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標(biāo)簽 > ate
ATE是Automatic Test Equipment的縮寫(xiě)，于半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)意指集成電路（IC）自動(dòng)測(cè)試機(jī)，用于檢測(cè)集成電路功能之完整性， 為集成電路生產(chǎn)制造之最后流程， 以確保集成電路生產(chǎn)制造之品質(zhì)。
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ATE自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)是什么_ATE自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)介紹
本文首先介紹了ATE自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)發(fā)展線路，其次闡述了ATE自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的作用及原理、特點(diǎn)、優(yōu)勢(shì)，最后介紹了ATE自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的功能、功能平臺(tái)及使用領(lǐng)域。
2018-05-23 標(biāo)簽：ate自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng) 3.3萬(wàn) 0
在IC的測(cè)試中，電壓的測(cè)試是所有測(cè)試參數(shù)中最為常見(jiàn)的一種參數(shù)，尤其是模擬芯片的測(cè)試，電壓測(cè)試更顯常見(jiàn)及重要，如：LDO、LED驅(qū)動(dòng)、音頻功放、運(yùn)放、馬達(dá)...
2017-10-27 標(biāo)簽：繼電器ateic測(cè)試技術(shù) 1.9萬(wàn) 0
對(duì)于ATE測(cè)試儀器儀表，典型測(cè)試設(shè)備系統(tǒng)設(shè)計(jì)
由于待測(cè)器件（DUT）的復(fù)雜性提高，通道/引腳數(shù)量和功能增加，因而測(cè)試類型和所需測(cè)試數(shù)量也隨之增加。并且每個(gè)器件評(píng)估需要進(jìn)行數(shù)百項(xiàng)測(cè)試，特別是在自動(dòng)測(cè)試...
2018-07-16 標(biāo)簽：測(cè)試測(cè)量adiMEMS 1.6萬(wàn) 0
如何獲取除了數(shù)據(jù)手冊(cè)以外的ADC芯片數(shù)據(jù)
設(shè)計(jì)中選擇高分辨率ADC時(shí)，經(jīng)常需要了解一些數(shù)據(jù)手冊(cè)中通常可能不會(huì)公布的特性數(shù)據(jù)，例如，全部代碼范圍內(nèi)的轉(zhuǎn)換器噪聲性能。在數(shù)據(jù)手冊(cè)中，您不一定能找到這一...
Microchip的53100A相位噪聲分析儀是一種非常高質(zhì)量和高性能的工具（圖1），可以測(cè)量射頻源的幅度，相位和頻率穩(wěn)定性。它的測(cè)量范圍很寬，介于1 ...
聊聊IC測(cè)試機(jī)（1）ATE/ATS內(nèi)部結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)介
ATE(Auto Test Equipment) 在測(cè)試工廠完成. 大致是給芯片的輸入管道施加所需的激勵(lì)信號(hào)，同時(shí)監(jiān)測(cè)芯片的輸出管腳，看其輸出信號(hào)是否是...
半導(dǎo)體測(cè)試行業(yè)的相關(guān)術(shù)語(yǔ)
ATE = Automatic Test Equipment. 是自動(dòng)化測(cè)試設(shè)的縮寫(xiě)，于半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)意指集成電路(IC)自動(dòng)測(cè)試機(jī)， 用于檢測(cè)集成電路功能...
2022-11-01 標(biāo)簽：半導(dǎo)體ATE測(cè)試設(shè)備 5318 0
自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)系統(tǒng)中選擇器件電源(DPS)IC的指南
器件電源(DPS) IC具有靈活的電壓驅(qū)動(dòng)和電流驅(qū)動(dòng)容量，能夠?yàn)樽詣?dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)提供動(dòng)態(tài)測(cè)試能力。當(dāng)負(fù)載電流介于兩個(gè)設(shè)定限流值之間時(shí)，DPS IC...
測(cè)試向量及其生成 測(cè)試向量（Test Vector）的一個(gè)基本定義是：測(cè)試向量是每個(gè)時(shí)鐘周期應(yīng)用于器件管腳的用于測(cè)試或者操作的邏輯1和邏輯0數(shù)據(jù)。 這一...
聊聊IC測(cè)試機(jī)（4）DFT PLL向量，ATE怎么用？
自動(dòng)測(cè)試設(shè)備 (ATE)對(duì)PLL（鎖相環(huán)）進(jìn)行測(cè)試時(shí)，我們首先要明白PLL在系統(tǒng)級(jí)芯片（SoC）中的重要性。
自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)系統(tǒng)中的示波器需求
在測(cè)試電子器件時(shí)，很難不提到示波器所具有的通用性。為了對(duì)電子電路進(jìn)行驗(yàn)證，工程師需要能夠查看和測(cè)量其設(shè)計(jì)中的信號(hào)。自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE）通常不提供大量可...
半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備主要包括三類：ATE、探針臺(tái)、分選機(jī)。其中測(cè)試功能由測(cè)試機(jī)實(shí)現(xiàn)，而探針臺(tái)和分選機(jī)實(shí)現(xiàn)的則是機(jī)械功能，將被測(cè)晶圓/芯片揀選至測(cè)試機(jī)進(jìn)行檢測(cè)。
2023-12-04 標(biāo)簽：芯片測(cè)試ATE測(cè)試機(jī) 2841 0
聊聊IC測(cè)試機(jī)（3）基于ATE的IC測(cè)試原理、方法及故障分析
本文以ATE為基礎(chǔ)，討論了 集成電路測(cè)試的基本原理和測(cè)試方法，并進(jìn)行了故 障分析.
ATEstar通用測(cè)試平臺(tái)管理系統(tǒng)
采用通用性和多線程的設(shè)計(jì)思想，研制一種通用測(cè)試平臺(tái)管理系統(tǒng)，具體實(shí)現(xiàn)分為配置和運(yùn)行兩大部分。配置包括數(shù)據(jù)輸入定義和顯示存儲(chǔ)定義等功能。運(yùn)行根據(jù)配置參數(shù)按...
2018-05-23 標(biāo)簽：ate 2658 0
噪聲指數(shù)（Noise Figure）主要測(cè)量的是組件的信噪比（Signal-to-noise Ratio， SNR）性能，信噪比是誤碼率（BER）和載波...
2018-05-23 標(biāo)簽：ate 2533 0
ATE系統(tǒng)助力多維度打造穩(wěn)定高效的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備
多維度入手打造穩(wěn)定高效的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備，迎接集成電路融合時(shí)代的機(jī)遇與挑戰(zhàn) 5G、人工智能、新能源等新技術(shù)的成熟驅(qū)動(dòng)各行業(yè)加速數(shù)字化轉(zhuǎn)型落地，從而持續(xù)推動(dòng)全...
2022-07-04 標(biāo)簽：集成電路自動(dòng)測(cè)試ATE 2448 1
IC測(cè)試主要的目的是將合格的芯片與不合格的芯片區(qū)分開(kāi)，保證產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。隨著集成電路的飛速發(fā)展，其規(guī)模越來(lái)越大，對(duì)電路的質(zhì)量與可靠性要求進(jìn)一步提高...
ATE/ATS內(nèi)部結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)介
ATE/ATS：自動(dòng)測(cè)試設(shè)備/自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，也稱測(cè)試機(jī)是測(cè)試工程師在IC測(cè)試中必須使用的工具，本文主要從技術(shù)層面對(duì)ATE/ATS的組成及軟硬件及其接口要...
DFT全稱為Design for Test，可測(cè)性設(shè)計(jì)。就是說(shuō)我們?cè)O(shè)計(jì)好一個(gè)芯片后，在仿真時(shí)可能99%的用例都通過(guò)了，怎么保證流片出來(lái)的實(shí)際芯片也能正常工作呢？
預(yù)算有限的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備
電子設(shè)備測(cè)試的復(fù)雜性差異很大，從最簡(jiǎn)單的類型（手動(dòng)測(cè)試）到最復(fù)雜的大型自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE）。在簡(jiǎn)單的手動(dòng)測(cè)試和大規(guī)模ATE之間，是低預(yù)算和中等規(guī)模的測(cè)...
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