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標(biāo)簽 > 近場(chǎng)探頭
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使用近場(chǎng)探頭和電流探頭進(jìn)行EMI干擾排查
在開發(fā)電子產(chǎn)品的過程中,電磁干擾EMI(Electro Magnetic Interference)是工程師們MI)可能會(huì)導(dǎo)致許多問題,尤其是在產(chǎn)品開發(fā)...
近場(chǎng)探頭(Near-FieldProbe)它是一種用于測(cè)量近場(chǎng)電磁場(chǎng)的設(shè)備,可以檢測(cè)到微弱的近場(chǎng)信號(hào),廣泛應(yīng)用于近場(chǎng)通信、生物醫(yī)學(xué)成像、材料科學(xué)等領(lǐng)域。...
2023-10-18 標(biāo)簽:近場(chǎng)探頭 2213 0
解決電機(jī)控制器和BMS電磁干擾的重要環(huán)節(jié) 新能源汽車中,由于產(chǎn)品電壓高、電流大,電磁抗干擾(EMS)一般都不會(huì)有問題,而電磁干擾(EMI)問題是一個(gè)讓人...
2022-01-07 標(biāo)簽:頻譜分析儀近場(chǎng)探頭 2142 0
如何利用頻譜儀近場(chǎng)探頭進(jìn)行輻射預(yù)測(cè)?
在無(wú)線通信領(lǐng)域,輻射預(yù)測(cè)是一項(xiàng)非常重要的任務(wù)。通過對(duì)輻射場(chǎng)進(jìn)行精確的預(yù)測(cè),可以幫助我們優(yōu)化天線設(shè)計(jì)、改進(jìn)信號(hào)覆蓋和網(wǎng)絡(luò)計(jì)劃,從而提升通信質(zhì)量和用戶體驗(yàn)。...
2024-03-08 標(biāo)簽:頻譜儀近場(chǎng)探頭 1839 0
近場(chǎng)探頭:電場(chǎng)與磁場(chǎng)的全面解析
在電磁學(xué)領(lǐng)域中,近場(chǎng)探頭是一種重要的研究工具,其可以用來(lái)測(cè)量和探測(cè)物體周圍的電場(chǎng)和磁場(chǎng)。那么,近場(chǎng)探頭究竟是在探測(cè)電場(chǎng)還是磁場(chǎng)呢?讓我們一起來(lái)深入探討吧...
2023-12-08 標(biāo)簽:磁場(chǎng)電場(chǎng)近場(chǎng)探頭 1773 0
Rigol頻譜儀對(duì)于EMI的預(yù)兼容測(cè)試
電磁兼容性(EMC )是指設(shè)備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中符合要求運(yùn)行并不對(duì)其環(huán)境中的任何設(shè)備產(chǎn)生無(wú)法忍受的電磁干擾的能力。因此,EMC 包括電磁干擾(EMI)...
近場(chǎng)探頭是一種常用的工具,用于搭配頻譜儀來(lái)測(cè)量電磁輻射和輻射源的特性。本文將介紹如何使用近場(chǎng)探頭進(jìn)行輻射測(cè)量,并探討其在不同領(lǐng)域的應(yīng)用。了解近場(chǎng)探頭的工...
2024-04-01 標(biāo)簽:測(cè)量近場(chǎng)探頭 1540 0
近場(chǎng)探頭在測(cè)試中應(yīng)注意的問題
近場(chǎng)探頭是用于測(cè)試電磁波的一種測(cè)量設(shè)備,可以用于天線測(cè)試、無(wú)線電設(shè)備測(cè)試以及電磁兼容性測(cè)試等。在近場(chǎng)探頭的測(cè)試過程中,我們需要注意以下問題。
2023-04-12 標(biāo)簽:天線測(cè)試電磁波近場(chǎng)探頭 1460 0
rigol普源nfp-3近場(chǎng)探頭產(chǎn)品特性及其使用方法
NFP-3 近場(chǎng)探頭用于配合 RIGOL DSA 系列頻譜分析儀進(jìn)行電子產(chǎn)品的 EMI 測(cè)試,可用來(lái)檢測(cè)元器件表面的磁場(chǎng)強(qiáng)度、磁場(chǎng)耦合通道以及電子模塊附...
2024-03-04 標(biāo)簽:近場(chǎng)探頭 1412 0
近場(chǎng)探頭用來(lái)測(cè)試輻射還是傳導(dǎo)信號(hào)的?
近場(chǎng)探頭用來(lái)測(cè)試輻射還是傳導(dǎo)信號(hào)的? 近場(chǎng)探頭既可以用來(lái)測(cè)試輻射信號(hào),也可以用來(lái)測(cè)試傳導(dǎo)信號(hào)。下面將詳細(xì)介紹近場(chǎng)探頭的原理、應(yīng)用和測(cè)試方法。 1. 近場(chǎng)...
2024-01-08 標(biāo)簽:無(wú)線通信電磁場(chǎng)近場(chǎng)探頭 1316 0
使用近場(chǎng)探頭進(jìn)行EMC頻譜分析的方法與技巧
電磁兼容性(EMC)頻譜分析是確保電子設(shè)備在電磁環(huán)境中工作正常的關(guān)鍵步驟之一。近年來(lái),隨著電子設(shè)備復(fù)雜性的增加,對(duì)于EMC測(cè)試的需求也越來(lái)越高。本文將重...
2024-07-30 標(biāo)簽:頻譜分析emc近場(chǎng)探頭 1298 0
知用近場(chǎng)探頭在輻射干擾源定位測(cè)試的應(yīng)用
如果一個(gè)新產(chǎn)品在電磁干擾(EMI)預(yù)兼容測(cè)試或者標(biāo)準(zhǔn)兼容測(cè)試中失敗,進(jìn)行故障診斷和改進(jìn)是當(dāng)務(wù)之急。西安普科科技PRBTEK在經(jīng)過多方面選擇過程中,了解到...
2023-05-17 標(biāo)簽:emi輻射干擾近場(chǎng)探頭 1160 0
知用近場(chǎng)探頭在輻射干擾源定位測(cè)試的應(yīng)用
? ? ? ?如果一個(gè)新產(chǎn)品在電磁干擾(EMI)預(yù)兼容測(cè)試或者標(biāo)準(zhǔn)兼容測(cè)試中失敗,進(jìn)行故障診斷和改進(jìn)是當(dāng)務(wù)之急。西安普科科技PRBTEK在經(jīng)過多方面選擇...
2021-10-29 標(biāo)簽:電磁干擾探頭近場(chǎng)探頭 1026 0
知用近場(chǎng)探頭在輻射干擾源定位測(cè)試的應(yīng)用
如果一個(gè)新產(chǎn)品在電磁干擾(EMI)預(yù)兼容測(cè)試或者標(biāo)準(zhǔn)兼容測(cè)試中失敗,進(jìn)行故障診斷和改進(jìn)是當(dāng)務(wù)之急。西安普科科技PRBTEK在經(jīng)過多方面選擇過程中,了解到...
2021-10-25 標(biāo)簽:接收機(jī)干擾源近場(chǎng)探頭 1015 0
普源近場(chǎng)探頭和頻譜分析儀用于開關(guān)電源的EMI檢測(cè)
某國(guó)內(nèi)知名的LED顯示屏與照明解決方案提供商,近期計(jì)劃對(duì)其電源模塊進(jìn)行電磁干擾(EMI)檢測(cè)。為了確保檢測(cè)的準(zhǔn)確性和效率,他們尋求專業(yè)建議,希望我們能推...
2024-08-12 標(biāo)簽:開關(guān)電源emi頻譜分析儀 907 0
AARONIA安諾尼近場(chǎng)探頭套裝PBS1(DC-9GHz)產(chǎn)品介紹
德國(guó)安諾尼近場(chǎng)探頭套裝PBS1(DC-9GHz)適用于所有頻譜分析儀或示波器,EMC干擾源定位頻率高至9GHz。該套包括5個(gè)探頭:4個(gè)磁場(chǎng)探頭和1個(gè)電場(chǎng)...
近場(chǎng)探頭在EMI電磁預(yù)兼容測(cè)試的應(yīng)用案例
隨著電子產(chǎn)品的不斷發(fā)展,電磁兼容性測(cè)試(EMC)已成為電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)與生產(chǎn)過程中的重要環(huán)節(jié)。其中,電磁干擾(EMI)測(cè)試是EMC測(cè)試的重要組成部分。EMI...
2024-05-30 標(biāo)簽:emi近場(chǎng)探頭兼容測(cè)試 836 0
知用CYBERTEK近場(chǎng)探頭EM5030E的特征及其應(yīng)用
EM5030/EM5030LF 系列探頭組包含了 7 個(gè)專門用來(lái)測(cè)試磁場(chǎng)(H)探頭,它有效地屏蔽了電場(chǎng)干擾(E),主要用于電磁兼容整改時(shí)定位干擾源的近場(chǎng)...
2024-02-29 標(biāo)簽:近場(chǎng)探頭 813 0
知用EM5020B與EM5020A放大器的對(duì)比優(yōu)勢(shì)?
EM5020前置射頻放大器配合本公司EM5030近場(chǎng)探頭使用,主要對(duì)所要測(cè)試的微弱信號(hào)進(jìn)行放大, 頻率范圍9kHz-3GHz;EM5020A增益約為20...
2024-08-16 標(biāo)簽:放大器近場(chǎng)探頭 726 0
近場(chǎng)探頭是一種用于測(cè)量電磁場(chǎng)的傳感器,它通常用于接近電路或設(shè)備,以監(jiān)測(cè)和分析電磁輻射和干擾。近場(chǎng)探頭可以測(cè)量電場(chǎng)、磁場(chǎng)和輻射功率等參數(shù),但是否可以測(cè)量電...
2024-06-07 標(biāo)簽:近場(chǎng)探頭 545 0
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