì)負(fù)載變化
2023-11-09 15:30:46633

電壓調(diào)整率是什么?電壓調(diào)整測(cè)試方法

電壓調(diào)整率是什么?電壓調(diào)整測(cè)試方法 電壓調(diào)整率是指電源在負(fù)載突變時(shí),輸出電壓由不穩(wěn)定狀態(tài)恢復(fù)到穩(wěn)定狀態(tài)所需的時(shí)間。電源的電壓調(diào)整率是評(píng)估其響應(yīng)速度和穩(wěn)定性的重要指標(biāo),對(duì)于保證電源的正常工作和負(fù)載
2023-11-10 15:26:201586

如何用集成電路芯片測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試芯片老化?

如何用集成電路芯片測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試芯片老化? 集成電路芯片老化測(cè)試系統(tǒng)是一種用于評(píng)估芯片長(zhǎng)期使用后性能穩(wěn)定性的測(cè)試設(shè)備。隨著科技的進(jìn)步和電子產(chǎn)品的廣泛應(yīng)用,人們對(duì)芯片的可靠性要求日益增高,因此老化測(cè)試
2023-11-10 15:29:05680

已全部加載完成