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標(biāo)簽 > ate
ATE是Automatic Test Equipment的縮寫(xiě)，于半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)意指集成電路（IC）自動(dòng)測(cè)試機(jī)，用于檢測(cè)集成電路功能之完整性， 為集成電路生產(chǎn)制造之最后流程， 以確保集成電路生產(chǎn)制造之品質(zhì)。
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在集成電路（IC）制造領(lǐng)域，測(cè)試環(huán)節(jié)是確保芯片性能和可靠性的重要步驟。然而，測(cè)試過(guò)程往往伴隨著高昂的成本和復(fù)雜的設(shè)備需求。本文將探討如何通過(guò)優(yōu)化接口電路...
2025-04-07 標(biāo)簽：繼電器測(cè)試測(cè)量芯片測(cè)試 845 0
高頻干簧繼電器：網(wǎng)絡(luò)分析儀的高效“搭檔”
無(wú)論是用于測(cè)量模擬連續(xù)波高頻的特性，還是快速數(shù)字脈沖的上升和下降時(shí)間，網(wǎng)絡(luò)分析儀已成為射頻領(lǐng)域不可或缺的工具。隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步，傳統(tǒng)的電磁繼電器已逐漸...
2025-04-02 標(biāo)簽：繼電器測(cè)試測(cè)量網(wǎng)絡(luò)分析儀 996 0
大功率自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備 (ATE) 系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)為測(cè)試工程師帶來(lái)了眾多挑戰(zhàn)。但測(cè)試是必要的，它能夠確保產(chǎn)品的安全性以及產(chǎn)品達(dá)到所發(fā)布的性能規(guī)格。
2025-03-31 標(biāo)簽：測(cè)試系統(tǒng)ATE測(cè)試設(shè)備 826 0
01項(xiàng)目概述為海軍ATE測(cè)試設(shè)備開(kāi)發(fā)海量互連V25通用測(cè)試接口，提升測(cè)試系統(tǒng)的通用性、可移植性和維護(hù)效率。核心思想：從“面向儀器”轉(zhuǎn)向“面向信號(hào)”，通過(guò)...
2025-03-21 標(biāo)簽：接口ATE測(cè)試設(shè)備 323 0
電纜線束是電子系統(tǒng)的核心組件，通常由多根鍍銅線組成，連接到不同位置，總長(zhǎng)度可達(dá)數(shù)千米。然而，在制造過(guò)程中，這些銅線可能會(huì)因刮擦、扭曲、打結(jié)或部分割斷而產(chǎn)...
2025-03-11 標(biāo)簽：測(cè)試測(cè)量自動(dòng)測(cè)試ATE 506 0
產(chǎn)品應(yīng)用方案｜士模八通道同步采樣ADC（CM2248)在ATE設(shè)備中的應(yīng)用
CM2248具有集成度高，92dB SNR高信噪比，-105dB高THD等優(yōu)勢(shì)；使得它非常適合應(yīng)用于ATE設(shè)備中各類信號(hào)的高精度回采。同時(shí)，CM2248...
2025-03-06 標(biāo)簽：adc模數(shù)轉(zhuǎn)換器ATE 390 0
干簧繼電器：工業(yè)數(shù)據(jù)采集的可靠之選
在工業(yè)環(huán)境中，數(shù)據(jù)采集是一項(xiàng)充滿挑戰(zhàn)的任務(wù)。傳感器（如熱電偶）通常輸出微弱的電壓信號(hào)，且往往位于偏遠(yuǎn)位置。將這些信號(hào)完整無(wú)損地傳輸?shù)街飨到y(tǒng)進(jìn)行放大、存儲(chǔ)...
2025-03-03 標(biāo)簽：測(cè)試測(cè)量數(shù)據(jù)采集ATE 833 0
采用系統(tǒng)級(jí)模塊方法簡(jiǎn)化精密阻抗分析儀的設(shè)計(jì)
作者：Kenton Williston 投稿人：DigiKey 北美編輯 許多應(yīng)用都要求準(zhǔn)確的阻抗測(cè)量，這些應(yīng)用包括觸摸屏校準(zhǔn)、半導(dǎo)體表征、晶圓驗(yàn)收和電...
干簧繼電器：高端萬(wàn)用表如何輕松應(yīng)對(duì)高低壓測(cè)量挑戰(zhàn)？
隨著電子設(shè)備和系統(tǒng)對(duì)電壓和電流測(cè)量的需求的日益增長(zhǎng)。這些測(cè)量需要覆蓋多個(gè)量級(jí)，從納伏到千伏，從飛安到高安培。僅靠單一儀器實(shí)現(xiàn)如此廣泛的測(cè)量范圍幾乎是不可...
2025-01-20 標(biāo)簽：萬(wàn)用表測(cè)試測(cè)量ATE 751 0
一、測(cè)試程序的基本概念測(cè)試程序，即被ATE（AutomaticTestEquipment，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備）識(shí)別和執(zhí)行的指令集，是集成電路測(cè)試的核心。測(cè)試程...
IC測(cè)試主要的目的是將合格的芯片與不合格的芯片區(qū)分開(kāi)，保證產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。隨著集成電路的飛速發(fā)展，其規(guī)模越來(lái)越大，對(duì)電路的質(zhì)量與可靠性要求進(jìn)一步提高...
OM3多模光纖（Multi-ModeFiber），屬于OM系列光纖中的一種。光纖芯直徑通常為50μm，包層直徑為125μm。具有低色散和激光優(yōu)化的性能特...
2024-08-30 標(biāo)簽：光纖ATE測(cè)試設(shè)備 537 0
如何選擇和應(yīng)用機(jī)電繼電器實(shí)現(xiàn)多功能且可靠的信號(hào)切換
作者：Bill Schweber 投稿人：DigiKey 北美編輯 2024-08-20 電信和網(wǎng)絡(luò)設(shè)備、自動(dòng)測(cè)試設(shè)備 (ATE) 和安全設(shè)備等應(yīng)用越來(lái)...
DFT全稱為Design for Test，可測(cè)性設(shè)計(jì)。就是說(shuō)我們?cè)O(shè)計(jì)好一個(gè)芯片后，在仿真時(shí)可能99%的用例都通過(guò)了，怎么保證流片出來(lái)的實(shí)際芯片也能正常工作呢？
半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備主要包括三類：ATE、探針臺(tái)、分選機(jī)。其中測(cè)試功能由測(cè)試機(jī)實(shí)現(xiàn)，而探針臺(tái)和分選機(jī)實(shí)現(xiàn)的則是機(jī)械功能，將被測(cè)晶圓/芯片揀選至測(cè)試機(jī)進(jìn)行檢測(cè)。
2023-12-04 標(biāo)簽：芯片測(cè)試ATE測(cè)試機(jī) 2848 0
作為一名測(cè)試工程師，你的工作并不容易。降低成本和提高系統(tǒng)吞吐量的壓力一直存在。本文中，我們將討論影響系統(tǒng)吞吐量的關(guān)鍵因素以及如何降低ATE測(cè)試成本。
聊聊IC測(cè)試機(jī)（4）DFT PLL向量，ATE怎么用？
自動(dòng)測(cè)試設(shè)備 (ATE)對(duì)PLL（鎖相環(huán)）進(jìn)行測(cè)試時(shí)，我們首先要明白PLL在系統(tǒng)級(jí)芯片（SoC）中的重要性。
聊聊IC測(cè)試機(jī)（3）基于ATE的IC測(cè)試原理、方法及故障分析
本文以ATE為基礎(chǔ)，討論了 集成電路測(cè)試的基本原理和測(cè)試方法，并進(jìn)行了故 障分析.
聊聊IC測(cè)試機(jī)（1）ATE/ATS內(nèi)部結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)介
ATE(Auto Test Equipment) 在測(cè)試工廠完成. 大致是給芯片的輸入管道施加所需的激勵(lì)信號(hào)，同時(shí)監(jiān)測(cè)芯片的輸出管腳，看其輸出信號(hào)是否是...
兩種方法： 時(shí)域和頻域測(cè)試，如下： ?方法1. ATE time measurement unit （ TMU）測(cè)試。（時(shí)域，需要額外的TMU lice...
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